【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及工业探伤用X射线检测辅助检测平台，尤其涉及一种X射线探伤快捷 检测平台及检测方法。
技术介绍
X射线探伤，是指利用X射线对材料或试件进行透照，检查其内部缺陷或根据衍射 特性对其晶体结构进行分析的技术。传统的X射线检测，对于短管的对焦操作主要通过地 面上摆放铁块、木头等垫高X射线机，不仅费时、费工、费力，而且由于铁块、木头等厚度固 定，焦点难以找正，造成对焦效果不佳，严重影响检测效率和底片检测质量。因此有必要对 传统检测对焦方法采取改进措施，以降低作业强度，提高操作效率和工作质量。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于针对现有技术中利用X射线对材料或试件进行透 照时，焦点难以找正，造成对焦效果不佳，严重影响检测效率和底片检测质量的缺陷，提供 一种可提高对焦的精确度、提高检测效率以及降低检测人员劳动强度的X射线探伤快捷检 测平台及检测方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种X射线探伤快捷检测平台，包括刻度平台，所述刻度平台下设有平台支 腿，所述刻度平台的中心设有升降机装置，所述升降机装置上固定有X射线机，在所述刻度 平台的一角设有射...
【技术保护点】
一种X射线探伤快捷检测平台，其特征在于，包括刻度平台，所述刻度平台下设有平台支腿，所述刻度平台的中心设有升降机装置，所述升降机装置上固定有X射线机，在所述刻度平台的一角设有射线机电缆线支杆，所述X射线机的电缆线架设在所述射线机电缆线支杆上；该检测平台还包括激光准直器，安装在所述射线机电缆线支杆上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：贺全伟，白晓良，陈德超，侯华东，邓昌明，冯定国，徐幼清，吴勇刚，赵宗合，
申请(专利权)人：武汉一冶钢结构有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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