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本发明公开了一种检测晶片的调节装置，该装置包括：2个调节螺钉1、1个固定螺钉2、1个激光器3、1个接收器4。其特征在于：激光器3的激光随着调节螺钉1的松动而变化方向，此装置要先调整调节螺钉1，两个调节螺钉1交换调节，直至激光器3的激光在无晶...
该专利属于北京中科信电子装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中科信电子装备有限公司授权不得商用。

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