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凸轮轮廓检测用数控系统的检测方法技术方案

技术编号:7837446 阅读:224 留言:0更新日期:2012-10-12 01:54
本发明专利技术提供了一种结构简单、检测精度和效率较高的凸轮轮廓检测用数控系统,其包括:用于带动凸轮绕垂向的心轴水平同轴旋转的数控转台、水平设于数控转台一侧的导轨同步带组件、设于该导轨同步带组件中的同步带上且于凸轮一侧的激光测距头、用于测量所述激光测距头的水平位移量的光栅尺位移传感器、用于检测凸轮的旋转角度的编码器、以及工控机;所述工控机控制所述数控转台和导轨同步带组件动作,并根据所述激光测距头、光栅尺位移传感器和编码器测得的数据计算出凸轮的外轮廓数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。
技术介绍
凸轮机构广泛应用于各种自动化机械、精密仪器、自动化控制系统等。要做到高精度、高效率地检测凸轮,并正确处理、评定它的各项误差,及时快速地反馈凸轮的质量信息,传统的光学机械量仪以及人工数据处理的方法,已不能适应凸轮广泛采用的自动线生产的需要了。随着汽车エ业、工程机械等的高速发展和制造技术的不断提高,对如何提高凸轮加 エ精度的检测精度和效率,是本领域要解决的技术难题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种结构简单、检测精度和效率较高的。为解决上述技术问题,本专利技术提供了一种,所述凸轮轮廓检测用数控系统包括用于带动凸轮绕垂向的心轴水平同轴旋转的数控转台、水平设于数控转台ー侧的导轨同步带组件、设于该导轨同步带组件中的同步带上且于凸轮ー侧的激光测距头、用于测量所述激光测距头的水平位移量的光栅尺位移传感器、用于检测凸轮的旋转角度的编码器、以及エ控机;所述エ控机控制所述数控转台和导轨同步带组件动作,并根据所述激光测距头、光栅尺位移传感器和编码器测得的数据计算出凸轮的外轮廓数据。所述激光测距头通过ー滑块设于导轨同步带组件中的导轨上,滑块与所述同步带固定相本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种凸轮轮廓检测用数控系统的检测方法,其特征在于所述凸轮轮廓检测用数控系统包括用于带动凸轮(10)绕垂向的心轴(1-1)水平同轴旋转的数控转台(I)、水平设于数控转台(I) 一侧的导轨同步带组件(3)、设于该导轨同步带组件(3)中的同步带(3-1)上且于凸轮(10) —侧的激光测距头(2)、用于测量所述激光测距头(2)的水平位移量的光栅尺位移传感器(4)、用于检测凸轮(10)的旋转角度的编码器(5)、以及エ控机; 所述エ控机控制所述数控转台(I)和导轨同步带组件(3)动作,并根据所述激光测距头(2)、光栅尺位移传感器(4)和编码器(5)测得的数据计算出凸轮(10)的外轮廓数据; 所述激光测距头(2)通过ー滑块(8)设于导轨同步带组件(3)中的导轨(3-2)上,滑块(8)与所述同步带(3-1)固定相连;所述导轨(3-2)两端设有带轮(3-3),所述同步带(3-1)设于该对带轮(3-3)上,且其中的一个带轮(3-3)与一步进电机(7)传动相连,所述数控转 台(I)与ー转台电机(6)传动相连;所述エ控机包括用于实时控制所述数控转台(I)和步进电机(7)动作的运动控制卡,与所述激光测距头(2)相连的用于实时检测激光测距头(2)与凸轮(10)的外轮廓的间距的激光位移传感器采集卡,与所述光栅尺位移传感器(4)和编码器(5)相连的编码器计数卡,以及通过系统总线与所述运动控制卡、激光位移传感器采集卡和编码器计数卡相连的CPU単元; 所述运动控制卡通过ー转台电机驱动器控制...

【专利技术属性】
技术研发人员:丁仕燕汪蓉
申请(专利权)人:丁仕燕
类型:发明
国别省市:

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