一种苹果表面缺陷检测系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种苹果表面缺陷检测系统，所述系统包括：传送装置（1），位于传送装置正上方的光照箱（2）所述光照箱（2）；所述光照箱（2）内部下方安装有可见/近红外复合LED光源装置（3），内部上方正中央安装有点阵近红外结构光投射器（7），所述点阵近红外结构光投射器（7）一侧安装有黑白工业相机（4）和彩色工业相机（6）；所述黑白工业相机（4）通过电缆连接到计算机（10）的近红外图像采集卡（8）上，所述彩色工业相机（6）通过电缆连接到计算机（10）的彩色图像采集卡上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及蔬菜水果检测
，特别涉及。
技术介绍
目前，我国苹果的产后处理水平十分低下，苹果的产后分级处理技术落后严重，制约着我国苹果产业的发展。基于机器视 觉的苹果外部品质分选机可以综合检测苹果的大小，颜色，果形和表面缺陷等主要指标，具有自动，高效，准确，全面，客观和非破坏性检测等优点，在苹果产后分级处理中得到了广泛应用。苹果大小、形状、颜色指标的自动检测方法已比较成熟，而缺陷的快速识别一直是苹果实时分级的障碍，其主要难点是由于苹果表面的缺陷区域和果梗/花萼区域在图像的灰度值上有非常大的相似性，二者在图像上都呈现为暗黑色的斑点，从而导致缺陷与果梗/花萼难以区分。现有的检测苹果表面缺陷的方法主要有特征检测法提取缺陷区域与果梗/花萼区域的特征，利用人工神经网络，支撑向量机等分类器进行识别，这类方法的缺点是识别正确率较低。结构光检测法利用条形结构光在苹果表面上的变形来获取苹果的三维信息，从而将凹陷区域判定为果梗/花萼区域，这类方法的主要缺点是当果梗/花萼区域与结构光投射器的方向一致的时候，条形结构光仅有极微小的变形，导致无法检测苹果表面的凹陷区域。高光谱检测法利用高光谱相机检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种苹果表面缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：传送装置（1），位于传送装置正上方的光照箱（2）所述光照箱（2）；所述光照箱（2）内部下方安装有可见/近红外复合LED光源装置（3），内部上方正中央安装有点阵近红外结构光投射器（7），所述点阵近红外结构光投射器（7）一侧安装有黑白工业相机（4）和彩色工业相机（6）；所述黑白工业相机（4）通过电缆连接到计算机（10）的近红外图像采集卡（8）上，所述彩色工业相机（6）通过电缆连接到计算机（10）的彩色图像采集卡上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵春江，张驰，黄文倩，郭志明，王庆艳，李江波，李斌，
申请(专利权)人：北京农业智能装备技术研究中心，
类型：发明
国别省市：