本实用新型专利技术公开了一种LED电性测试仪器，包括相互分隔且绝缘设置的第一固定座和第二固定座，在所述的第一固定座和所述的第二固定座的内侧中部的相邻位置，分别设有两个相邻的电性接触引脚，所述的电性接触引脚为块状且间隙设置，每个所述的电性接触引脚的底部连接有测试电源线。本实用新型专利技术采用电性接触引脚形式进行电性测试，电性接触引脚为块状，与LED组件的电性接触面积大，测试便捷、准确，而且电性接触引脚耐用、不易损耗、维护简单、使用成本低。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及ー种LED测试仪器，具体是指ー种LED电性测试仪器。
技术介绍
在LED的生产过程中，需要使用LED测试仪器对LED进行电性测试，以将LED分成各种等级。目前，LED测试仪器通常采用探针的形式进行LED电性测试，探针制作エ艺复杂，一般不容易自行加工制造，在使用中容易损耗损坏，经常需要拆卸装配，影响生产效率，且时常更换探针会增加成本。另外，由于探针安装节距和单针安装的原因，某些LED产品在高速测试过程中容易在针脚间卡料，导致产品受损或探针打弯打断，或者由于探针过细，所测试LED产品位置稍微偏差则接触点对接不上而导致测试失败，对于某些细小的SMD式LED电性测试不尽理想。*本技术的目的在于提供一种电性接触面积大、不易损耗、维护简单、成本低的LED电性测试仪器。为实现上述目的，本技术采用以下技术方案ー种LED电性测试仪器，包括相互分隔且绝缘设置的第一固定座和第二固定座，在所述的第一固定座和所述的第二固定座的内侧中部的相邻位置，分别设有两个相邻的电性接触引脚，所述的电性接触引脚为块状且间隙设置，每个所述的电性接触引脚的底部连接有测试电源线。优选地，所述的第一固定座和所述的第二固定座设有与所述的电性接触引脚相配合的引脚孔，所述的引脚孔内还设有与所述的电性接触引脚相抵靠的弾性件，所述的电性接触引脚活动卡置于所述的引脚孔中。优选地，所述的电性接触引脚的顶端面具有向内倾斜的可放置LED组件的斜面。优选地，所述的电性接触引脚的顶端面具有可放置LED组件的凸台，所述的凸台由大小均匀的凸起组成。采用上述技术方案后，本技术与现有的
技术介绍
相比，具有如下优点I、本技术采用电性接触引脚形式进行电性测试，电性接触引脚为块状，与LED组件的电性接触面积大，测试便捷、准确，而且电性接触引脚耐用、不易损耗、维护简单、使用成本低；2、电性接触引脚的顶端面具有斜面或凸点式凸台，将与LED组件底部接触的部分从面接触转为线接触或多点式接触，克服了因LED组件底部的平整度问题而造成的与电性接触引脚的顶端面接触不良的缺陷，可提高测试接触的稳定可靠性，使测试时的接触可简单达成，減少了 LED组件底部碰撞损坏的可能性；3、电性接触弓丨脚的下端设有弹性件，LED组件放于电性接触弓丨脚上时，弾性件可起到缓冲向下压カ和向上回弹顶起，使电性接触引脚与LED组件接触紧密，达到良好的通电性能。附图说明图I为本技术实施例一的结构示意图；图2为图I沿A-A剖视图；图3为本技术实施例一的工作状态图；图4为本技术实施例ニ的结构示意图。主要组件符号说明100 :第一固定座，110 :引脚孔，200 :第二固定座，300 :电性接触引脚，310 :斜面，320 :凸台，400 :绝缘片，500 :弹簧，600 :LED组件。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一歩详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。实施例一—种LED电性测试仪器,包括相互分隔的第一固定座100和第二固定座200,第一固定座100和第二固定座200之间设置有绝缘片400，在第一固定座100和第二固定座200的内侧中部的相邻位置，分别设有两个相邻的与电性接触引脚300相配合的引脚孔110，引脚孔110内还设有与电性接触引脚300相抵靠的弹簧500，电性接触引脚300活动卡置于引脚孔110中，电性接触引脚300为块状且间隙设置，电性接触引脚300的顶端面具有向内倾斜的可放置LED组件600的斜面310，每个电性接触引脚300的底部连接有测试电源线。请參阅图3所示，由于电性接触引脚300为块状，与LED组件600的接触面积大，测试便捷、准确；请參阅图I-图3所示，本技术在工作时，LED组件600经过外置的转盘真空吸嘴吸起，放置于四个电性接触引脚300上，LED组件600接触电性接触引脚300产生通电，同时电性接触弓I脚300下端的弹簧500起到缓冲向下压カ和向上顶起的作用，使LED组件600与电性接触引脚300的接触更加紧密，达到良好的通电性能。由于电性接触引脚300的顶端面具有向内倾斜的可放置LED组件600的斜面310，将与LED组件底部接触的部分从面接触转为线接触，克服了因LED组件底部的平整度问题而造成的与电性接触引脚的顶端面接触不良的缺陷，可提高测试接触的稳定可靠性，減少了 LED组件底部碰撞损坏的可能性。实施例ニ 请參阅图4所示，实施例ニ中的电性接触引脚300的顶端面不具有向内倾斜的可放置LED组件600的斜面310，而是具有可放置LED组件600的凸台320，凸台320由大小均匀的凸起组成，将与LED组件底部接触的部分从面接触转为多点式接触，可提高测试接触的稳定可靠性，減少了 LED组件底部碰撞损坏的可能性。其余部分与实施例一相同。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.ー种LED电性测试仪器，其特征在于包括相互分隔且绝缘设置的第一固定座和第ニ固定座，在所述的第一固定座和所述的第二固定座的内侧中部的相邻位置，分别设有两个相邻的电性接触引脚，所述的电性接触引脚为块状且间隙设置，每个所述的电性接触引脚的底部连接有测试电源线。2.如权利要求I所述的ー种LED电性测试仪器，其特征在于所述的第一固定座和所述的第二固定座设有与所述的电性接触引脚相配合...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖见兵，林琛庭，
申请(专利权)人：深圳市灿升半导体设备有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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