一种检测晶片的调节装置制造方法及图纸

技术编号:8190394 阅读:180 留言:0更新日期:2013-01-10 01:28
本发明专利技术公开了一种检测晶片的调节装置,该装置包括:2个调节螺钉1、1个固定螺钉2、1个激光器3、1个接收器4。其特征在于:激光器3的激光随着调节螺钉1的松动而变化方向,此装置要先调整调节螺钉1,两个调节螺钉1交换调节,直至激光器3的激光在无晶片的情况下,接收器4接收到激光。就表明调节螺钉1调整完毕,在拧紧固定螺钉2。固定螺钉2用来固定此调节装置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测晶片的调节装置,在检测机械手上是否有无晶片的调节装置中得到充分的应用。
技术介绍
离子注入机是一种通过引导杂质注入半导体晶片,从而改变晶片的传导率的设备,其中,杂质注入的深度和密度的均匀性都直接决定了注入晶片的品质。在晶片传送的过程中,我们采用机械手臂来传送晶片,首先晶片是放在片库的晶片盒子里,需要通过机械手将晶片取出来放到片库中,其次,在等到机械手把片库中的晶片取出来,当在机械手腔中时,系统需要检测机械手臂上是否有晶片,此时激光器发出激光,接收器判断是否接收到激光,若接收到激光,表示机械手上无晶片,进入等待过程,接收器没有接收到激光时,则有晶 片在机械手上,进入相应下一步的操作。判断机械手上是否有晶片对于下一步的操作是非常重要的,通过判断是否有晶片来决定机械手臂是否传送晶片。
技术实现思路
本专利技术通过以下技术方案实现I. 一种检测晶片的调节装置,包括2个调节螺钉(1)、1个固定螺钉(2)、1个激光器(3)、1个接收器(4)。其特征在于,其中所述调节螺钉(I)用来调节激光座子的位置。激光座位置决定激光器(3)发出的激光,当调节螺钉旋转到特定的位置,激光在无晶片本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测晶片的调节装置,其特征在于:该装置包括:2个调节螺钉(1)、1个固定螺钉(2)、1个激光器(3)、1个接收器(4)。其特征在于:激光器(3)的激光随着调节螺钉(1)的松动而变化方向,此装置要先调整调节螺钉(1),两个调节螺钉(1)交换调节,直至激光器(3)的激光在无晶片的情况下,接收器(4)接收到激光。就表明调节螺钉(1)调整完毕,在拧紧固定螺钉(2)。固定螺钉(2)用来固定此调节装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:林萍伍三忠彭立波
申请(专利权)人:北京中科信电子装备有限公司
类型:发明
国别省市:

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