一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及测试设备相关技术领域，特别是一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，包括：主恒流源、若干个副恒流源电路和测试部，所述主恒流源与若干个副恒流源电路并联后与测试部串联，所述副恒流源电路包括一个副恒流源和若干个副恒流源开关，副恒流源与并联后的若干个副恒流源开关串联，所述测试部包括一个数据采集板卡，以及与数据采集板卡并联的若干测试通道，每条测试通道包括依次串联的第一测试开关、第一测试点、待测发光二极管、第二测试点和第二测试开关。本实用新型专利技术用瞬间电流冲击的热效应来模拟实际环境的极端温度，从而对硅树脂封装LED进行有效检测，同时使用了用简单程控开关的方式实现了精确地时序控制。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备
本技术涉及测试设备相关
，特别是一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备。
技术介绍
娃树脂封装的发光二极管(Light Emitting Diode, LED),因其良好的聚光性能被大量应用于汽车仪表面板产品中。这类LED存在的风险是若硅树脂和LED管灯丝没有很好的结合，会导致加热冷却后硅树脂和LED元器件之间出现裂缝甚至脱落，最终使灯光效果不能达到要求。现有生产制造中的测试方法及设备由于缺少快速加热冷却的测试条件，所以不能够有效地检测存在上述风险的产品。
技术实现思路
本技术提供一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，以解决现有技术由于缺少快速加热冷却的测试条件，而不能对硅树脂封装LED进行有效检测的技术问题。采用的技术方案如下—种娃树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，用于对若干个待测发光二极管进行测试，包括主恒流源、若干个副恒流源电路和测试部，所述主恒流源与若干个副恒流源电路并联后与测试部串联，所述副恒流源电路包括一个副恒流源和若干个副恒流源开关，副恒流源与并联后的若干个副恒流源开关串联，所述测试部包括一个数据采集板卡，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，用于对若干个待测发光二极管进行测试，其特征在于，包括：主恒流源、若干个副恒流源电路和测试部，所述主恒流源与若干个副恒流源电路并联后与测试部串联，所述副恒流源电路包括一个副恒流源和若干个副恒流源开关，副恒流源与并联后的若干个副恒流源开关串联，所述测试部包括一个数据采集板卡，以及与数据采集板卡并联的若干测试通道，每条测试通道包括依次串联的第一测试开关、第一测试点、待测发光二极管、第二测试点和第二测试开关。

【技术特征摘要】
1.一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，用于对若干个待测发光二极管进行测试，其特征在于，包括主恒流源、若干个副恒流源电路和测试部，所述主恒流源与若干个副恒流源电路并联后与测试部串联，所述副恒流源电路包括一个副恒流源和若干个副恒流源开关，副恒流源与并联后的若干个副恒流源开关串联，所述测试部包括一个数据采集板卡，以及与数据采集板卡并联的若干测试通道，每条测试通道包括依次串联的第一测试开关、第一测试点、待测发光二极管、第二测试点和第二测试开关。2.根据权利要求I所述的一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，其特征在于，每个副恒流源电路包括一个副...

【专利技术属性】
技术研发人员：林振国，黄晓彬，梁元，
申请(专利权)人：惠州市德赛西威汽车电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：