用于晶体管电流及电压测试的测试设备制造技术

技术编号:9327317 阅读:126 留言:0更新日期:2013-11-08 01:29
本实用新型专利技术提供一种用于晶体管电流及电压测试的测试设备,其中,所述测试设备包括:光源本体;用于利用所述光源本体所发出光线获取待测位置的图像采集装置,所述图像采集装置包括图像采集镜头;位置可调节的探针,对所述待测位置进行电流及电压测试时,所述探针位于所述待测位置处;用于生成单波段光线来照射所述探针以进行晶体管电流及电压测试的分光计,所述分光计连接有出光光纤,所述出光光纤的光纤镜头与所述图像采集镜头保持固定距离。所述测试设备能够实现薄膜晶体管TFT在单色、单波段光线照射下的光电流测试。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于晶体管电流及电压测试的测试设备,其特征在于,所述测试设备包括:光源本体;用于利用所述光源本体所发出光线获取待测位置的图像采集装置,所述图像采集装置包括图像采集镜头;位置可调节的探针,对所述待测位置进行电流及电压测试时,所述探针位于所述待测位置处;用于生成单波段光线来照射所述探针以进行晶体管电流及电压测试的分光计,所述分光计连接有出光光纤,所述出光光纤的光纤镜头与所述图像采集镜头保持固定距离。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张玉军
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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