光学检测系统技术方案

本发明专利技术公开一种光学检测系统，其包括第一及第二影像撷取装置、第一及第二运输装置，第一与第二影像撷取装置分别配置于待测对象的运输路径的上下两侧边，借由第一运输装置的运输，使待测对象水平通过第一影像撷取装置以供一表面的影像数据撷取，再将待测对象转放至第二运输装置，借由第二运输装置的运输使待测对象水平通过第二影像撷取装置以供另一表面的影像数据撷取，借此，待测对象不需经过翻转的程序即可进行两个表面的检测，有效地节省检测所需的时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测系统，特别涉及一种光学检测系统。
技术介绍
由于光电业及电子业对于生产线速度的要求也日渐严苛，质量检测所耗用的时间成本就显得相当重要。为了提高电子组件的质量以及同时达到降低成本的目的，质量检测必须使得电子组件在生产流程完成前发现缺陷并加以补救或剔除，质量检测程序除了对电子组件进行电性检验外，其外观及表面瑕疵的检测也是为相当重要的一个项目。一般来说，用以检测电子组件的外观及表面瑕疵的技术可借由自动化光学检测技术(Automatic Optical Inspection,AOI)来达成,通过此一技术不仅可在电子产品的制作流程中做为终端产品的品管，也能协助制程监控，以及早采取补救的措施。然而，现有的自动化光学检测系统如图I所示，其是借由机械手臂将待测对象从特定位置取出(例如从Tray盘上取出)并放置于圆转盘101上的待测槽位IOla中，随着圆转盘101的旋转将待测对象转至第一影像撷取装置103的影像撷取区以供撷取待测对象正面的影像数据，之后再转至第一翻转模块105以将待测对象进行翻转，之后再转至第二影像撷取装置107的影像撷取区以供撷取待测对象背面的影像数据，最后，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学检测系统，用于运输待测对象以撷取其影像数据，其特征在于，包括：第一影像撷取装置，其用以撷取该待测对象第一表面的影像数据；第二影像撷取装置，其用以撷取该待测对象第二表面的影像数据，其中该第二表面为该第一表面的相反面，该第二影像撷取装置与该第一影像撷取装置分别配置于该待测对象的运输路径的上下两侧；第一运输装置，其用于垂直提取及水平运输该待测对象，使被提取的该待测对象的第一表面通过该第一影像撷取装置的摄像方向，并用于垂直放置已通过该第一影像撷取装置的待测对象；及第二运输装置，其用于接取该第一运输装置放置的待测对象及水平运输该待测对象，使被接取的该待测对象的第二表面通过该第二影像撷取装置的摄像...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：汪光夏，萧武域，邱诗彰，
申请(专利权)人：牧德科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：