【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于仪器分析测定
，涉及一种采用气态进样无色散原子荧光仪测定传统上易形成氢化物的元素时使用的内标法。
技术介绍
硼氢化钠和元素在酸性条件下形成气态氢化物的反应(CVG)已经用于原子光谱分析。比较常规的雾化进样，气态氢化物进样有着很高的样品进样效率和低的检出限。这些用于氢化物进样的测定的元素有砷、锑、铋、硒、碲、锗、锡、铅、汞(被还原为单质)。然而，对这些传统上可形成挥发物的元素砷、锑、铋、硒、碲、锗、锡、铅、汞，当使用气态氢化物进样一无色散原子荧光法进行测定时，都面临着一些测定结果受实验条件因素波动影响很大这个难题。这些因素包括化学蒸气发生反应时元素溶液的酸度、共存元素或物质的干扰、样品 的基体的影响、仪器本身一些条件的波动等等。实验表明上述因素的存在，有时候甚至是微小的波动，都能使仪器的信号产生很大变化，因而会使校正曲线相关性不好、测量精度变差、使最终样品测定结果产生很大的误差。
技术实现思路
本专利技术针对化学蒸气发生进样——无色散原子荧光光度计测定传统上易形成氢化物的元素时存在着干扰大、仪器测量信号受影响的因素比较多，致使标准曲线的相关性不好、...
【技术保护点】
一种原子荧光测定传统上易形成氢化物元素时的内标法，它是用化学蒸气发生—无色散原子荧光测定传统上易形成氢化物元素的方法，其特征在于按如下的步骤进行：（1）仪器设置：用内标元素激发光源与待测元素的激发光源交替或按时间顺序照射原子化器，从而交替激发内标元素与待测元素的原子荧光信号，达到两元素或多元素同时测定目的；（2）溶液配制：在标准溶液和样品溶液中分别加入一定量的内标元素；（3）绘制校正曲线：测定标准溶液中的分析元素和内标元素的荧光值比I分析/I内标,?以I分析/I内标对分析元素浓度Ci?(i=1,2,3,……)建立校正曲线；（4）在同样条件下，测定试样中分析元素和内标元素的荧...
【技术特征摘要】
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