一种光电式深度检具制造技术

技术编号:8202342 阅读:176 留言:0更新日期:2013-01-10 19:02
本实用新型专利技术提供了一种光电式深度检具,其能更准确的测量出盲孔深度,提高产品检测的准确度。其包括塞规本体、带盲孔的工件,其特征在于:所述塞规本体上开有垂直向的通孔,导线贯穿所述通孔后,其最下端外露的铜丝和所述塞规本体的下端面平齐,所述导线的另一端顺次连接灯泡、电池一极,另一根导线连接所述电池的另一极、塞规本体。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本实用新 型涉及盲孔深度检具结构
,具体为一种光电式深度检具
技术介绍
现有的盲孔深度检具,对于工件上盲孔的深度,其不容易判定其是否已塞至孔的底部,导致实测的孔深不准确。
技术实现思路
针对上述问题,本技术提供了一种光电式深度检具,其能更准确的测量出盲孔深度,提高产品检测的准确度。一种光电式深度检具,其技术方案是这样的其包括塞规本体、带盲孔的工件,其特征在于所述塞规本体上开有垂直向的通孔,导线贯穿所述通孔后,其最下端外露的铜丝和所述塞规本体的下端面平齐,所述导线的另一端顺次连接灯泡、电池一极,另一根导线连接所述电池的另一极、塞规本体。其进一步特征在于所述通孔内塞装有绝缘体。采用本技术后,将塞规本体塞进带盲孔的工件的盲孔中,若塞规已塞到底,SP塞规与盲孔底部接触,则塞规本体、带盲孔的工件与电池、小灯泡形成闭合回路,灯泡亮;反之,若塞规本体未塞到底,则灯泡不亮,其能更准确的测量出盲孔深度,提高产品检测的准确度。附图说明图I是本技术的主视图结构示意图。具体实施方式见图1,其包括塞规本体I、带盲孔的工件2,塞规本体I上开有垂直向的通孔3,通孔3内塞装有绝缘体4,导线5贯穿通孔3内的绝缘体4后,导线5最下端外露的铜丝5和塞规本体I的下端面平齐,导线5的另一端顺次连接灯泡6、电池7的负极,另一根导线8连接电池7的正极、塞规本体I。权利要求1.一种光电式深度检具,包括塞规本体、带盲孔的工件,其特征在于所述塞规本体上开有垂直向的通孔,导线贯穿所述通孔后,其最下端外露的铜丝和所述塞规本体的下端面平齐,所述导线的另一端顺次连接灯泡、电池一极,另一根导线连接所述电池的另一极、塞规本体。2.根据权利要求I所述的一种光电式深度检具,其特征在于所述通孔内塞装有绝缘体。专利摘要本技术提供了一种光电式深度检具,其能更准确的测量出盲孔深度,提高产品检测的准确度。其包括塞规本体、带盲孔的工件,其特征在于所述塞规本体上开有垂直向的通孔,导线贯穿所述通孔后,其最下端外露的铜丝和所述塞规本体的下端面平齐,所述导线的另一端顺次连接灯泡、电池一极,另一根导线连接所述电池的另一极、塞规本体。文档编号G01B7/26GK202661037SQ201220281889公开日2013年1月9日 申请日期2012年6月15日 优先权日2012年6月15日专利技术者袁小静, 郎晓东, 陈琳, 顾庆华, 倪晓明, 庄绪雷 申请人:鹰普(中国)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电式深度检具,包括塞规本体、带盲孔的工件,其特征在于:所述塞规本体上开有垂直向的通孔,导线贯穿所述通孔后,其最下端外露的铜丝和所述塞规本体的下端面平齐,所述导线的另一端顺次连接灯泡、电池一极,另一根导线连接所述电池的另一极、塞规本体。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:袁小静郎晓东陈琳顾庆华倪晓明庄绪雷
申请(专利权)人:鹰普中国有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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