基于子系统分解的LED照明灯具加速试验方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于子系统分解的LED照明灯具加速试验方法，首先，将LED灯具系统分解为若干个功能独立的子系统；然后，在保持整个系统能闭合工作的前提下，将目标子系统置于加速试验环境中，并进行可靠性加速试验；通过利用加速试验过程中测量的数据结果，外推得到目标子系统的可靠度函数；最后，结合各子系统与整灯系统性能变化的相关性，应用系统可靠性统计分析方法综合各子系统的可靠度函数，进而推导出整个LED灯具系统的可靠度函数，实现整灯系统的可靠性评估。本发明专利技术的方法避免了直接针对整灯系统的可靠性加速试验的复杂性甚至不可行性，其不仅可用于LED照明灯具的可靠性加速试验评估中，而且可作为其它复杂系统加速试验评估的借鉴。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种试验方法，尤其涉及一种基于子系统分解的LED照明灯具可靠性加速试验方法。
技术介绍
LED (Light Emitting Diode)因其寿命长,无污染,高效节能等优点而备受青睐。在通用照明领域，它的广泛应用将是继白炽灯之后的又一场革命。然而，现阶段缺乏切实可行的LED照明灯具可靠性加速试验方法及标准，这成为制约LED进入通用照明领域的瓶颈。美国能源之星提出对试验样品进行至少6000小时的常温试验，而这样的要求 对于力图高效开发的企业来说难以实行。如果需要在更短的时间得出产品的可靠性，需要使用更苛刻、较高的环境应力对产品进行加速试验。其次，如Van Driel WD等人在文献“ Van Driel WD, Yuan CA, et al. LED system reliability. IEEE EuroSimEproceedings, 2011. 1/5 - 5/5. ”中指出LED灯具整灯不可预知的失效模式太多，成为可靠性试验评估中最大的挑战。特别是在高应力水平的加速条件下，在LED灯具的光源部分还没退化之前，灯具的驱动电源、接口等薄弱的子系统就出现不可预知的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于子系统分解的LED照明灯具加速试验方法，其特征是：包括如下步骤：（1）依据不同的功能模块，将LED灯具系统分解为相互独立的若干个不同的子系统；（2）在各子系统原有的电气连接处用导线引出连接端口，保证各连接端口的可靠性与易用性；（3）将目标子系统置于加速试验环境中，联接各子系统的连接端口，使整个系统保持闭合工作状态，实现目标子系统分离式的可靠性加速试验；（4）在加速试验过程的各时间节点，测量并收集LED灯具系统性能退化参数及样品失效数据；（5）通过利用加速试验过程中测量的数据结果，外推并得到目标子系统的可靠度函数；（6）对其它子系统，重复步骤（3），（4），（5），得到各个子系统的可靠度...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡苗，杨道国，陈文彬，梁丽丽，龚铭，田万春，唐红雨，贾红亮，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：