【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光谱分析，特别涉及跨带式光谱分析装置和方法。
技术介绍
1、目前，在工业物料相关指标的分析中，对于粉末样品的检测一般需要取样操作，然后进行称量样品的重量，做到精确的一个取样量后再进行化学溶液样品的分析。在样品数量多，分析取样少的情况下，对于人员操作要求高，强度大，控制准确度低，从而对于样品分析带来准确度的影响。同时该方法存在一定滞后性，不能通过工业样品指标实时调控原料配比，从而对工厂的能耗和产出物质量存在一定影响。因此，随着在线化检测需求的发展，跨带式工业样品光谱检测系统是关键突破点。
2、由于在跨带式分析仪表测量过程中，工业样品表面的高度起伏、颗粒大小以及传送带振动强度等因素会对测量结果产生一定波动，因此需要对物料表面进行压平整形。传统跨带式光谱仪设计方案为使用高低位刮板先将物料进行表面刮平，再使用跨带式仪表的自身重量进行接触式压平。因此跨带式仪表底板长时间磨损严重，且底板下方的检测窗口也存在大量污染和磨损，影响仪表测量性能和维护成本。
技术实现思路
1、为解决上述现有技术方案中的不足，本专利技术提供了一种跨带式光谱分析装置。
2、本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：
3、跨带式光谱分析装置，包括光谱测量单元；所述跨带式光谱分析装置还包括：
4、承载件和推平单元，所述推平单元固定在所述承载件的下侧，且处于传送带的上侧；
5、旋转板和阻力件，所述旋转板通过转轴设置在所述承载件的下侧，所述阻力件用于阻碍所
6、滚筒，所述滚筒设置在所述承载件的下侧，所述推平单元、旋转板、滚筒和测量单元沿着传送带的传送方向依次设置，且和传送带间的距离逐渐变小。
7、本专利技术的目的还在于提供了光谱分析方法，该专利技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
8、根据本专利技术跨带式光谱分析装置的光谱分析方法，所述光谱分析方法为：
9、传送带输送物料前行，所述推平单元推平物料，使得物料上侧变得平整；
10、所述旋转板缩小物料的厚度，使得物料上侧变得更加平整；
11、所述滚筒压紧物料，缩小物料的厚度；
12、光谱测量单元获得物料中元素的谱线强度c0；
13、修正所述谱线强度，并根据修正后的谱线强度得出物料中元素含量。
14、与现有技术相比，本专利技术具有的有益效果为：
15、1.分析准确度高；
16、滚筒将大颗粒物料压平到具有一定厚度的样品内，解决了大颗粒物料在样品表面被刮板长时间阻挡拖行的问题，物料被压实平整，相对应地提高了后续光谱检测的准确度；
17、设置刮板去除滚筒表面粘性较大、含水量较高的物料，防止物料甩溅从而破坏已经整形平整的料面；
18、利用调节单元调整滚筒与料面的高度，在测量单元前端解决料面平整度问题，提高仪表测量精度和降低设备维护成本；
19、利用构建的映射关系，修正了料面不平整带来的偏差，提高了分析准确度；
20、2.使用寿命长；
21、在滚筒和和旋转板上装配弹簧，延长料面整形单元的使用寿命，同时面对大颗粒物料也可以通过压力弹簧间的伸缩量将其更好的压入样品内部；
22、测量单元无需接触料面，防止磨损，提高了使用寿命。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种跨带式光谱分析装置，包括光谱测量单元；其特征在于，所述跨带式光谱分析装置还包括：
2.根据权利要求1所述的跨带式光谱分析装置，其特征在于，所述跨带式光谱分析装置还包括：
3.根据权利要求1所述的跨带式光谱分析装置，其特征在于，所述推平单元包括呈船形的壳体，壳体内填充金属或石头。
4.根据权利要求1所述的跨带式光谱分析装置，其特征在于，所述滚筒和承载件之间设置弹簧和压力传感器。
5.根据权利要求1所述的跨带式光谱分析装置，其特征在于，所述跨带式光谱分析装置还包括：
6.根据权利要求1-5中任一项所述的跨带式光谱分析装置的光谱分析方法，所述光谱分析方法为：
7.根据权利要求6所述的光谱分析方法，其特征在于，所述修正的方式为：
8.根据权利要求7所述的光谱分析方法，其特征在于，所述映射关系的获得方式为：
9.根据权利要求8所述的光谱分析方法，其特征在于，利用多项式拟合得出C′=f(P)。
【技术特征摘要】
1.一种跨带式光谱分析装置，包括光谱测量单元；其特征在于，所述跨带式光谱分析装置还包括：
2.根据权利要求1所述的跨带式光谱分析装置，其特征在于，所述跨带式光谱分析装置还包括：
3.根据权利要求1所述的跨带式光谱分析装置，其特征在于，所述推平单元包括呈船形的壳体，壳体内填充金属或石头。
4.根据权利要求1所述的跨带式光谱分析装置，其特征在于，所述滚筒和承载件之间设置弹簧和压力传感器。
5.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：张宇歌，俞大海，肖卫，马海波，
申请(专利权)人：聚光科技杭州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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