本实用新型专利技术提供了一种用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，属于原子荧光光度计技术领域。本实用新型专利技术包括：原子化器、激发光源、入射光学系统，接收光学系统、光电倍增管和信号采集处理系统，所述激发光源射出的光通过入射光学系统汇聚于原子化器的中心处，所激发荧光信号经接收光学系统进入光电倍增管并转化为电信号输入信号采集处理系统。通过激发光反射装置或直接测定激发光源散射及背景光信号的方式来计算激发光信号，经处理后反馈于荧光信号测量结果进行数据校正。本实用新型专利技术与现有技术相比具有如下优点：本实用新型专利技术能有效校正光源不稳定性对测量结果的影响，突破了一直以来制约着原子荧光光度计发展的技术瓶颈，提高了仪器的性能指标。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，属于原子荧光光度计
技术介绍
原子荧光光谱法是一种基于测量分析物气态自由原子吸收辐射被激发后去激发所发射的特征谱线强度进行定量分析的痕量元素分析方法。原子荧光光谱分析法历经40余年的不断发展和完善，现已成为分析实验室中无机元素最为有效的常用分析技术之一，适用于As、Sb、Bi、Se、Te、Ge、Sn、Pb、Zn、Cd、Hg等元素的痕量检测，被广泛应用于地质、冶金、环境科学、生命科学、食品卫生、材料科学等众多领域。 现有的原子荧光光度计多采用非色散式光学系统，其结构见图2，高性能空心阴极灯12作为激发光源，经入射透镜系统13会聚于原子化器11处，在与激发光源垂直的方向(或与光源成一定角度)，其所激发荧光由接收透镜系统14进入光电倍增管15并经信号采集处理系统16传至上位机进行分析。激发光源是原子荧光光度计的一个重要部件，其辐射能量的稳定性直接影响着仪器测量结果重复性和准确性。目前主要用于原子荧光光度计的激发光源为空心阴极灯，其波动对测量结果的影响很大，制约着仪器性能的进一步提高。而现有校正光源波动的技术是在激发光进入原子化器前分出部分光进入光电检测器，由于荧光信号检测和激发光信号检测采用了两只不同的光电检测器以及不同的放大电路系统，器件性能差异造成测量结果的不一致，无法很好的校正光源波动。
技术实现思路
本技术的目的是为解决现有的问题，进而提供一种用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置。本技术的目的是通过以下技术方案实现的一种用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，包括原子化器、激发光源、入射光学系统，接收光学系统、光电倍增管和信号采集处理系统，所述激发光源射出的光通过入射光学系统汇聚于原子化器的中心处，所激发荧光信号经接收光学系统进入光电倍增管并转化为电信号输入信号采集处理系统。本技术与现有技术相比具有如下优点本技术能有效校正光源不稳定性对测量结果的影响，突破了一直以来制约着原子荧光光度计发展的技术瓶颈，提高了仪器的性能指标。附图说明图I为本技术用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置结构示意图；图2为现有原子荧光光度计的结构示意图。具体实施方式下面将结合附图对本技术做进一步的详细说明本实施例在以本技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式，但本技术的保护范围不限于下述实施例。如图I所示，本实施例提供的一种用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，包括原子化器I、激发光源2、入射光学系统3，接收光学系统4、光电倍增管6和信号采集处理系统7，所述激发光源2射出的光通过入射光学系统3汇聚于原子化器I的中心处，所激发荧光信号经接收光学系统4进入光电倍增管6并转化为电信号输入信号采集处理系统7。上述方案通过测定激发光源散射及背景光信号的方式来计算激发光信号。进一步的，还包括激发光反射装置5，所述激发光反射装置5设置在入射光学系统3和接收光学系统4之间的光路上。·所述激发光反射装置5为机械反光装置或光学反光装置。激发光源2所辐射光经置于其后的入射光学系统3汇聚于原子化器I的中心处，所激发荧光信号经接收光学系统4进入光电倍增管6。激发光源所发出的部分光通过激发光反射装置5 (可为机械反光装置或光学反光装置)进入光电倍增管6，荧光信号与激发光信号通过控制激发光反射装置5选择顺序进入同一光电倍增管6并转化为电信号输入信号采集处理系统7。激发光信号经采集与处理后反馈于荧光信号测量结果进行数据校正，可有效扣除光源波动所带来的影响。(在图I中只画出了单道光学系统的情况，双道及多道光学系统在单道光学系统的基础上与图I中激发光源成一定角度加入1-7只激发光源及相关器件。)在此系统中，荧光信号和激发光信号使用同一光电倍增管和放大电路，避免了光电倍增管及电路器件不一致对测量结果的影响。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，这些具体实施方式都是基于本技术整体构思下的不同实现方式，而且本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，包括原子化器、激发光源、入射光学系统，接收光学系统、光电倍增管和信号采集处理系统，其特征在于，所述激发光源射出的光通过入射光学系统汇聚于原子化器的中心处，所激发荧光信号经接收光学系统进入光电倍增管并转化为电信号输入信号采集处理系统。2.根据权利要求I所述的用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，其特征在于，还包括激发光反射装置，所述激发光反射装置设置在入射光学系统和接收光学系统之间的光路上。3.根据权利要求2所述的用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，其特征在于，所述激发光反射装置为机械反光装置或光学反光装置。专利摘要本技术提供了一种用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，属于原子荧光光度计
本技术包括原子化器、激发光源、入射光学系统，接收光学系统、光电倍增管和信号采集处理系统，所述激发光源射出的光通过入射光学系统汇聚于原子化器的中心处，所激发荧光信号经接收光学系统进入光电倍增管并转化为电信号输入信号采集处理系统。通过激发光反射装置或直接测定激发光源散射及背景光信号的方式来计算激发光信号，经处理后反馈于荧光信号测量结果进行数据校正。本技术与现有技术相比具有如下优点本技术能有效校正光源不稳定性对测量结果的影响，突破了一直以来制约着原子荧光光度计发展的技术瓶颈，提高了仪器的性能指标。文档编号G01N21/01GK202794037SQ201220414279公开日2013年3月13日 申请日期2012年8月20日 优先权日2012年8月20日专利技术者宋雅东, 孙金龙, 陈国伟, 王凌昊 申请人:北京普析通用仪器有限责任公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于原子荧光光度计扣除光源波动的装置，包括：原子化器、激发光源、入射光学系统，接收光学系统、光电倍增管和信号采集处理系统，其特征在于，所述激发光源射出的光通过入射光学系统汇聚于原子化器的中心处，所激发荧光信号经接收光学系统进入光电倍增管并转化为电信号输入信号采集处理系统。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：宋雅东，孙金龙，陈国伟，王凌昊，
申请(专利权)人：北京普析通用仪器有限责任公司，
类型：实用新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。