导轨的安装校正工具制造技术

本发明专利技术公开了一种导轨的安装校正工具及导轨的安装校正方法，其包括有固定在已安装导轨上的射线发射装置以及固定在待安装导轨上的定位检测装置，所述的射线发射装置包括有第一发射器，所述的定位检测装置包括有第二发射器、第一测量量具及第二测量量具，所述的第一测量量具与所述的第一发射器相配合，第一发射器所发出的射线能投影在第一测量量具上，所述的第二测量量设在所述的第二发射器上。所述工具能精确反映或测出导轨安装过程中所需的参数，并能有效提高导轨的安装效率和安装精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种导轨的安装校正工具。
技术介绍
目前，为保证导轨的纵向垂直度、横向垂直度、挠曲值和对向平行度，导轨的安装大都使用水平尺、卡板、校轨尺等机械式工具。这些传统的导轨安装工具不仅种类多，像校轨尺这种大尺寸工具携带也不方便，影响人员安全，并且使用传统工具调整导轨需要反复测量相关参数，如导轨的挠曲值，整个安装过程费时费力。而且目前电梯的速度越来越快，对导轨的安装要求也越来越高，传统方式只依据样线位置，导轨安装误差较大，无法保证上、下两相邻导轨的相对位置。例如，上述的挠曲值能反映出上下两根导轨的安装情况，挠曲值越小，导轨对轿厢运行的影响就越小。因此导轨安装过程中对挠曲值的要求很高，像高速梯的挠曲容许值仅为O. Imm0而传统的测量方法是使用一根Im长的水平尺，卡在上下两根导轨的交接处，进而量出挠曲值a，具体如图4所示。这种测量方法不仅精度低，而且操作麻烦，影响施工速度。于2007年10月3日公告的中国技术专利ZL200620064903. 7公开了一种电梯导轨的激光校正装置，其利用激光器实现电梯导轨对向平行度和导轨间距的校正，替代了笨重的校轨尺。但是其缺陷在于，功能单一，不能同时反映出导轨安装所需的参数。
技术实现思路
基于此，本专利技术在于克服现有技术的缺陷，提供一种导轨的安装校正工具，所述工具能精确反映或测出导轨安装过程中所需的参数，并能有效提高导轨的安装效率和安装精度。其技术方案如下—种导轨的安装校正工具，其包括有固定在已安装导轨上的射线发射装置以及固定在待安装导轨上的定位检测装置，所述的射线发射装置包括有第一发射器，所述的定位检测装置包括有第二发射器、第一测量量具及第二测量量具，所述的第一测量量具与所述的第一发射器相配合，第一发射器所发出的射线能投影在第一测量量具上，所述的第二测量量具设在所述的第二发射器上。下面对进一步的技术方案进行说明所述的射线发射装置还包括有第一固定座，第一发射器固定在所述的第一固定座上，所述的定位检测装置还包括有第二固定座，第二固定座设有导轨安装面，所述的第二发射器和第一测量量具均固定在所述的第二固定座上且第二发射器背向所述的导轨安装面。进一步地，所述的第一固定座和第二固定座均设有底面和顶面，所述的第一发射器固定在第一固定座的顶面上并背向第一固定座的底面，所述的第二发射器固定在所述第二固定座上且背向所述的导轨安装面，所述的第一测量量具固定在第二固定座的底面上并背向第二固定座的顶面。3所述第一发射器与第二发射器正面均设有射线发射孔，所述的第一测量量具上设有定位参考孔和偏差比较刻度线。所述第二测量量具设于第二发射器的正面，该第二测量量具上设有对向比较刻度线。进一步地，所述的对向比较刻度线直接设在第二发射器的正面。所述的第一固定座和第二固定座均设有锁紧装置以及与导轨相配合的安装槽口，该第一固定座和第二固定座通过所述的锁紧装置固定安装在导轨上。所述的第一测量量具还可以是电子测量量具或是其他用于反映第一发射器所发出的射线在第一测量量具上的投影位置的测量量具。下面对前述技术方案的优点或原理进行说明I、所述的射线发射装置固定在已安装导轨上，按目前导轨的安装顺序，即固定在已安装的下导轨的上端，并且第一发射器能发出与所述下导轨的纵向相平行的射线，所述的定位检测装置固定在待安装导轨上，按目前导轨的安装顺序，即固定在待安装的上导轨的上端，并且第一测量量具面向所述的第一发射器，则第一发射器所发出的射线能够投影至所述的第一测量量具上，从而在第一测量量具上能反映出待安装的上导轨相对于已安装的下导轨的位置状态，此时安装人员根据该位置状态可以反映或测出所述上导轨相对于下导轨的纵向垂直度、横向垂直度和挠曲值，并据此对上导轨进行调整，以满足安装要求。第二发射器背向导轨安装面，则第二发射器发出的射线可以投影至其对面另一根直梯上导轨的定位检测装置的第二测量量具上，因而根据第二发射器的射线在该第二测量量具上的投影，可以调整待安装的上导轨与其对面的上导轨之间的对向平行度。因此使用该导轨的安装校正工具能精确反映或测出导轨安装过程中的所需参数，并能有效提高导轨的安装效率和安装精度。2、射线发射装置可通过其第一固定座而固定在已安装的下导轨的上端，定位检测装置可通过其第二固定座固定在待安装的上导轨的上端。3、安装时，将第一固定座的顶面和第二固定座的顶面同向设置，则能使第一发射器所发出的射线能投影至与该第一发射器相配合的第一测量量具上，所述的第二发射器背向所述的导轨安装面，则能使第二发射器发出的射线能投影至其对面的定位检测装置的第二测量量具上，以便测出或调整上导轨之间的对向平行度。4、所述的第一发射器与第二发射器通过其射线发射孔发出射线，第一发射器的射线发射孔与定位参考孔和偏差比较刻度线相配合，则根据第一发射孔所发出的射线在第一测量量具上的投影位置与偏差比较刻度线或定位参考孔之间的偏移距离便能反映或测量出上导轨相对于下导轨的纵向垂直度、横向垂直度和挠曲值，并能据此对待安装的上导轨进行调整，以满足安装要求；进一步地，只要调整待安装的上导轨使第一发射器所发出的射线能射进所述的定位参考孔中，便可确保上导轨和下导轨之间的相对位置能满足安装要求。5、所述第二测量量具上设有对向比较刻度线，则可以根据第二发射器所发出的射线在其对面另一个定位检测装置的第二测量量具的对向比较刻度线上的投影位置测出或调整上导轨之间的对向平行度，另外，还可根据样线在对向比较刻度线上所对应的位置来调整上导轨的绝对位置。6、所述的第一固定座和第二固定座设有锁紧装置以及与导轨相配合的安装槽口，所述的射线发射装置与定位检测装置通过锁紧装置固定地安装在导轨的上端，则该射线发射装置与定位检测装置携带方便，可在导轨上快速拆装，方便施工人员使用。7、当待安装的上导轨与已安装的下导轨安装有偏差时，第一发射器所发出的激光 会在第一测量量具上产生偏移距离，该偏移距离与挠曲值之间存在一定的比例关系，则根据待安装的上导轨的长度、已安装的下导轨的长度甚至辅助测量工具一起同所述偏移距离和挠曲值之间的几何关系运算，可以得到所述偏移距离与挠曲值之间的比例系数，从而只要测出该偏移距离即可得到所述的挠曲值，在该过程中，实际上是将挠曲值“放大” 了几倍甚至数十倍进行观察和测量。因此本专利技术可实现对挠曲值的高精度测量。8、所述的导轨的安装校正方法能精确反映或测出导轨安装过程中所需的参数，并能有效提高导轨的安装效率和安装精度。附图说明图I是本专利技术实施例所述的导轨的安装校正工具的总体结构示意图。图2是B的局部放大图。图3是本专利技术实施例所述定位检测装置在导轨上的装配结构示意图。图4是传统方法测量挠曲值的原理图。图5是本专利技术高精度测量挠曲值的简化原理图。附图标记说明I、射线发射装置，101、第一发射器，102、第一固定座，2、定位检测装置，201、第二发射器，202、第二固定座，203、第一测量量具，2031、定位参考孔，2032、偏差比较刻度线，204、对向比较刻度线，3、射线发射孔，4、锁紧旋钮，5、第一上导轨，6、第一下导轨，7、第二上导轨,8、第二下导轨，9、水平尺。具体实施例方式下面对本专利技术的实施例进行详细说明如图I至图3所示，一种导轨的安装校正工具，其包括有用于固定在已安装导轨上的射线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种导轨的安装校正工具，其特征在于，其包括有固定在已安装导轨上的射线发射装置以及固定在待安装导轨上的定位检测装置，所述的射线发射装置包括有第一发射器，所述的定位检测装置包括有第二发射器、第一测量量具及第二测量量具，所述的第一测量量具与所述的第一发射器相配合，第一发射器所发出的射线能投影在第一测量量具上，所述的第二测量量具设在所述的第二发射器上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：魏明栋，郭志海，张文俊，杜永聪，郑松鹤，
申请(专利权)人：日立电梯中国有限公司，
类型：发明
国别省市：