一种用于液晶显示模组的膜片检测治具制造技术

本发明专利技术提供了一种用于液晶显示模组的膜片检测治具，包括：第一侧边，其内壁具有多个第一凸起，相邻的第一凸起之间包括第一缝隙；第二侧边，平行于第一侧边，其内壁具有多个第二凸起，相邻的第二凸起之间包括第二缝隙，藉由第一和第二缝隙放置一个或多个待验证的光学膜片；以及多个通孔，每一通孔位于第一缝隙与第一侧边的内壁之间，用以插设一热源条。采用本发明专利技术，藉由第一凸起的第一缝隙以及第二凸起的第二缝隙对应放置一光学膜片，然后将热源条插入第一缝隙旁边的通孔内，从而达到膜片材料的环测验证目的。相比于现有技术，本发明专利技术可同时对不同材质的多种光学膜片进行对比实验，节约了成本，减小了材料损耗，并提升了验证效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种液晶显示模组，尤其涉及该液晶显示模组的膜片检测治具。
技术介绍
目如，液晶显不设备如液晶电视、液晶显不器等，由于具有机身薄、福射小、闻清晰显示等诸多优点，因而取得了广泛的应用。但是液晶显示设备中的液晶面板自身无法发光，通常需要使用背光源作为照明电源。而且为了取得良好的显示效果，从背光源到液晶面板之间需要设置多种光学膜片，例如，扩散板、扩散片、增光膜等，这些光学膜片能够对背光源发出的光线进行透射扩散，以提高光线的亮度、均匀性和色度等指标。在现有技术中，对于同一尺寸的液晶显示设备，根据不同的应用需求需要开发出多种类型，例如低功耗型、高亮类型、超薄类型等。在开发这些类型时，必须对液晶显示设备的光学指标进行评价，这就要求进行多次试验和检测，以通过改变各光学膜片的材质或它们之间的搭配组合来获得理想的光学指标。然而，在传统液晶显示设备的内部结构中，更换各光学膜片时，每次都需要拆掉前框、中框和液晶面板，更换完成后再重新安装液晶面板、中框和前框，操作繁琐，整个更换过程需要的时间较长。另一方面，若将光学膜片的环测项目的验证载体使用液晶面板成品，由于成品内的各个材料之间的间隙受其本身裁切尺寸及组装的影响，通常无法真实体现设计值。并且，验证后的材料不能重复使用，加剧了材料损耗，增加了验证成本。
技术实现思路
针对现有技术中的膜片检测治具所存在的上述缺陷，本专利技术提供了一种新颖的、用于液晶显示模组的膜片检测治具。依据本专利技术的一个方面，提供了一种用于液晶显示模组的膜片检测治具，包括一第一侧边，其内壁具有多个第一凸起，相邻的第一凸起之间包括一第一缝隙；一第二侧边，平行于所述第一侧边，其内壁具有多个第二凸起，相邻的第二凸起之间包括一第二缝隙，其中，所述第二缝隙与相应的第一缝隙位于同一高度，藉由所述第一缝隙和所述第二缝隙放置一个或多个待验证的光学膜片；以及多个通孔，每一通孔位于所述第一缝隙与所述第一侧边的内壁之间，用以插设一热源条，其中，所述膜片检测治具放置于一预设的环测环境中。优选地，位于第一高度处的第一缝隙和第二缝隙对应放置一第一光学膜片，位于第二高度处的第一缝隙和第二缝隙对应放置一第二光学膜片，其中，所述第一光学膜片与所述第二光学膜片的材质不同。更优选地，所述第一光学膜片与所述第二光学膜片的尺寸大小相同。优选地，所述膜片检测治具还包括一连接边，用以连接所述第一侧边和第二侧边，其中，当所述光学膜片朝向所述连接边插入治具时，所述光学膜片与所述连接边保留一间隙。优选地，光学膜片与所述连接边的所述间隙是可调节的，用以模拟所述光学膜片与胶框的间隔距离，藉由调节所述间隙从而确定所述光学膜片的极限温度条件和最佳温度条件。优选地，每一通孔具有一开口，所述热源条具有一端部，所述热源条的端部与所述通孔的开口形状相同。优选地，所述热源条上的热源温度是可调节的。优选地，所述通孔与相应的所述第一缝隙相连通，且所述第一缝隙的高度小于所述通孔的高度。采用本专利技术的用于液晶显示模组的膜片检测治具，其第一侧边的相邻第一凸起之间具有第一缝隙，其第二侧边的相邻第二凸起之间具有第二缝隙，藉由处在同一高度的第一缝隙和第二缝隙来对应放置一光学膜片，然后通过将热源条插入第一缝隙旁边的通孔内，从而达到膜片材料的环测验证目的。相比于现有技术，本专利技术的膜片检测治具还可同时对不同材质的多种光学膜片进行对比实验，进而直观地了解材料的好坏。此外，通过调整热源条上的热源温度，以及光学膜片与治具之间的间隙大小来测试其在最佳温度条件和极限温度条件下的状态，由于该治具仅需验证光学膜片本身而无需整个液晶面板成品，节约了成本，减小了材料损耗，并提升了验证效率。附图说明读者在参照附图阅读了本专利技术的具体实施方式以后，将会更清楚地了解本专利技术的各个方面。其中，图I示出现有技术的液晶显示模组中，对膜片进行环测验证时的结构示意图；以及图2示出依据本专利技术的一实施方式，用于液晶显示模组的膜片检测治具的结构示意图。具体实施例方式为了使本申请所揭示的
技术实现思路
更加详尽与完备，可参照附图以及本专利技术的下述各种具体实施例，附图中相同的标记代表相同或相似的组件。然而，本领域的普通技术人员应当理解，下文中所提供的实施例并非用来限制本专利技术所涵盖的范围。此外，附图仅仅用于示意性地加以说明，并未依照其原尺寸进行绘制。图I示出现有技术的液晶显示模组中，对膜片进行环测验证时的结构示意图。如前所述，根据不同的应用需求开发不同类型(诸如低功耗型、高亮度型、超薄型等等)的液晶显示设备时，必须对其光学指标进行评价，尤其是对液晶显示设备中的光学膜片进行多次试验和检测，以通过改变各光学膜片的材质或它们之间的搭配组合来获得满足要求的光学指标。现有的光学膜片环测项目的验证载体往往采用液晶面板成品。参照图1，该液晶显不模组包括胶框101、位于胶框101下方的多功能薄膜103、扩散片105、扩散片107、位于扩散片107下方的导光板109、反射片111以及背板(back bezel) 113。此外,还需设置一灯条(诸如LED灯条)115和一散热垫117，以提供温度测试时的热源。在环测过程中，由于胶框101、扩散片105、扩散片107、导光板109、反射片111之间的间隙受其本身裁切尺寸及组装的影响，并不能真实体现设计值。并且，验证后的材料不能重复使用，加剧了材料损耗，增加了验证成本。此外，即使不同的液晶面板机种包含相同材质的光学膜片，由于验证载体为液晶面板成品本身，仍然需要进行重复测试。虽然该测试数据直观可见，但是各材料间的间隙、灯条115的温度条件等较固定，因而环测效率相对较低。图2示出依据本专利技术的一实施方式，用于液晶显示模组的膜片检测治具的结构示意图。参照图2，本专利技术的膜片检测治具2包括一第一侧边21、一第二侧边23以及多个通孔(诸如通孔214和通孔216)。具体地，第一侧边21的内壁具有多个第一凸起。相邻的第一凸起之间包括一第一缝隙(标记为212或218)，亦即，第一侧边21的第一缝隙将其上方的一第一凸起与其下方的另一第一凸起隔离开来。第二侧边23平行于第一侧边21。第二侧边23的内壁具有多个第二凸起，相邻的第二凸起之间包括一第二缝隙232，亦即，第二侧边23的第二缝隙232将其上方的一第二凸起与其下方的另一第二凸起隔离开来。第二缝隙232与相应的第一缝隙可设置位于同一高度，如此一来，该膜片检测治具2可藉由同一高度处的该第一缝隙和该第二缝隙放置一光学膜片40。此外，由于第一侧边21和第二侧边23分别包括多个第一缝隙和多个第二缝隙，因此该膜片检测治具可同时插入多个光学膜片进行环测验证。多个通孔中的每一通孔位于第一缝隙与第一侧边21的内壁之间，用以插设一热源条30。在图2中，通孔214对应于第一缝隙212，通孔216对应于第一缝隙218，通孔214与通孔216位于不同的高度。以通孔214为例，该通孔214与相应的第一缝隙212相连通，且该第一缝隙212的高度小于通孔214的高度。此外，该热源条30包括多个热源304，例如，每一热源 304 为一 LED (Light Emitting Diode,发光二极管)。应当指出，在本专利技术的膜片检测治具中，热源条30与通孔之间的连接为插拔方式，因而可根据环测验证的实际需求，插入适合的热源条30本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于液晶显示模组的膜片检测治具，其特征在于，所述膜片检测治具包括：一第一侧边，其内壁具有多个第一凸起，相邻的第一凸起之间包括一第一缝隙；一第二侧边，平行于所述第一侧边，其内壁具有多个第二凸起，相邻的第二凸起之间包括一第二缝隙，其中，所述第二缝隙与相应的第一缝隙位于同一高度，藉由所述第一缝隙和所述第二缝隙放置一个或多个待验证的光学膜片；以及多个通孔，每一通孔位于所述第一缝隙与所述第一侧边的内壁之间，用以插设一热源条，其中，所述膜片检测治具放置于一预设的环测环境中。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙赓楠，卢仁生，
申请(专利权)人：友达光电厦门有限公司，友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：