银浆中银含量的测量方法技术

技术编号:8488670 阅读:500 留言:0更新日期:2013-03-28 07:11
本发明专利技术公开了一种银浆中银含量的测量方法,包括以下步骤:取银浆,加热烘干成固体,并研磨成粉;加入硝酸,低温加热使粉末溶解;加入淀粉,用氯化钠溶液使用电位滴定的方法测出银含量。本发明专利技术所述的测量方法能准确测定银浆中的银含量,方便快捷,试剂用量少,测定成本低,提高了工作效率,而且适用范围广。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及化学分析领域,特别涉及一种。
技术介绍
一般而言,导电银浆由金属银颗粒、玻璃粉和有机载体这3部分组成。银作为导电 相,玻璃作为粘结相,它们均匀地分布在有机载体中,形成一种具有触变性和印刷性的分散 体系。金属银微粒是导电银浆的主要成份,在浆料中的含量直接与导电性能有关。从某 种意义上讲,银的含量高,对提高它的导电性是有益的,但当它的含量超过临界体积浓度 时,其导电性并不能得到提高。一般情况下,银浆中银的含量在55 70%之间。目前直接测定银含量的方法主要有3种硫氰酸盐滴定法,电位滴定法,氯化钠沉 淀、原子吸收补正法。其中,硫氰酸盐滴定法应用最广,该法采用Fe3+作为指示终点,凭经验 判断终点颜色,分析相对误差±0.4%。电位滴定法采用银电极作为指示终点,指示终点准 确客观,但受滴定管精度的限制,分析相对误差±0.3%。上述两法准确度较差。氯化钠沉 淀、原子吸收补正法采用定量加入NaCl标准溶液,使大部分Ag生成AgCl沉淀,经振荡澄清 后用原子吸收光谱仪测定上清液中银离子含量。该法操作烦琐,不易掌握,又需要使用电感 耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、X-射线荧光光谱仪等本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种银浆中银含量的测量方法,其特征在于,具体包括以下步骤:1)配制0.1mol/L氯化钠标准滴定溶液:将工作基准试剂氯化钠于500~600℃的高温炉中灼烧0.3~1h至氯化钠重量恒重,准确称取5.8442g,溶于去离子水,移入1000mL容量瓶中,定容至刻度线,保存备用;2)银浆中银的固含量的测定:称取质量为m1的银浆置于质量为m0陶瓷坩埚中,放入马弗炉,在10~60min内升温至200~600℃,然后保温10~60min,取出冷却至常温得到固体颗粒,称量陶瓷坩埚和固体颗粒的总质量为m2,得到银浆中的银的固含量为A=(m1?m0)/(m2?m0),再将固体颗粒置于研钵中研磨得到银粉;3)称取步...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:宋财根朱浩峰龚丹宇朱杰
申请(专利权)人:宁波广博纳米新材料股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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