一种三坐标测量方法及装置制造方法及图纸

技术编号:8530533 阅读:180 留言:0更新日期:2013-04-04 12:26
本发明专利技术涉及一种三坐标测量方法及装置,包括以下步骤:步骤1:在三坐标测量模块中,根据待测物体的坐标信息创建坐标测量文件,并利用坐标测量文件套取待测物体的特征的理论值;步骤2:在三坐标测量模块中,根据待测物体的形状信息创建特征测量文件,特征测量文件根据待测物体的坐标值来测量待测物体的特征,得到特征的实测值;步骤3:删除坐标测量文件;步骤4:将特征的理论值与实测值对比,根据偏差的大小,判断待测物体是否合格。本发明专利技术在测量时既能够取得正确的理论值,也能够得到实测值。使检具上的检测销、孔与数据模型上相应位置的孔形状不同时,由无法测量变得能够准确测量,扩大了测量范围,提高了测量的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及三坐标测量
,特别涉及一种三坐标测量方法及装置
技术介绍
在日常的检具标定过程中,经常需要用零件数模来标定检具上的划线孔、划线销、检测孔、检测销。当检具上的孔、销与数模上相应位置的孔形状不同时(例如在检具上是圆孔、圆柱,而在零件数模上却是方槽、圆槽或者椭圆等),就无法进行测量了。如果非要进行测量的话只有两种方法。一是按检具上的特征来测量。这样无法通过创建程序取得正确的理论值。如果通过测量自动从数模上取得理论值,因形状不同得到的理论值也一定不准确。测量没有意义。二是按数模上的特征来测量。先创建程序再执行。这样虽然能够得到正确的理论值,但是因为检具上是个孔或柱,无法测成方槽、圆槽或者椭圆等,得不到实测值。测量也无法进行。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种能够在待测物体的形状与数据模型上的形状不同时,能够准确获得理论值和实测值的方法及装置。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下一种三坐标测量方法,包括以下步骤步骤1:在三坐标测量模块中,根据待测物体的坐标信息创建坐标测量文件,并利用坐标测量文件套取待测物体的特征的理论值;步骤2 :在三坐标测量模块中,根据待测物体的形状信息创建特征测量文件,特征测量文件根据待测物体的坐标值来测量待测物体的特征,得到特征的实测值;步骤3 :删除坐标测量文件;步骤4:将特征的理论值与实测值对比,根据偏差的大小,判断待测物体是否合格。本专利技术的有益效果是利用套取的待测物体的特征的理论值,进一步测量待测物体的特征的实测值,使无法测量变成精确测量,提高了测量精度,扩大了三坐标测量的适用范围。在上述技术方案的基础上,本专利技术还可以做如下改进。进一步,所述待测物体的特征在同一平面上,特征中心点的坐标值相同。采用上述进一步方案的有益效果是中心点的坐标值相同,有利于获得正确的理论值。一种三坐标测量装置,其特征在于包括套取理论值模块,获取实测值模块,删除模块和对比模块;所述套取理论值模块,用于在三坐标测量模块中,根据待测物体的坐标信息创建坐标测量文件,并利用坐标测量文件套取待测物体的特征的理论值;所述获取实测值模块,用于在三坐标测量模块中,根据待测物体的形状信息创建特征测量文件,特征测量文件根据所述套取理论值模块套取的待测物体的坐标值来测量待测物体的特征,得到特征的实测值;所述删除模块,用于删除套取理论值模块创建的坐标测量文件;所述对比模块,用于将套取理论值模块套取的特征的理论值与获取实测值模块测得的特征的实测值对比,根据偏差的大小,判断待测物体是否合格。采用上述进一步方案的有益效果是利用套取的待测物体的特征的理论值,进一步测量待测物体的特征的实测值,使无法测量变成精确测量,提高了测量精度,扩大了三坐标测量的适用范围。进一步,所述待测物体的特征在同一平面上,特征中心点的坐标值相同。采用上述进一步方案的有益效果是中心点的坐标值相同,有利于获得正确的理论值。附图说明图1为本专利技术方法步骤流程图;图2为本专利技术装置结构图。附图中,各标号所代表的部件列表如下1、套取理论值模块,2、获取实测值模块,3、删除模块,4、对比模块。具体实施例方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本专利技术,并非用于限定本专利技术的范围。如图1所示,为本专利技术方法步骤流程图,图2为本专利技术装置结构图。实施例1一种三坐标测量方法,包括以下步骤步骤1:在三坐标测量模块中,根据待测物体的坐标信息创建坐标测量文件,并利用坐标测量文件套取待测物体的特征的理论值;步骤2 :在三坐标测量模块中,根据待测物体的形状信息创建特征测量文件,特征测量文件根据待测物体的坐标值来测量待测物体的特征,得到特征的实测值;步骤3 :删除坐标测量文件;步骤4:将特征的理论值与实测值对比,根据偏差的大小,判断待测物体是否合格。所述待测物体的特征在同一平面上,特征中心点的坐标值相同。在具体实施此方法时包括以下步骤步骤1:根据数模上特征的形状,点击相应的自动测量图标后,再用鼠标在数模上的待测特征上点击,使理论坐标X、Y、Z值和矢量方向1、J、K值读入,创建测量程序不测量,套取到特征的理论值;步骤2 :根据待测物体的形状,点击自动测量圆图标,弹出自动测量对话框,此时上一步中套取的理论坐标X、Y、Z值和矢量方向1、J、K值已自动读入。创建自动测量圆程序并执行,通过测量得到特征的实测值;步骤3 :删除第一步中创建的测量程序;步骤4:评价第二步中测量的圆的位置度,通过理论值与实测值的偏差来判断待测物体是否合格。一种三坐标测量装置,包括套取理论值模块I,获取实测值模块2,删除模块3和对比模块4 ;所述套取理论值模块I,用于在三坐标测量模块中,根据待测物体的坐标信息创建坐标测量文件,并利用坐标测量文件套取待测物体的特征的理论值;所述获取实测值模块2,用于在三坐标测量模块中,根据待测物体的形状信息创建特征测量文件,特征测量文件根据所述套取理论值模块I套取的待测物体的坐标值来测量待测物体的特征,得到特征的实测值;所述删除模块3,用于删除套取理论值模块I创建的坐标测量文件;所述对比模块4,用于将套取理论值模块套取的特征的理论值与获取实测值模块2测得的特征的实测值对比,根据偏差的大小,判断待测物体是否合格。所述待测物体的特征在同一平面上,特征中心点的坐标值相同。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例,并不用以限制本专利技术,凡在本专利技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三坐标测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:在三坐标测量模块中,根据待测物体的坐标信息创建坐标测量文件,并利用坐标测量文件套取待测物体的特征的理论值;步骤2:在三坐标测量模块中,根据待测物体的形状信息创建特征测量文件,特征测量文件根据待测物体的特征的理论值来测量待测物体的特征,得到特征的实测值;步骤3:删除坐标测量文件;步骤4:将特征的理论值与实测值对比,根据偏差的大小,判断待测物体是否合格。

【技术特征摘要】
1.一种三坐标测量方法,其特征在于,包括以下步骤 步骤1:在三坐标测量模块中,根据待测物体的坐标信息创建坐标测量文件,并利用坐标测量文件套取待测物体的特征的理论值; 步骤2 :在三坐标测量模块中,根据待测物体的形状信息创建特征测量文件,特征测量文件根据待测物体的特征的理论值来测量待测物体的特征,得到特征的实测值; 步骤3 :删除坐标测量文件; 步骤4 :将特征的理论值与实测值对比,根据偏差的大小,判断待测物体是否合格。2.根据权利要求1所述的三坐标测量方法,其特征在于所述待测物体的特征在同一平面上,特征中心点的坐标值相同。3.—种三坐标测量装置,其特征在于包括套取理论值模块(1),获取实测值模块(2),删除模块(3)和对比模块(4); 所...

【专利技术属性】
技术研发人员:辛树珍
申请(专利权)人:山东捷众汽车零部件有限公司
类型:发明
国别省市:

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