【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于一种触控感测方法及触控传感器，且特别有关于使用内嵌式触控传感器的触控区加强演算法的触控感测方法及触控传感器。
技术介绍
在触控面板中，内嵌式触控传感器(in-cell touch sensor, ITS)的电极基本上会位于像素区的内部，这是因为受限于复杂的周边电路以及例如行动电话等显示装置有着边框狭窄化的需求。图I表示根据已知技术的触控面板的有效触控区。触控面板10包括多个位于像素区11上的像素，以及位于触控感测区12上的内嵌触控传感器。根据上述的理由，触控感 测区12 —般都会如图I所示，小于像素区11。在图I中，触控面板10的解析度以VGA解析度(640X480)为例。在水平方向，每480个像素排成一列，在铅直方向每640个像素排成一行。若给予每个像素一座标来表示该像素的位置，位于像素区11左下角的像素的位置可以表示为(XpiX，YpiX) = (l，I),像素区11右上角的像素的位置可以表示为(Xpix，Ypix) = (480，640)。而内嵌式触控传感器则在水平方向上排列有14个行电极，在铅直方向上排列有19个列电极。相同地，若给予每个行电极与列电极的交点一座标来表不其位置，位于触控感测区12左下角的像素的位置可以表示为(Xits，Yits) = (l，l)，触控感测区12右上角的像素的位置可以表示为(Xits，Yits) = (14，19)。在此，需注意的是在角落的像素即位于像素区11的边缘，但在角落的行电极与列电极的交点则位于触控感测区12的内部。因此，内嵌式触控传感器包括了一个位于触控感测区12内部的有效触控区13。而因为行电极...
【技术保护点】
一种触控检测方法，包括：扫描一触控传感器的列电极或行电极，以获得该触控传感器的触控资料；根据该触控资料将多个座标标记为触控影像；以像素区边缘为对称轴，分别将该触控影像中对应在x方向上邻接该像素区边缘的至少一该行电极的触控资料，以及该触控影像中对应在y方向上邻接该像素区边缘的至少一该列电极的触控资料，镜像复制到至少一对应触控感测区外的位置；加权计算出该触控影像的中心点位置（xave,yave）；以及输出该触控影像的中心点位置（xave,yave）。
【技术特征摘要】
2011.06.13 US 13/158,9241.一种触控检测方法，包括 扫描一触控传感器的列电极或行电极，以获得该触控传感器的触控资料； 根据该触控资料将多个座标标记为触控影像； 以像素区边缘为对称轴，分别将该触控影像中对应在X方向上邻接该像素区边缘的至少一该行电极的触控资料，以及该触控影像中对应在y方向上邻接该像素区边缘的至少一该列电极的触控资料，镜像复制到至少一对应触控感测区外的位置； 加权计算出该触控影像的中心点位置(X·，yave);以及 输出该触控影像的中心点位置(X·，yave)ο2.如权利要求I所述的触控检测方法，其特征在于，邻近该像素区边缘的至少一该行及列电极包括由该像素区边缘往内数过去的第2行电极及第2列电极。3.如权利要求I所述的触控检测方法，其特征在于，对应该触控感测区外的位置与该像素区边缘的距离等于该触控资料被复制的位置与该像素区边缘的距离。4.如权利要求I所述的触控检测方法，其特征在于，该触控影像的中心点位置(x_，y·)是根据以下算式计算而得，其中vx,y是在位置U，y)的该触控资料，以电容值来表示触控位准，M是该行电极的数目，N是该列电极的数目5.如权利要求4所述的触控检测方法，其特征在于，该算式是将该触控感测区的座标系统的四个角落的资料计算视为特例，其中当 x=y=l W, Xmod=Ymod=O, k=4 ；当 X = Μ, y=l 时，xmod=4M+4, ymod=0, k=4 ；当 X = 1，y=N 时，xmod=0, ymod=4N+4, k=4 ；以及当 X = M, y=N 时，xmod=4M+4, ymod...
【专利技术属性】
技术研发人员：住尚树，松井义和，
申请(专利权)人：群康科技深圳有限公司，奇美电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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