【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种提高离子阱性能的方法及装置,尤其是一种提高离子阱碰撞诱导解离性能的方法及装置。
技术介绍
多级质谱分析是离子阱质谱仪的一项重要功能,在涉及物质结构分析的基因组学、蛋白组学以及制药等领域中具有举足轻重的地位。同时,多级质谱分析功能是离子阱质 谱仪相对于其他质谱仪的优势之一。多级质谱分析过程如下首先通过对目标离子(或母离子)进行隔离,然后通过碰撞诱导解离(Collision Induced Dissociation,CID)使母离子裂解,裂解后得到的碎片离子被称为子离子。子离子还可进行相同的隔离和CID过程。通过对离子CID后得到的碎片离子就可以分析出离子的结构,获得更大量的信息。目前,离子阱理论已非常成熟,这里只简要介绍与CID有关的理论。对于一个径向半径为A、轴向半径为Ztl的三维离子讲,其稳定图参数az和qz定义如下权利要求1.一种提高离子阱碰撞诱导解离性能的方法,所述离子阱包括端电极;其特征在于 对离子进行CID的过程中,施加在所述端电极上的电压信号包含两个或两个以上的频率成分,其中具有处于内的频率成分,f是要进行CID的离子的共振频率;所述电压信号是频率随时间变化的扫频信号,该扫频信号的起始频率和终止频率可设定。2.根据权利要求I所述的提高离子阱碰撞诱导解离性能的方法,其特征在于所述电压信号可通过对白噪声信号进行带通滤波得到。3.根据权利要求I所述的提高离子阱碰撞诱导解离性能的方法,其特征在于在所述电压信号中,频率成分是离散的。4.根据权利要求I所述的提高离子阱碰撞诱导解离性能的方法,其特征在于在CID过程中,所述扫频信号出现两 ...
【技术保护点】
一种提高离子阱碰撞诱导解离性能的方法,所述离子阱包括端电极;其特征在于:对离子进行CID的过程中,施加在所述端电极上的电压信号包含两个或两个以上的频率成分,其中具有处于[(f?1)kHz,(f+1)kHz]内的频率成分,f是要进行CID的离子的共振频率;所述电压信号是频率随时间变化的扫频信号,该扫频信号的起始频率和终止频率可设定。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘立鹏,吴文明,朱文明,郑毅,邱明,甘剑勤,吴先伟,其他发明人请求不公开姓名,
申请(专利权)人:聚光科技杭州股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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