【技术实现步骤摘要】
本技术属于半导体测试器材
，特别涉及对硅材料测试特定电阻率的便携式分选仪。
技术介绍
半导体的电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数，不同类型、不同型号的半导体器件要求采用不同电阻率的材料制作。所以，半导体材料测量在整个产品的研发和生产过程中占据非常重要的地位，测量的结果直接影响着产品的性能及价值。半导体的电阻率测量方式也有多种，如常用的两探针法、四探针法。采用两探针法首先要把被检测的样品切成规则的长方体，而且操作麻烦。四探针法适用于测量外形不规则的硅材料的电阻率，但也存在一些不足之处，在样品被测量的表面，必须事先用金刚砂喷射成测量道，测量时，应选择适当电流，电流太大，会使注入的非平衡少数载流子显著增加，而且也会使样品发热引起电阻率的变化；电流太小，探针之间的电压降太小，致使测量误差增大。所以目前所用的测量仪器结构复杂、价格高昂、操作复杂，只能适用企业抽样检测，而不能适用于工业化对大批量材料分选。在硅材料的利用中，通常需对硅材料进行测定分选，所以亟需设计一种结构简单、制作成本低廉、操作简便且测量较精确的分选仪来适应企业批量测试分选硅材料的需求。专利技术内...
【技术保护点】
一种便携式硅材料分选仪，包括笔管、外接电源、设于笔管内的电路板、集成块，其特征在于：笔端设有两根探针，探针测得的电压信号经集成块和电路板比较处理后，分选信号分别传输给蜂鸣器和笔管外侧的ＬＥＤ指示灯。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴云才，楼东武，
申请(专利权)人：浙江昱辉阳光能源有限公司，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]
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