【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检测电路，尤其是涉及一种用于检测可控硅故障状态的检测电路。
技术介绍
可控硅具有体积小、结构相对简单、功能强等特点，是比较常用的半导体器件之一。该器件被广泛应用于各种电子设备和电子产品中，多用来作可控整流、逆变、变频、调压、无触点开关等。可控硅虽然应用广泛，但故障检测手段有限，在实际运行过程中，仅能依靠被控制设备的异常运行来判断可控硅是否处于故障状态。对于电器的安全运行非常不利。
技术实现思路
本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可控硅故障检测电路，该检测电路通过检测光电耦合器输出端是否有电平跳变，及时判断出可控硅是否故障并给出故障信号。本技术的目的可以通过以下技术方案来实现一种可控硅故障检测电路，包括整流桥、光电耦合器和限流电阻，所述的整流桥的第一输入端子通过一个限流电阻连接可控硅的一端，第二输入端子连接可控硅的另一端，所述的光电耦合器的第一输入端子连接整流桥的第一输出端子，所述的光电耦合器的第二输入端子连接整流桥的第二输出端子。当可控娃导通时，光电I禹合器输出高电平；当可控娃不导通时，光电I禹合器输出低电平；可控硅出现故障后，不论其导通与否，光电耦合器的输出端均不产生电平变化，由此可以判断可控硅是否故障。所述的光电耦合器为带基极的光电耦合器，该光电耦合器的基极端设有电阻和电容，所述的电阻和电容并联设置并接地。光电稱合器的电源端设有一电阻,通过该电阻连接电源，光电稱合器的输出端设有一上拉电阻，通过该上拉电阻连接电源。所述的整流桥包括第一二极管、第二二极管、第三二极管和第四二极管，所述的第一二极管的阳极为第一输入端子，连接第四二...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可控硅故障检测电路，其特征在于，包括整流桥(BDl)、光电耦合器(Ul)和限流电阻(R3)，所述的整流桥(BDl)的第一输入端子(I)通过一个限流电阻(R3)连接可控硅的一端，第二输入端子(2)连接可控娃的另一端，所述的光电稱合器(Ul)的第一输入端子(A)连接整流桥(BDl)的第一输出端子(2)，所述的光电耦合器(Ul)的第二输入端子(C)连接整流桥(BDl)的第二输出端子⑷。2.根据权利要求I所述的一种可控硅故障检测电路，其特征在于，所述的光电耦合器(Ul)为带基极的光电耦合器，该光电耦合器(Ul)的基极端(BASE)设有电阻(R4)和电容(Cl)，所述的电阻(R4)和电容(Cl)并联设置并接地。3.根据权利要求I所述的一种可控硅故障检测电路，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：钱丙军，
申请(专利权)人：上海亿盟电气自动化技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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