LED测试装置制造方法及图纸

技术编号:7735793 阅读:206 留言:0更新日期:2012-09-09 16:40
一种LED测试装置,用于测试连板状态下的LED,包括:测试电路板、压合机构以及集热罩,该测试电路板具有第一表面,多对测试电极设置于该第一表面,当测试该连板状态下的LED时,该LED连板上的多颗LED的正极引脚以及负极引脚分别对应于正极测试电极以及负极测试电极;该压合机构包括压合部,该压合部用于按压该LED连板使得该多颗LED的正极引脚以及负极引脚分别紧密接触正极测试电极以及负极测试电极,通过外接电源驱动该测试电路板上的该多对测试电极点亮该连板上的多颗LED;集热罩,该测试电路板以及该压合部位于该集热罩热内,如此,可以对每一颗LED进行检测,保证LED产品出厂时的良率,既保证了测试的准确性且无耗损,不需要像现有技术中一样对测试样品做报废处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子生产作业的测试装置,尤其涉及LED的测试装置。
技术介绍
现有技术中,LED在照明领域 得到广泛应用,特别是随着液晶显示技术的快速发展,LED作为液晶显示面板的背光源得到了更为广泛的应用,其原因在于,与冷阴极射线管相比,LED的功耗低且寿命长。LED的生产厂家在生产了大批量的LED之后,通常会抽取部分样品进行LED的耐热测试,以确定该批量的LED的良率,通常的做法是,将多颗LED与电路板搭配制成成品的LED灯条,然后对LED灯条进行耐热测试,但是,在制作LED灯条的过程中有可能会造成LED的损坏从而导致测试结果偏离实际良率,而且,作为测试样品的LED在做完测试之后都作报废处理,如此,也造成了资源的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种新的LED测试方法,以及为实现该LED测试方法所设计的LED测试装置,从而简化LED测试,可以对连板状态下的LED进行全检而不是采用抽取样品测试的方式,提升了测试的准确性且避免资源浪费。本专利技术的一种LED测试装置,用于测试连板状态下的LED,该LED测试装置包括测试电路板,具有第一表面以及与第一表面相对的第二表面,多对测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED测试装置,其特征在于,该LED测试装置用于测试连板状态下的LED,该LED测试装置包括 测试电路板,具有第一表面以及与第一表面相对的第二表面,多对测试电极设置于该第一表面,每一对测试电极包括一个正极测试电极以及一个负极测试电极,当测试该连板状态下的LED时,该LED连板放置于该第一表面且该LED连板上的多颗LED的正极引脚以及负极引脚分别对应于正极测试电极以及负极测试电极,该测试电路板还包括正极接入点以及负极接入点,该正极接入点连接正极测试电极,该负极接入点连接负极测试电极; 压合机构,该压合机构包括压合部,该压合部用于当测试连板状态下的LED时按压该LED连板使得该该多颗LED的正极引脚以及负极引脚分别紧密接触正极测试电极以及负极测试电极,通过外接电源驱动该测试电路板上的该多对测试电极点亮该连板上的多颗LED ; 集热罩,该测试电路板以及该压合部位于该集热罩热内,该集热罩上设置有第一开口,对应第一开口的位置设置有可以开合的挡板。2.如权利要求I所述的LED测试装置,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:薛江孙豪彭浩袁泉
申请(专利权)人:威力盟电子苏州有限公司威力盟电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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