【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路领域，尤其涉及一种测试电路及测试电路的工作方法。
技术介绍
1、在芯片设计和制造过程中，确保芯片引脚的导通性是非常关键的。引脚的导通性是指芯片内部各个部分之间以及芯片与外部设备之间的信号传输通路是否正常。芯片引脚导通性测试是一个必要的步骤，用于验证和检测芯片引脚之间的连接是否正确，以确保芯片的正常工作。
2、芯片引脚导通性测试的目的是检测芯片引脚之间的电气连通是否良好。这个测试可以帮助工程师们确定芯片是否正常，以及在产品中使用期间是否会出现连接问题。
3、然而，对于高阻抗的电路，如果通过普通的测量电路来检测，则对高阻抗的测量精度比较低，对于500k以上的阻值区别不明显，如果通过高压摇表的测量方式则会引入高压，损伤被测产品。
4、因此，需要采取新的测试手段，在不损伤被测产品的前提下，能够精准测量被测产品的电阻。
技术实现思路
1、本专利技术解决的技术问题是提供一种测试电路及测试电路的工作方法，能够在不损伤被测产品的前提下，精准测量被测产品的电阻。
2、为解决上述技术问题，本专利技术技术方案提供一种测试电路，包括：第一桥臂，所述第一桥臂包括待测试单元；第二桥臂，所述第二桥臂与所述第一桥臂相连接，所述第二桥臂包括可切换电阻模块，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，若干组第一电阻单元可切换接入所述第二桥臂；第一电源，所述第一桥臂和所述第二桥臂并联在所述第一电源的两端。
3、可选的，所述可切换电阻
4、可选的，所述第一电阻单元包括：相串联的第一开关和第一电阻，若干组所述第一电阻单元并联连接。
5、可选的，若干组所述第一电阻单元包括若干个第一电阻，若干个所述第一电阻的阻值大小按照预设的比例阶梯设置。
6、可选的，所述继电器单元包括：相串联的第二开关和继电器，若干组所述继电器单元并联连接在第二电源两端，一个继电器控制一个所述第一开关的开启或闭合，所述第二开关控制所述继电器的开启或关闭。
7、可选的，所述第二桥臂还包括：第二电阻，所述第二电阻的一端与可切换电阻模块的一端连接，所述第二电阻与可切换电阻模块中的一组第一电阻单元相串联，所述第二电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述可切换电阻模块的另一端与所述第一电源的负极耦接。
8、可选的，所述第一桥臂还包括：第三电阻，所述第三电阻的一端与所述待测试单元的一端串联连接，所述第三电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述待测试单元的另一端与所述第一电源的负极耦接。
9、可选的，所述第二电阻和第三电阻的阻值相同。
10、可选的，所述第二桥臂与所述第一桥臂通过连接支路相连接，所述连接支路的一端与所述第二电阻和可切换电阻模块相连接，所述连接支路的另一端与所述第三电阻和待测试单元相连接。
11、可选的，所述连接支路包括：相串联的第一电阻箱和电压表，所述第一电阻箱的电阻值包括若干档位。
12、可选的，所述连接支路还包括：与所述第一电阻箱和电压表相串联的第三开关。
13、可选的，还包括：与所述第一电源相串联的第二电阻箱，所述第二电阻箱的电阻值包括若干档位。
14、可选的，还包括：与所述第一电源和第二电阻箱相串联的第四开关。
15、可选的，还包括：与所述第二电源串联的第四电阻。
16、相应地，本专利技术技术方案还提供一种测试电路的工作方法，包括：提供测试电路；闭合第三开关和第四开关；通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，直至电压表读出的电压数值在第一预设范围内，获取接入第二桥臂的第一电阻为待测试单元的等效电阻。
17、可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：通过继电器将阻值最大的第一电阻接入第二桥臂；所述将第一电阻箱和第二电阻箱的阻值调节到最大档；保持第一电阻箱的阻值不变，调节所述第二电阻箱的电阻值，使所述第二电阻箱的电阻值由高档向低档变化，直至电压表读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第二电阻箱的当前档位；调节所述第二电阻箱的电阻值，使所述第二电阻箱的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。
18、可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：保持所述第二电阻箱的电阻值不变，调节所述第一电阻箱的电阻值，使所述第一电阻箱的电阻值由高档向低档变化，直至电压表读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第一电阻箱的当前档位；调节所述第一电阻箱的电阻值，使所述第一电阻箱的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。
19、可选的，所述第二预设范围包括：三分之一的电压表的量程范围。
20、可选的，所述第一预设范围包括：-0.01伏至0.01伏。
21、可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：闭合一组继电器单元中的第二开关，使所述继电器单元中的继电器开启，所述继电器控制对应的第一电阻单元中的第一开关闭合，使所述第一电阻单元中的第一电阻接入第二桥臂。
22、可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：按照阻值由大至小的顺序将所述第一电阻单元分次接入第二桥臂。
23、可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：随机将任一组第一电阻单元接入第二桥臂，根据连续两组第一电阻单元接入第二桥臂时电压表的电压变化趋势，判断下一组将阻值大或阻值小的第一电阻单元接入第二桥臂。
24、可选的，还包括：对第一电源的电压进行调整，使所述待测试单元的分压在待测试单元能承受的安全电压范围内。
25、与现有技术相比，本专利技术的技术方案具有以下有益效果：
26、本专利技术的测试电路，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，通过切换不同的第一电阻单元接入第二桥臂，通过第一桥臂和第二桥臂两边的电压值获取待测试单元的阻值。所述测试电路的操作灵活性高、测量结果精确，且不易对待测试单元造成损伤。
27、进一步，所述可切换电阻模块包括若干组继电器单元，若干组所述继电器单元与若干组所述第一电阻单元一一对应，所述继电器单元控制所述第一电阻单元是否接入所述第二桥臂。通过继电器控制电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，操作简单，测量结果精确。
28、本专利技术的测试电路的工作方法，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，直至电压表读出的电压数值在第一预设范围内，获取接入第二桥臂的第一电阻为所述待测试单元的等效电阻。所述测试电路的工作方法操作灵活性高、测量结果精确，且不易对待测试单元造成损伤。
29、进本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种测试电路，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述可切换电阻模块还包括：若干组继电器单元，若干组所述继电器单元与若干组所述第一电阻单元一一对应，所述继电器单元控制所述第一电阻单元是否接入所述第二桥臂。
3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述第一电阻单元包括：相串联的第一开关和第一电阻，若干组所述第一电阻单元并联连接。
4.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，若干组所述第一电阻单元包括若干个第一电阻，若干个所述第一电阻的阻值大小按照预设的比例阶梯设置。
5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述继电器单元包括：相串联的第二开关和继电器，若干组所述继电器单元并联连接在第二电源两端，一个继电器控制一个所述第一开关的开启或闭合，所述第二开关控制所述继电器的开启或关闭。
6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第二桥臂还包括：第二电阻，所述第二电阻的一端与可切换电阻模块的一端连接，所述第二电阻与可切换电阻模块中的一组第一电阻单元相串联，所述第二电阻的另一端与所述第一电
7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述第一桥臂还包括：第三电阻，所述第三电阻的一端与所述待测试单元的一端串联连接，所述第三电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述待测试单元的另一端与所述第一电源的负极耦接。
8.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述第二电阻和第三电阻的阻值相同。
9.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述第二桥臂与所述第一桥臂通过连接支路相连接，所述连接支路的一端与所述第二电阻和可切换电阻模块相连接，所述连接支路的另一端与所述第三电阻和待测试单元相连接。
10.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述连接支路包括：相串联的第一电阻箱和电压表，所述第一电阻箱的电阻值包括若干档位。
11.如权利要求10所述的测试电路，其特征在于，所述连接支路还包括：与所述第一电阻箱和电压表相串联的第三开关。
12.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：与所述第一电源相串联的第二电阻箱，所述第二电阻箱的电阻值包括若干档位。
13.如权利要求12所述的测试电路，其特征在于，还包括：与所述第一电源和第二电阻箱相串联的第四开关。
14.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，还包括：与所述第二电源串联的第四电阻。
15.一种测试电路的工作方法，其特征在于，包括：
16.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：通过继电器将阻值最大的第一电阻接入第二桥臂；将第一电阻箱和第二电阻箱的阻值调节到最大档；保持第一电阻箱的阻值不变，调节所述第二电阻箱的电阻值，使所述第二电阻箱的电阻值由高档向低档变化，直至电压表读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第二电阻箱的当前档位；调节所述第二电阻箱的电阻值，使所述第二电阻箱的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。
17.如权利要求16所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：保持所述第二电阻箱的电阻值不变，调节所述第一电阻箱的电阻值，使所述第一电阻箱的电阻值由高档向低档变化，直至电压表读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第一电阻箱的当前档位；调节所述第一电阻箱的电阻值，使所述第一电阻箱的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。
18.如权利要求16所述的测试电路的工作方法，其特征在于，所述第二预设范围包括：三分之一的电压表的量程范围。
19.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，所述第一预设范围包括：-0.01伏至0.01伏。
20.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：闭合一组继电器单元中的第二开关，使所述继电器单元中的继电器开启，所述继电器控制对应的第一电阻单元中的第一开关闭合，使所述第一电阻单元中的第一电阻接入第二桥臂。
21.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：按照阻值由大至小的顺序将所述第一电阻单元分次接入第二桥臂。
22.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继...
【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述可切换电阻模块还包括：若干组继电器单元，若干组所述继电器单元与若干组所述第一电阻单元一一对应，所述继电器单元控制所述第一电阻单元是否接入所述第二桥臂。
3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述第一电阻单元包括：相串联的第一开关和第一电阻，若干组所述第一电阻单元并联连接。
4.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，若干组所述第一电阻单元包括若干个第一电阻，若干个所述第一电阻的阻值大小按照预设的比例阶梯设置。
5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述继电器单元包括：相串联的第二开关和继电器，若干组所述继电器单元并联连接在第二电源两端，一个继电器控制一个所述第一开关的开启或闭合，所述第二开关控制所述继电器的开启或关闭。
6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第二桥臂还包括：第二电阻，所述第二电阻的一端与可切换电阻模块的一端连接，所述第二电阻与可切换电阻模块中的一组第一电阻单元相串联，所述第二电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述可切换电阻模块的另一端与所述第一电源的负极耦接。
7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述第一桥臂还包括：第三电阻，所述第三电阻的一端与所述待测试单元的一端串联连接，所述第三电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述待测试单元的另一端与所述第一电源的负极耦接。
8.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述第二电阻和第三电阻的阻值相同。
9.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述第二桥臂与所述第一桥臂通过连接支路相连接，所述连接支路的一端与所述第二电阻和可切换电阻模块相连接，所述连接支路的另一端与所述第三电阻和待测试单元相连接。
10.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述连接支路包括：相串联的第一电阻箱和电压表，所述第一电阻箱的电阻值包括若干档位。
11.如权利要求10所述的测试电路，其特征在于，所述连接支路还包括：与所述第一电阻箱和电压表相串联的第三开关。
12.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：与所述第一电源相串联的第二电阻箱，所述第二电阻箱的电阻值包括若干档位。
13.如权利要求12所述的测试电路，其特征在于，还包括：与所述第一电源和第二电阻箱相串联的第四开关。
14.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，还包括：与...
【专利技术属性】
技术研发人员：乔磊，史辉萍，
申请(专利权)人：江苏惠通集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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