使用分析物和过程控制信号的单次读取确定而鉴定含分析物的样品的方法和设备技术

本发明专利技术公开了用于检测含内控的反应混合物中的分析物的设备和方法。使用核酸的扩增和检测阐述了本发明专利技术，其中扩增反应包含外源性内控。检测信号的幅度用作鉴定无效试验、鉴定分析物阴性的有效试验以及鉴定分析物阳性的试验的变量。对表明探针杂交的信号进行检测可用于在只使用单个可检测标记物的验证反应中指定分析物核酸的存在与否，并且不用区分由内控探针结合和分析物探针结合所贡献的信号的比例。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】使用分析物和过程控制信号的单次读取确定而鉴定含分析物的样品的方法和设备相关申请案本申请要求于2010年6月30日提交的美国临时申请No. 61/360，296的权益。此在先申请的全部公开内容据此以引用方式并入。专利
本专利技术涉及关于诊断测定法的生物技术子领域。更具体地讲，本专利技术涉及在包括内控的测定法中进行分析物检测，其中使用不同的探针检测分析物和内控。在一个高度优选的实施方案中，使用具有相同可检测标记物的不同杂交探针检测单一混合物中的核酸分析物。_4] 专利技术背景检测分析物(如核酸、蛋白质、脂质、碳水化合物等)的存在的现代测定法依赖于使用阳性对照来确认过程可靠性。例如，测定法可能力图使用核酸扩增和随后通过探针杂交和检测来测定靶核酸。经过扩增的样品可包含与分析物核酸共扩增的内控(下文称为“1C”) 核酸。扩增产物可有利地具有可使用不同的杂交探针检测的非相同序列。检测IC扩增产物将确认测定程序的扩增和检测组成部分的完整性。该信息在未能检出分析物扩增产物时很有用。在这种情况下检出IC信号可验证分析物阴性结果。分析物扩增子及IC扩增子的特异性杂交探针通常通过它们所具有的标记物或通过空间分离而区分。包括内部过程控制的基于探针的测定法(包括蛋白和核酸测定法)对于IC和分析物的检测通常有以下区别之一 (I)独立于分析物来检测IC ;以及⑵独立于分析物加IC 的组合来检测分析物。美国专利No. 6，586，234使用检测IC和分析物核酸的两次读取系统阐述了这两种可能性。当独立于IC加分析物的组合来检测分析物核酸时，可针对所产生的分析物杂交信号落在阳性评分所需的阈值截止值之下的样品而评估后者的杂交信号。例如，低于分析物检测的阈值截止值的信号作为另外一种选择可表明不存在分析物或测定法失效。如果在代表IC加分析物的组合的第二次读取中检出信号，则将该结果解释为验证分析物阴性结果。换句话讲，检出IC加分析物的足够信号表明必须已经检出1C，并因此可验证分析物阴性结果。应当显而易见的是，这样的系统要获得成功取决于从代表IC和分析物的杂交信号的组合中分离分析物杂交信号的能力。在分析物检测领域中遇到的一个难题涉及当不同探针(例如，流体连通且在溶液中游离而非固定的不同探针)之间无空间分离而进行检测时，分析多重反应所需的不同标记物的数量。这可以在共扩增IC核酸和两种不同的靶核酸的测定法的背景下加以理解。通过具有一个标记物的IC探针，用于检测其余两个靶标的一套探针可用第二标记物进行标记。第二标记物的阳性检测信号表明存在两种分析物之一，但不能将一者与另一者进行区分。随着分析物数量的增加，解析反应性物质所需的再次测试的次数也相似地增加。换句话说，在阳性评分多重测定法中用于鉴定反应性物质的再次测试负担是不利的，尤其是当阳性样品所占的分数变得很大时。本专利技术解决了对简化的分析物鉴定系统的需求。专利技术概沭在一个方面，本专利技术涉及通过过程控制确定包含内控的样品中第一分析物存在与否的设备。一般而言，本专利技术的设备包括(a)被构造成容纳样品的支架；(b)被布置成当样品容纳在支架中时接收来自样品的光学信号的光学检测机构；以及(C)与光学检测机构通信的处理器(如计算机)，该处理器被编程为执行确定多种情形中的哪一种情形适用的步骤。根据本专利技术，除了内控外，样品进一步包含在接触内控后生成内控信号的内控探针； 如果第一分析物存在于样品中，则在接触第一分析物后生成第一分析物信号的第一分析物探针；以及任选地如果第二分析物存在于样品中，则在接触第二分析物后生成第二分析物信号的第二分析物探针。进一步根据本专利技术，光学检测机构被构造成测量内控探针和分析物探针所产生的组合信号而不用区分内控信号与分析物信号。光学检测机构任选地被构造成测量第二分析物探针所产生的第二分析物信号。再进一步根据本专利技术，处理器被编程为确定以下哪一情形适用(i)样品不含第一分析物，条件是组合信号的幅度小于第一分析物截止值并且(I)组合信号的幅度大于或等于有效性截止值或者(2)第二分析物探针包含在样品中，光学检测机构被构造成测量第二分析物信号，且第二分析物信号的幅度大于或等于第二分析物截止值，从而确立样品包含第二分析物；(ii)样品包含第一分析物，条件是组合信号的幅度大于或等于第一分析物截止值；以及(iii)无法确定样品是否包含第一分析物，条件是组合信号的幅度小于第一分析物截止值且小于有效性截止值，并且如果第二分析物探针包含在反应混合物中，且光学检测机构被构造成测量第二分析物信号，第二分析物信号小于第二分析物截止值。一般来讲，第一分析物截止值的信号量大于有效性截止值的信号量，并且内控信号的可检测最大值不能超过第一分析物截止值。根据通过过程控制确定包含内控的样品中第一分析物存在与否的一般描述的设备的第一高度优选实施方案，光学检测机构被构造成测量通过第二分析物探针生成的第二分析物信号。这样的话，优选地，支架基本上不改变光学检测机构测量组合信号的运行过程中的温度；第一分析物、第二分析物和内控各自都包含核酸；且光学检测机构不测量第一分析物信号，也不测量内控信号。作为另外一种选择，优选地，光学检测机构不测量第一分析物信号，也不测量内控信号；并且设备进一步包括输出装置，其产生由处理器执行的确定步骤的有形记录(如，打印的记录或存储在计算机可读介质上的电子记录)。更优选地，支架基本上不改变光学检测机构测量组合信号的运行过程中的温度；第一分析物、第二分析物和内控各自都包含核酸；且光学检测机构不测量第一分析物信号，也不测量内控信号。这样的话，优选地，样品在光学检测机构测量组合信号的运行过程中保持基本上恒定的温度。这可(例如)涉及使用温控培养箱。作为另外一种选择，优选地，光学检测机构包括选自光度计和荧光计的检测器。更优选地，检测器为光度计。根据通过过程控制确定包含内控的样品中第一分析物存在与否的一般描述的设备的第二高度优选实施方案，光学检测机构不被构造成测量通过第二分析物探针生成的第二分析物信号。这样的话，优选地，支架基本上不改变光学检测机构测量组合信号的运行过程中的温度；第一分析物和内控各自都包含核酸；且光学检测机构不测量第一分析物信号，也不测量内控信号。作为另外一种选择，光学检测机构不测量第一分析物信号，也不测量内控信号；并且设备进一步包括输出装置，其产生由处理器执行的确定步骤的有形记录。更优选地，支架基本上不改变光学检测机构测量组合信号的运行过程中的温度；第一分析物和内控各自都包含核酸；且光学检测机构不测量第一分析物信号，也不测量内控信号。这样的话，优选地，样品在光学检测机构测量组合信号的运行过程中保持基本上恒定的温度。 作为另外一种选择，优选地，光学检测机构包括选自光度计和荧光计的检测器。更优选地， 检测器为光度计。除了一般描述的设备的前述高度优选实施方案外，还存在许多可用来改变本专利技术的设备的一般优选的修改。在一个一般优选的实施方案中，样品容纳在反应容器中，而支架被构造成容纳多个反应容器。更优选地，反应容器选自试管和多孔板的孔。在另一个一般优选的实施方案中，光学检测机构包括选自光度计和荧光计的检测器。更优选地，检测器为光度计。在又一个一般优选的实施方案中，处理器为包含软件查表的计算机(如独立计算机)。 在再一个一般优选的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：SA朱，JM多克特，
申请(专利权)人：简探针公司，
类型：
国别省市：