【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体制造领域,尤其涉及一种研磨垫及研磨装置。
技术介绍
在半导体的生产工艺中,经常需要进行化学机械研磨(Chemical MechanicalPolishing, CMP)工艺,化学机械研磨也称为化学机械平坦化(Chemical MechanicalPlanarization)。化学机械研磨工艺是一个复杂的工艺过程,它是将晶圆表面与研磨垫的研磨表面接触,然后,通过晶圆表面与研磨表面之间的相对运动将晶圆表面平坦化,通常采用化学机械研磨设备,也称为研磨机台或抛光机台来进行化学机械研磨工艺。所述研磨装置包括一研磨头,进行研磨工艺时,将要研磨的晶圆附着在研磨头上,该晶圆的待研磨面向下并接触相对旋转的研磨垫,研磨头提供的下压力将该晶圆紧压到研磨垫上,所述研磨垫是粘贴于研磨平台上,当该研磨平台在马达的带动下旋转时,研磨头也进行相应运动;同时,研磨液通过研磨液供应单元输送到研磨垫上,并通过离心力均匀地分布在研磨垫上。·请参阅图1,现有的研磨垫10的研磨表面上均勻分布着若干圆形沟槽11,这些圆形沟槽11具有相同的圆心,其以研磨垫10的中心为圆心。在研磨垫10的研磨表 ...
【技术保护点】
一种研磨垫,其特征在于,所述研磨垫包括内部区域和外部区域,所述外部区域位于所述内部区域的外侧,所述内部区域内设有若干同心的圆形沟槽,所述若干同心的圆形沟槽以研磨垫的中心为圆心,所述外部区域间隔设置若干由内向外发散的导流槽。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:唐强,洪中山,
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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