【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检测电路,尤其涉及一种测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路。
技术介绍
测试系统(Tester)会在输入、输出管脚上加载信号切换继电器,用以控制和切换信号的状态。在驱动器输出使能信号到达图I中的A端后,由于继电器的切换需要时间,信号从B端传输到被测芯片输入管脚上B端得到的信号起始点将晚于测试设备的要求时间。一般这个时间在I. 5ms左右。因此测试速度将受限制于这个切换时间。另外,当测试用通道数量很多时,随着继电器使用状态的变化,这个切换时间将产生很大误差。造成到达半导体元·件(IC)输入管脚的信号不同步,产生测试失效问题。为解决这个问题,目前的方案是在测试开始前等待一段时间,这样就降低了测试效率。
技术实现思路
鉴于上述现有技术中的问题,本技术所要解决的技术问题是现有的技术缺乏有效的实时检测电路。本技术的一种测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路,包括采样信号发生器、计数器和寄存器,所述采样信号发生器与所述计数器连接,所述计数器与所述寄存器连接,所述寄存器上设有信号输出端。在本技术的一个较佳实施方式中,所述采样信号发生器包括第一采样电路、第二采样电路 ...
【技术保护点】
一种测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路,其特征在于,包括采样信号发生器、计数器和寄存器,所述采样信号发生器与所述计数器连接,所述计数器与所述寄存器连接,所述寄存器上设有信号输出端。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:童炜,
申请(专利权)人:上海华力微电子有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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