环状元件测试装置制造方法及图纸

技术编号:784302 阅读:246 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种环状元件测试装置包括一个转动的测试轮;测试轮的轮缘上均匀分布套杆,有一测试弹性电极与套杆相触。本实用新型专利技术的环状元件测试装置,在测试轮转动时,自动将环状元件依次穿置在套杆上,在套杆与测试弹性电极接触的瞬间测出环状磁性元件的磁性参数。因此,可实现对环状元件的自动检测,提高检测效率的目的。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属机械领域,具体是一种应用于自动分选机的环状元件测试装置
技术介绍
在环状磁性元件的加工过程中,需要对不同磁性参数的环状元件进行检测分选,手工进行检测,效率非常低下。
技术实现思路
本技术的目的是提出一种环状元件测试装置,实现对环状元件的自动检测,提高检测效率。本技术的目的是这样实现的本技术的环状元件测试装置包括一个转动的测试轮,测试轮的轮缘上均匀分布若干套杆,有一测试弹性电极与套杆相触。本技术的环状元件测试装置,在测试轮转动时,自动将环状元件依次穿置在套杆上,在套杆与测试弹性电极接触的瞬间测出环状磁性元件的磁性参数。因此,可实现对磁性环状元件的自动检测,提高检测效率的目的。附图说明图1为本技术的环状元件测试装置的结构示意图。具体实施方式以下结合附图通过实施例对本技术作进一步说明如图1所示,本技术的环状元件测试装置包括一个转动的测试轮(4),测试轮(4)的轮缘上均匀分布套杆(5),磁性环状元件(3)被弹簧(2)卡在输送导轨(1)的端口,当测试轮(4)转动时,自动将输送导轨(1)端口处的磁性环状元件(2)依次穿置在套杆(5)上,在测试弹性电极(6)与套杆(5)相触时,测出磁性环状本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种环状元件测试装置,包括一个转动的测试轮(4),其特征在于测试轮(4)的轮缘上均匀分布套杆(5),有一测试弹性电极(7)与套杆(5)相触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张红平周国平谢学风张治生
申请(专利权)人:嘉兴市同信机电科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:33[中国|浙江]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1