电阻抗测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电阻抗测量装置，其在对构成三角形电路的第一至第三电阻抗元件中的第一电阻抗元件的电阻抗测量中，将在第二电阻抗元件与第三电阻抗元件之间流过的电流抑制为零，并能够准确地测量出第一电阻抗元件的电阻抗。该电阻抗测量装置具备运算放大器（34），该运算放大器（34）包括：与第二导电路L2电连接的输出端子以及反相输入端子、以及与规定的基准电位（例如接地电位）电连接的同相输入端子。然后，一面将第一电阻抗元件Z1与第二电阻抗元件Z2之间的第一导电路L1的电位以及第二电阻抗元件Z2与第三电阻抗元件Z3之间的第二导电路L2的电位感应成基准电位，一面测量第一电阻抗元件Z1的电阻抗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电阻抗测量装置。
技术介绍
参照图4，该图4所示的现有的电阻抗测量装置，是测量构成三角形电路的第一至第三电阻抗元件Zl Z3中的第一电阻抗元件Zl的电阻抗的装置。将对于第一电阻抗元件Zl与第二电阻抗元件Z2进行电连接的第一导电路LI的电位以及对于第二电阻抗元件Z2与第三电阻抗元件Z3进行电连接的第二导电路L2的电位感应成基准电位(在图4的例子中为接地电位)，并测量第一电阻抗元件Zl的电阻抗。将第一以及第二导电路L1、L2的电位感应成基准电位即接地电位是为了防止电流流到第二电阻抗元件Z2，以便避免在测量电阻抗时对第一电阻抗元件Zl的电阻抗测量造成影响。使用电位感应电路11将第一导电路LI的电位感应成接地电位。电位感应电路11具备比较器111以及可变电源部112。比较器111的正侧输入端子经由接触销Pl与第一导电路LI电连接，其负侧输入端子与作为基准电位的接地电位电连接。从比较器111的输出端子输出的输出信号被当作控制信号输入到可变电源部112。可变电源部112根据比较器111的输出信号来改变经由2个输出端子输出的电流。可变电源部112的2个输出端子中的一个经由接触销P2与第一导电路LI电连接，另一个与基准电位即接地电位电连接。然后，当第一导电路LI的电位相对于接地电位变动至正侧或负侧时，比较器111输出基于该变动的输出信号，并根据该输出信号，通过可变电源部112经由2个输出端子输出电流以便抵消第一导电路LI的电位的自接地电位的变动。由此，将第一导电路LI的电位始终感应成接地电位。通过使与接地电位连接的接地导线12经由接触销P3与第二导电路L2电连接，来将第二导电路L2的电位感应成接地电位。用于测量电阻抗的电力由电源部13经由第三导电路L3赋予给第一电阻抗元件Zl0电源部13经由2个输出端子输出用于测量第一电阻抗元件Zl的电阻抗的电力(例如，固定输出的交流电流)。该2个输出端子中的一个，经由电流检测部14以及接触销P4与第三导电路L3电连接，另一个与接地电位连接。电流检测部14用于检测电源部13赋予给第一电阻抗元件Zl的电流値。电位差检测部15检测由电源部13经由第三导电路L3赋予给第一电阻抗元件Zl的电位差。电位差检测部15的2个输入端子中的一个，经由接触销P5与第三导电路L3电连接，另一个与基准电位即接地电位电连接。因此，由电位差检测部15检测出赋予给第一电阻抗元件Zl的电位差，并将其作为第三导电路L3的电位与基准电位即接地电位的差。然后，如上所述，将第一以及第二导电路L1、L2的电位感应成接地电位，并由电源部13经由第三导电路L3将交流电流赋予给第一电阻抗元件Zl，此时由电流检测部14以及电位差检测部15检测出赋予给第一电阻抗元件Zl的电流以及电位差，根据该检测结果计算出第一电阻抗元件Zl的电阻抗。另外，作为在先技术，可举例如下述的专利文献I。日本实开昭61- 46474号公报然而，在上述图4的现有技术中，将与接地电位电连接的接地导线12经由接触销P3与第二导电路L2电连接，由此，将第二导电路L2的电位感应成接地电位。因此，因接地导线12具有的电阻値的影响会使第二导电路L2的电位从作为基准电位的接地电位背离到正侧或负侧，而且会有该背离幅度根据接地导线12的长度以及单位长度的电阻値而变化的问题。其结果，在测量电阻抗时会有多余的电流流过第二电阻抗元件Z2，导致无法准确地测量第一电阻抗元件Zl的电阻抗。另外，在将接地导线12经由第二导电路L2与接地电位电连接的结构中，接地导线12以后的导线路径具有规定的静电容量，因此，从电源部13开始供给电力到第二导电路L2的电位稳定为止需要规定的充电时间。为了确保该充电时间，测量第一电阻抗元件Zl的电阻抗的时序会延迟，存在测量电阻抗所需的时间会变长的问题。另外，当在接地导线12插设开关元件(例如，半导体开关组件)时，也存在因流过接地导线12的电流而使开关组件易于老化的问题。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的问题在于提供一种电阻抗测量装置，其在构成三角形电路的第一至第三电阻抗元件中的第一电阻抗元件的电阻抗测量中，将在第二电阻抗元件与第三电阻抗元件之间流动的电流抑制为零，能够准确地测量第一电阻抗元件的电阻抗，并达到提高电阻抗测量速度以及延长开关元件使用寿命的目的。为了解决上述问题，本专利技术涉及的第一方式提供一种电阻抗测量装置，其通过由第一导电路至第三导电路电连接的第一电阻抗元件至第三电阻抗元件构成三角形电路，将电连接上述第一电阻抗元件与上述第二电阻抗元件的上述第一导电路的电位以及电连接上述第二电阻抗元件与该第三电阻抗元件的上述第二导电路的电位感应成基准电位，并测量上述第一电阻抗元件的电阻抗，该电阻抗测量装置的特征在于，包括第一运算放大器，其具有与上述第二导电路电连接的输出端子和反相输入端子、以及与规定的基准电位电连接的同相输入端子；电源部，其与上述第三导电路电连接并对上述第三导电路赋予用于测量电阻抗的电力，上述第三导电路将上述第一电阻抗元件与上述第三电阻抗元件电连接；以及电特性检测部，其在通过上述电源部对上述第三导电路赋予上述电力时，检测用于测量上述第一电阻抗元件的电阻抗的上述第一电阻抗元件的电特性。另外，本专利技术涉及的第二方式的电阻抗测量装置，在上述第一方式所述的电阻抗测量装置的基础上，进一步包括第二运算放大器，其具有与上述第一导电路电连接的输出端子和反相输入端子、以及与规定的接地线电连接的同相输入端子。另外，本专利技术涉及的第三方式的电阻抗测量装置，在上述第一方式I所述的电阻抗测量装置的基础上，在被检查基板上设置多组上述第一电阻抗元件至第三电阻抗元件以及上述第一导电路至第三导电路，上述电阻抗测量装置进一步包括多销夹具，其具有分别同时与上述多组的上述第一导电路至第三导电路接触的多个接触销；以及连接切换部，其具有多个开关元件，并切换上述多销夹具的上述各接触销与上述第一运算放大器的上述输出端子、上述反相输入端子、上述同相输入端子以及上述电源部的电连接关系。根据本专利技术涉及的电阻抗测量装置的第一方式，通过第一运算放大器，将第二电阻抗元件与第三电阻抗元件之间的第二导电路的电位可靠地感应成基准电位，使第二导电路的电位成为与第一导电路的电位同样的基准电位。因此，在测量电阻抗时，能够可靠地将流向第二电阻抗元件的电流抑制为零，以准确地测量第一电阻抗元件的电阻抗。另外，当第二导电路的电位自基准电位偏离时，第一运算放大器在瞬间抑制该电位变动，使第二导电路的电位返回到基准电位。因此，即使在由电源部对第三导电路开始供给电力时，也能够将第二导电路的电位稳定地维持在基准电位。其结果，在由电源部对第三导电路供给电力之后，能够由电特性检测部检测出第一电阻抗元件的电特性并进行第一电阻抗元件的电阻抗测量，进而实现电阻抗测量的高速化。另外，与图4的现有技术涉及的第二导电路L2与接地导线12中流过的电流相比，第二导电路与第一运算放大器的反相输入端子以及输出端子之间流过的电流非常小，因此，即使在使第二导电路与第一运算放大器的反相输入端子以及输出端子之间电连接的导线上插设开关元件(例如，半导体开关元件)的情况下，也可以实现该开关元件的长寿命化。根据本专利技术涉及的电阻抗测量装置的第二方式，由第二运算放本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻抗测量装置，其通过由第一导电路至第三导电路电连接的第一电阻抗元件至第三电阻抗元件构成三角形电路，将电连接上述第一电阻抗元件与上述第二电阻抗元件的上述第一导电路的电位以及电连接上述第二电阻抗元件与上述第三电阻抗元件的上述第二导电路的电位感应成基准电位，并测量上述第一电阻抗元件的电阻抗，该电阻抗测量装置的特征在于，包括：第一运算放大器，其具有与上述第二导电路电连接的输出端子和反相输入端子、以及与规定的基准电位电连接的同相输入端子；电源部，其与上述第三导电路电连接并对上述第三导电路赋予用于测量电阻抗的电力，上述第三导电路将上述第一电阻抗元件与上述第三电阻抗元件电连接；以及电特性检测部，其在通过上述电源部对上述第三导电路赋予上述电力时，检测用于测量上述第一电阻抗元件的电阻抗的上述第一电阻抗元件的电特性。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：山下宗寛，
申请(专利权)人：日本电产理德株式会社，
类型：发明
国别省市：