【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于检漏
,具体来说,涉及一种,该方法特别适合用于现场对入口压力可调节的氦质谱检漏仪的校准,具有快捷、方便的特点。
技术介绍
目前,国内对于氦质谱检漏仪的校准只采用单只真空标准漏孔进行校准,因此,可靠性较低。而兰州物理研究所采用的多只真空标准漏孔对氦质谱检漏仪进行校准,给出了氦质谱检漏仪的校准曲线及不确定度,提高了氦质谱检漏仪测试结果的可靠性,但该方法仅仅适用于L300检漏仪的Fine模式(即L300检漏仪的入口压力较低时的模式)。并不适合其他模式,如Gross模式。因此,有必要专利技术一种L300检漏仪在Gross模式下(即检漏 仪的入口压力较大时的模式,航天器单点漏率测试的通常模式)能对氦质谱检漏仪进行校准的方法,以提高航天器单点检漏测试结果的可靠性。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种入口压力可调节的氦质谱检漏仪现场校准的方法,以便提高航天器单点检漏测试结果的可靠性。本专利技术所提供的具体方案如下本专利技术的一种入口压力可调节的氦质谱检漏仪的现场校准方法,包括以下步骤I)吸枪装配在氦质谱检漏仪上,开启氦质谱检漏仪,确保吸枪的调压阀正常工作 ...
【技术保护点】
一种入口压力可调节的氦质谱检漏仪的现场校准方法,包括以下步骤:1)吸枪装配在氦质谱检漏仪上,开启氦质谱检漏仪,确保吸枪的调压阀正常工作并使试验空间相对密闭且无明显空气流动,以保证试验空间内的大气中的氦气浓度不变;2)试验测试:调节检漏仪的入口压力,并实时记录下检漏仪的漏率反应值,数据形式为一个入口压力对应一个漏率反应值;a.待检漏仪的入口压力稳定后,试调节吸枪的调压阀,确保检漏仪的入口压力变化;b.调节检漏仪的入口压力,并实时记录检漏仪的漏率反应值和入口压力,记录对应的漏率反应值和入口压力的次数在10次以上;3)根据对应的入口压力与漏率反应值的数据,进行y=kx形式的线性拟 ...
【技术特征摘要】
1.一种入口压力可调节的氦质谱检漏仪的现场校准方法,包括以下步骤1)吸枪装配在氦质谱检漏仪上,开启氦质谱检漏仪,确保吸枪的调压阀正常工作并使试验空间相对密闭且无明显空气流动,以保证试验空间内的大气中的氦气浓度不变;2)试验测试调节检漏仪的入口压力,并实时记录下检漏仪的漏率反应值,数据形式为一个入口压力对应一个漏率反应值;a.待检漏仪的入口压力稳定后,试调节吸枪的调压阀,确保检漏仪的入口压力变化;b.调节检漏仪的入口压力,并实时记录检漏仪的漏率反应值和入口压力,记录对应的漏率反应值和入口压力的次...
【专利技术属性】
技术研发人员:王勇,孙立臣,闫荣鑫,孙继鹏,王静涛,
申请(专利权)人:北京卫星环境工程研究所,
类型:发明
国别省市:
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