触摸面板制造技术

本发明专利技术提供一种触摸面板，其即使将最大触摸点数设定很多也能够在固定时间内完成触摸检测。控制部根据X电极与Y电极的电极间电容值来检测触摸面板的触摸点，求出检测出的该各触摸点的临时坐标。控制部根据各触摸点的状态，对每个触摸点决定得到高坐标精度的优先级。控制部从多个坐标计算算法中选择具有与各触摸点的优先级相应的坐标精度的算法，计算出用于计算全部触摸点的坐标的所需运算时间。控制部决定优先级以使得计算出的所需运算时间为规定时间以下。控制部选择与该优先级对应的坐标计算算法，计算各触摸点的坐标。

【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种触摸面板，特别是涉及一种在规定时间内完成触摸检测的触摸面板装置。
技术介绍
显示装置使用于PDA或便携 式终端等可移动电子设备、各种家电产品、以及自动存取款机(Automated Teller Machine)等,该显示装置具备在显示画面上使用“使用者的手指”或者笔等进行触摸操作(接触按压操作，以下简称为触摸)而输入信息的装置(以下，还称为触摸传感器或者触摸面板)。作为这种触摸面板，可知对触摸到的部分的电阻值变化进行检测的电阻膜方式、对电容变化进行检测的静电电容方式以及对光量变化进行检测的光传感器方式等。静电电容方式的触摸面板具备在纵向方向上延伸的多个检测用的电极(X电极)以及在横向方向上延伸的多个检测用的电极(Y电极)，通过输入处理部对相互交叉的X电极与Y电极的电极间电容进行检测。在触摸面板的表面接触手指等导体的情况下，配置在接触部位的电极的电容增加，因此输入处理部检测其电容变化,根据各电极所检测到的电容变化信号来计算输入坐标(触摸点)。专利文献I :日本特开2008-287376号公报
技术实现思路
然而，在以往的触摸面板中，存在触摸检测时间与触摸点成正比地增加这种问题。因此，即使在同时进行多个触摸的情况下，为了在规定时间内完成触摸检测，也需要将要检测的触摸点的上限数(最大触摸点)设定为较少(例如，2 4点左右)。本专利技术是为了解决上述以往技术的问题而完成的，本专利技术的目的在于，即使将最大触摸点数设定很多也能够在规定时间内完成触摸检测的触摸面板。根据本说明书的说明以及附图来说明本专利技术的上述和其它目的以及新特征。简单说明本申请所公开的专利技术中具有代表性的技术方案的概要如下。(I) 一种触摸面板，其特征在于，具有多个X电极；多个Y电极；测量部，其对上述多个X电极与上述多个Y电极之间的电极间电容进行测量；存储部，其保存上述多个X电极与上述多个Y电极之间的电极间电容值；以及控制部，其具有所得到的坐标精度互不相同的多个坐标计算算法，选择上述多个坐标计算算法中的一个，根据保存在上述存储部中的上述电极间电容值，运算对触摸面板的触摸位置的坐标，其中，上述控制部具有第一单元，其根据保存在上述存储部中的上述电极间电容值，检测对触摸面板的触摸点，求得检测出的各触摸点的临时坐标；第二单元，其根据上述各触摸点的状态，决定用于在上述触摸点相互之间得到高坐标精度的优先级；第三单元，其对上述每个触摸点选择与通过上述第二单元决定的上述优先级相对应的坐标计算算法，估计对上述检测出的全部触摸点的坐标进行计算时的运算时间；第四单元，其判断通过上述第三单元估计出的上述运算时间是否在预先确定的规定时间内；第五单元，其在上述第四单元中判断为通过上述第三单元估计出的上述运算时间不在上述规定时间内的情况下，再次执行上述第三单元；以及第六单元，其在上述第四单元中判断为通过上述第三单元估计出的上述运算时间在上述规定时间内的情况下，根据通过上述第二单元所决定的上述优先级，选择与该优先级对应的坐标计算算法，计算上述各触摸点的坐标。(2)在上述(I)的触摸面板中，上述存储部具有算法信息，该算法信息保存有上述坐标计算算法的一览表、使用上述各坐标计算算法进行计算时的所需时间、所得到的坐标精度，上述控制部的上述第三单元参照上述算法信息，选择与上述优先级对应的上述坐标计算算法，求出计算上述全部触摸点的坐标所需的上述运算时间。(3)在上述(I)的触摸面板中，上述存储部具有触摸检测设定，该触摸检测设定保存有与同时进行了多个触摸的情况下有关的、计算坐标的触摸点个数的上限即最大触摸点数，以及在触摸检测处理中被允许的坐标计算时间，上述控制部的上述第一单元在检测出的触摸点的总数超过上述触摸检测设定的上述最大触摸点的情况下，中止上述触摸点的检测，上述控制部的上述第四单元使用上述触摸检测设定的上述坐标计算时间作为上述规定 时间。(4)在上述(3)的触摸面板中，能够从上述触摸面板的外部设定上述触摸检测设定的上述最大触摸点数和上述坐标计算时间。(5)在上述⑴的触摸面板中，上述存储部具有区域设定，该区域设定保存有触摸面板上的特定区域、以及在上述特定区域内要求的坐标精度，上述控制部的上述第二单元决定与上述特定区域的上述坐标精度对应的优先级，作为上述区域设定的上述特定区域内的触摸点的上述优先级。(6)在上述(5)的触摸面板中，能够从上述触摸面板的外部设定上述区域设定的上述特定区域和上述特定区域的上述坐标精度。(7)在上述(I)的触摸面板中，上述控制部的上述第二单元首先对上述各触摸点决定用于得到最高坐标精度的上述优先级，在根据上述第四单元的判断结果来再次决定上述各触摸点的上述优先级的情况下，对特定的触摸点附加高等级，对除此以外的触摸点附加低等级。(8)在上述(7)的触摸面板中，上述控制部的上述第二单元在根据上述第四单元的判断结果来再次决定上述各触摸点的上述优先级的情况下，对移动速度慢的触摸点附加高等级，对移动速度快的触摸点附加低等级。(9)在上述(I)的触摸面板中，上述存储部具有触摸点管理表，该触摸点管理表按通过上述控制部的上述第一单元检测出的上述每个触摸点保存有触摸点的临时坐标、请求坐标精度、等级以及坐标计算算法，在上述触摸点管理表的各项目中保存有通过上述控制部的上述第一单元和上述第二单元得到的值。(10)在上述(I)的触摸面板中，上述存储部具有触摸检测结果，该触摸检测结果按通过上述控制部的上述第一单元检测出的上述每个触摸点保存有触摸点的坐标和坐标精度，在上述触摸检测结果的各项目中保存有通过上述控制部的上述第一单元和上述第六单元得到的值。(11)在上述(I)的触摸面板中，上述控制部按通过上述第一单元检测出的上述每个触摸点将触摸点的坐标和坐标精度向外部通知。简单说明本申请所公开的专利技术中具有代表性的技术方案的概要如下。根据本专利技术，能够提供一种触摸面板，其即使将最大触摸点数设定很多也能够在固定时间完成触摸检测。附图说明图I是表示本专利技术实施例的触摸面板的整体概要结构的框图。图2是表示图I示出的信号值的结构与值的一例的示意图。图3是表示图I示出的算法信息的项目与值的一例的示意图。 图4是表示图I示出的触摸检测设定的项目与值的一例的示意图。图5是表示图I示出的区域设定的项目与值的一例的示意图。图6是表不用户接口的一例的不意图。图7是表示图I示出的触摸点管理表的项目的示意图。图8是表示本专利技术实施例的触摸面板的触摸检测处理的处理过程的流程图。图9是表示本专利技术实施例的触摸面板中检测为信号值的触摸点的一例的示意图。图10是表示本专利技术实施例的触摸面板中前一循环中的触摸点的一例的示意图。图11是表示本专利技术实施例的触摸面板中当前循环中的触摸点的一例的示意图。图12是表不图8的步骤S2中的触摸点管理表的一例的不意图。图13是表示图8的步骤S3中的触摸点管理表的一例的示意图。图14是表不图8的步骤S4中的触摸点管理表的一例的不意图。图15是表不图8的步骤S5中的触摸点管理表的一例的不意图。图16是表示本专利技术实施例的触摸面板中触摸检测结果的项目与值的一例的示意图。图17是表示本专利技术实施例的触摸面板中将触摸检测结果的内容发送给主机装置时的通信协议的示意图。附图标记的说明I :触摸面板；2 :电容检测部；3 :控本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触摸面板，其特征在于，具有：多个X电极；多个Y电极；测量部，其对上述多个X电极与上述多个Y电极之间的电极间电容进行测量；存储部，其保存上述多个X电极与上述多个Y电极之间的电极间电容值；以及控制部，其具有所得到的坐标精度互不相同的多个坐标计算算法，选择上述多个坐标计算算法中的一个，根据保存在上述存储部中的上述电极间电容值，运算对触摸面板的触摸位置的坐标，其中，上述控制部具有：第一单元，其根据保存在上述存储部中的上述电极间电容值，检测对触摸面板的触摸点，求得该检测出的各触摸点的临时坐标；第二单元，其根据上述各触摸点的状态，决定用于在上述触摸点相互之间得到高坐标精度的优先级；第三单元，其对上述每个触摸点选择与通过上述第二单元决定的上述优先级相对应的坐标计算算法，估计对上述检测出的全部触摸点的坐标进行计算时的运算时间；第四单元，其判断通过上述第三单元估计出的上述运算时间是否在预先确定的规定时间内；第五单元，其在上述第四单元中判断为通过上述第三单元估计出的上述运算时间不在上述规定时间内的情况下，再次执行上述第三单元；以及第六单元，其在上述第四单元中判断为通过上述第三单元估计出的上述运算时间在上述规定时间内的情况下，根据通过上述第二单元所决定的上述优先级，选择与该优先级对应的坐标计算算法，计算上述各触摸点的坐标。...

【技术特征摘要】
2011.07.28 JP 2011-1653551.一种触摸面板，其特征在于，具有 多个X电极； 多个Y电极； 测量部，其对上述多个X电极与上述多个Y电极之间的电极间电容进行测量； 存储部，其保存上述多个X电极与上述多个Y电极之间的电极间电容值；以及控制部，其具有所得到的坐标精度互不相同的多个坐标计算算法，选择上述多个坐标计算算法中的一个，根据保存在上述存储部中的上述电极间电容值，运算对触摸面板的触摸位置的坐标， 其中，上述控制部具有 第一单元，其根据保存在上述存储部中的上述电极间电容值，检测对触摸面板的触摸点，求得该检测出的各触摸点的临时坐标； 第二单元，其根据上述各触摸点的状态，决定用于在上述触摸点相互之间得到高坐标精度的优先级； 第三单元，其对上述每个触摸点选择与通过上述第二单元决定的上述优先级相对应的坐标计算算法，估计对上述检测出的全部触摸点的坐标进行计算时的运算时间； 第四单元，其判断通过上述第三单元估计出的上述运算时间是否在预先确定的规定时间内； 第五单元，其在上述第四单元中判断为通过上述第三单元估计出的上述运算时间不在上述规定时间内的情况下，再次执行上述第三单元；以及 第六单元，其在上述第四单元中判断为通过上述第三单元估计出的上述运算时间在上述规定时间内的情况下，根据通过上述第二单元所决定的上述优先级，选择与该优先级对应的坐标计算算法，计算上述各触摸点的坐标。2.根据权利要求I所述的触摸面板，其特征在于， 上述存储部具有算法信息，该算法信息保存有上述坐标计算算法的一览表、使用上述各坐标计算算法进行计算时的所需时间、所得到的坐标精度， 上述控制部的上述第三单元参照上述算法信息，选择与上述优先级对应的上述坐标计算算法，求出计算上述全部触摸点的坐标所需的上述运算时间。3.根据权利要求I所述的触摸面板，其特征在于， 上述存储部具有触摸检测设定，该触摸检测设定保存有与同时进行了多个触摸的情况下有关的、计算坐标的触摸点个数的上限即最大触摸点数，以及在触摸检测处理中被允许的坐标计算时间， 上述控制部的上述第一单元在检测出的触摸点的总数超过...

【专利技术属性】
技术研发人员：土井宏治，永田浩司，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器东，
类型：发明
国别省市：