The invention discloses a method for measuring the distribution of an electrode ablated particle, which extracts the height data in the image to be measured. This method first determines theparticles statistical grid generation by calculating the surface boundary, grid maximum height and the mean height difference, and the surface to be measured the standard height difference compared to determine whether there are particles in the grid, at the same time to mark the height of granules and spatial information, finally get the spatial distribution of electrode erosion particles the height and size distribution results. The quantitative distribution of measurement results of electrode erosion particle distribution measuring method of the invention can realize the electrode erosion of particles, particle size and spatial distribution of height information, for impact assessment of particles on surface state and performance, especially for the risk assessment on the breakdown of gas switch electrode erosion caused by burn.
【技术实现步骤摘要】
一种电极烧蚀颗粒分布测量方法
本专利技术属于图像识别
,具体涉及一种电极烧蚀颗粒分布测量方法。
技术介绍
气体火花开关是脉冲功率装置的关键部件之一,在核聚变、粒子加速器、电真空器件等领域具有重要应用价值。气体火花开关在高气压、大电流条件下工作时在电极表面会出现较为的烧蚀现象,而烧蚀产生的溅射颗粒是影响开关工作性能的关键因素之一。由于电极烧蚀产生的溅射颗粒密布在电极表面,且尺寸大多在微米量级,难以分辨。目前,大多利用扫描电子显微镜、激光共聚焦等光学成像分析技术,只能获得对溅射颗粒的定性微观描述,而对电极表面颗粒的数量、尺寸、空间分布缺乏量化分析手段。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种电极烧蚀颗粒分布测量方法。本专利技术的电极烧蚀颗粒分布测量方法,其特点是,所述的测量方法包括以下步骤:a.获得电极烧蚀颗粒图像,并命名为待测表面图像;b.从待测表面图像中提取高度数据,对超出表面高度范围的点进行标记,确定待测表面边界;c.根据待测表面边界的几何形状,生成颗粒统计网格,网格单元数为N;d.计算颗粒统计网格单元的表面平均高度hm1、hm2……hmN和表面最高高度hmax1、hmax2……hmaxN;e.计算颗粒统计网格单元的高度差Δh1=hmax1-hm1、Δh2=hmax2-hm2……ΔhN=hmaxN-hmN,分别计算Δh1、Δh2……ΔhN与待测表面标准高度差href的差值,若差值大于0,则存在颗粒;f.对存在颗粒的颗粒统计网格单元进行分析,获得电极烧蚀颗粒的空间位置分布和高度尺寸分布结果。所述的步骤c中的颗粒统计网格为极坐标网格。本专利技 ...
【技术保护点】
一种电极烧蚀颗粒分布测量方法,其特征在于:所述的测量方法包括以下步骤:a.获得电极烧蚀颗粒图像,并命名为待测表面图像;b.从待测表面图像中提取高度数据,对超出表面高度范围的点进行标记,确定待测表面边界;c.根据待测表面边界的几何形状,生成颗粒统计网格,网格单元数为N;d.计算颗粒统计网格单元的表面平均高度hm
【技术特征摘要】
1.一种电极烧蚀颗粒分布测量方法,其特征在于:所述的测量方法包括以下步骤:a.获得电极烧蚀颗粒图像,并命名为待测表面图像;b.从待测表面图像中提取高度数据,对超出表面高度范围的点进行标记,确定待测表面边界;c.根据待测表面边界的几何形状,生成颗粒统计网格,网格单元数为N;d.计算颗粒统计网格单元的表面平均高度hm1、hm2……hmN和表面最高高度hmax1、hmax2……hmaxN;e.计算颗...
【专利技术属性】
技术研发人员:钟伟,刘云龙,
申请(专利权)人:中国工程物理研究院电子工程研究所,
类型:发明
国别省市:四川,51
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