高电压测试装置制造方法及图纸

一种高电压测试装置，包括底座、测试基座、固定单元以及测试单元，其中测试基座、固定单元以及测试单元皆设置于底座上。测试基座具有容置口以及测试探针，其中测试探针位于容置口内，而固定单元及测试单元位于测试基座的相对侧，且测试单元包括第一固定壁、第一驱动组件以及弧形探针。第一固定壁设置于底座上，而第一驱动组件可动地设置于第一固定壁上以相对靠近或远离底座，且弧形探针连接第一驱动组件，并受第一驱动组件驱动而伸出或缩回。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关于一种测试装置，且特别是有关于一种高电压测试装置。
技术介绍
目前电子器件的制造日益精良，因此，测试各种电子器件的电压特性及电气特性也越来越重要。测试项目包括输入电压、输出电压、输出电流、输出负载、输出功率、输出噪声、电源效率、高电压/高电流及短路测试等。一般来说，制造商对所制造的电子装置或电子组件有明确的操作手册以给予终端使用者使用指导。而为了防止触电、静电释放、热及电磁波等给人体带来伤害，电子装置或电子组件均须符合电气的安全标准。举例而言，在对电子器件进行耐高电压测试(ΗΙ-Ρ0ΤTEST)时，须满足对电子器件施加正常运行中不常见的高电压，以测试所述电子器件的绝缘 性能和内部电容的耐高电压能力。图I为传统的一种灯具的高电压测试装置及适用于此高电压测试装置的灯具的示意图。请参考图1，此种高电压测试装置100用于检测具有散热器的灯具200。详细而言，传统的高电压测试装置100的底座110上设置有测试基座120，而具有散热器的灯具200即是将其底部210插置在此测试基座120中，且此具有散热器的灯具200的底部210会与位在测试基座120中的测试端子122接触，而散热器220会暴露于测试基座120之外。在进行高电压测试的时候，同样设置在底座110上而位于测试基座120旁的测试单元130会将针型探针132伸出抵顶住灯具200的散热器220，然后对针型探针132施以高电压以进行测试。由上述可以发现，这样的高电压测试装置100，因为针型探针132会抵顶住同样也是金属的散热器220以进行测试，所以只能够对具有散热器的灯具200进行检测；而如果是将未具有散热器220的烛光式灯具(如图3示)放置于这样的高电压测试装置100而欲进行高电压测试时，针型探针132是抵顶在非金属的灯壳上，测试并无法完成，因此并不能通用于其它不具有散热器的灯具200。若仍是要以此高电压测试装置100对不具有散热器的灯具进行测试，还需要另外在灯壳上面包覆层导电层，导致人工及材料的成本增加。此外，具有散热器的灯具200—侧会受到针型探针132的抵顶，而另外一侧并无固定装置用以固定此具有散热器的灯具200，因此难免会影响检测结果。
技术实现思路
本技术提供一种可适用于各种形状的灯具的高电压测试装置。本技术提供一种高电压测试装置，包括底座、测试基座、固定单元以及测试单元，其中测试基座、固定单元以及测试单元皆设置于底座上。测试基座具有容置口以及测试探针，其中测试探针位于容置口内，而固定单元及测试单元位于测试基座的相对侧，且测试单元包括第一固定壁、第一驱动组件以及弧形探针。第一固定壁设置于底座上，而第一驱动组件可动地设置于第一固定壁上以相对靠近或远离底座，且弧形探针连接第一驱动组件，并受第一驱动组件驱动而伸出或缩回。在本技术的高电压测试装置的实施例中，上述的测试探针为电路端点、针形探针或弧形探针。在本技术的高电压测试装置的实施例中，上述的固定单元包括第二固定壁、第二驱动组件以及固定组件。第二固定壁设置于底座上，且第一固定壁与第二固定壁的法线方向互相平行，而第二驱动组件可动地设置于第二固定壁上以相对靠近或远离底座，且固定组件连接第二驱动组件，并受第二驱动组件驱动而伸出或缩回。此外，第二驱动组件为汽缸，而固定组件的形状与弧形探针形状相同。在本技术的高电压测试装置的实施例中，上述的第一驱动组件为汽缸。在本技术的高电压测试装置的实施例中，更包括设置于弧形探针与第一驱动组件之间的缓冲单元，且缓冲单元包括第一固定块、第二固定块以及弹簧。第一固定块固定于第一驱动组件，而弧形探针固定于第二固定块，且弧形探针朝向固定单元设置，而弹簧连接于第一固定块及第二固定块之间。在本技术的高电压测试装置的实施例中，更包括设置于底座内的处理单元，且处理单元与固定单元及测试单元电连接。在本技术的高电压测试装置的实施例中，更包括与处理单元电连接控制/输出接口，此控制/输出接口为计算机。在本技术的高电压测试装置的实施例中，更包括多条电线，且其中一条电线连接于测试探针及处理单元之间，其中另一条电线连接于弧形探针及处理单元之间，而其中又一条电线连接于控制/输出接口与处理单元之间。基于上述，于本技术的高电压测试装置中，烛光式灯具(未设置有散热器)或是具有散热器的灯具皆可通过弧形探针而握持住以进行高电压测试。相较于传统的高电压测试装置中只使用针型探针132所以只能对具有散热器的灯具进行高电压测试，本技术的高电压测试装置所能够测试的灯具类型较多。为让本技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。附图说明图I为传统一种灯具的高电压测试装置及适用于此高电压测试装置的灯具的示意图。图2为本技术一实施例的高电压测试装置的示意图。图3为应用图2的高电压测试装置进行高电压测试的烛光式灯具的示意图。主要组件符号说明100、300 :高电压测试装置200 :具有散热器的灯具110、310:底座120,320 :测试基座122 :测试端子130,340 :测试单元132 :针型探针210 :具有散热器的灯具的底部220 :散热器322:容置口33O:固定单元332 :第二固定壁334 :第二驱动组件336:固定组件·342 :第一固定壁342a:开槽344 :第一驱动组件346 :弧形探针350 :处理单元360:控制/输出接口370 :缓冲单元372 :第一固定块374 :第二固定块376 :弹簧400:烛光式灯具410:烛光式灯具的底部N1、N2、N3 :法线方向具体实施方式有鉴于传统的高电压测试装置只能够对具有散热器的灯具进行高电压测试，不能通用于其它不具有散热器的灯具，而本技术通过修改了探针的形状而使探针可达到挟持不同形状或种类的灯具且又可同时对灯具进行高电压测试的效果，因此本技术的高电压测试装置可通用于对不同形状或种类的灯具进行高电压测试。以下将对本技术的高电压测试装置进行进一步的说明。图2为本技术一实施例的高电压测试装置的示意图。请参考图2，本实施例的高电压测试装置300包括底座310、测试基座320、固定单元330以及测试单元340，其中测试基座320、固定单元330以及测试单元340皆设置于底座310上。测试基座320具有容置口 322以及测试探针(未绘示)，其中测试探针(未绘示)位于容置口 322内，而固定单元330及测试单元340位于测试基座320的相对侧，且本实施例的测试单元340包括一对第一固定壁342、第一驱动组件344以及弧形探针346。第一固定壁342设置于底座310上，而第一驱动组件344可动地设置于第一固定壁342上以相对靠近或远离底座310，且弧形探针346连接第一驱动组件344，并受第一驱动组件344驱动而伸出或缩回。在本实施例中，上述的测试基座320的形式可与一般家用的灯具的底座相同，而测试探针(未绘示)可为选用自电路端点、针形探针或是弧形探针的其中一种，依照实际需求选用。另外，设置在底座310上的第一固定壁342的法线方向NI与底座310的法线方向N2互相垂直，且每一个第一固定壁342具有一对开槽342a，而第一驱动组件344即是对应位于这对第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高电压测试装置，其特征在于，包括：底座；测试基座，设置于所述底座上，具有容置口以及测试探针，其中所述测试探针位于所述容置口内；固定单元，设置于所述底座上；测试单元，设置于所述底座上，并与所述固定单元位于所述测试基座的相对侧，所述测试单元包括：第一固定壁，设置于所述底座上；第一驱动组件，可动地设置于所述第一固定壁上以相对靠近或远离所述底座；以及弧形探针，连接所述第一驱动组件，并受所述第一驱动组件驱动而伸出或缩回。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邱钰莲，吕俊昌，林宜政，于浩，夏中卫，
申请(专利权)人：泰金宝光电苏州有限公司，泰金宝电通股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：