一种过零检测电路制造技术

技术编号:10367314 阅读:137 留言:0更新日期:2014-08-28 11:11
本实用新型专利技术公开了一种过零检测电路,包括桥式整流电路,还包括:第一电容、第一电阻、二极管、三极管和光耦,所述三极管的基极与所述桥式整流电路的第二输出端连接,所述三极管的射极通过所述第一电容与所述桥式整流电路的第一输出端连接,所述二极管的阳极和阴极分别与所述三极管的射极和所述桥式整流电路的第二输出端连接,所述光耦的阳极通过所述第一电阻与所述桥式整流电路的第一输出端连接,所述光耦的阴极与所述三极管的集电极连接,所述光耦的集电极和射极分别与参考电压和地连接,过零检测输出端与所述光耦的集电极连接。本过零检测电路不仅可电路简单,而且可以得到准确的过零检测信号,从而作出过零判断。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
—种过零检测电路
】本技术涉及一种过零检测电路。【
技术介绍
】目前,往往采用专用的IC进行过零检测,或者采用半波整流后进行过零检测。前者应用成本较高,后者检测的精度较差。【
技术实现思路
】为了克服现有技术的不足,本技术提供了一种过零检测电路,以较简单的电路实现较精确的过零检测。一种过零检测电路,包括桥式整流电路,还包括:第一电容、第一电阻、二极管、三极管和光耦,所述三极管的基极与所述桥式整流电路的第二输出端连接,所述三极管的射极通过所述第一电容与所述桥式整流电路的第一输出端连接,所述二极管的阳极和阴极分别与所述三极管的射极和所述桥式整流电路的第二输出端连接,所述光耦的阳极通过所述第一电阻与所述桥式整流电路的第一输出端连接,所述光耦的阴极与所述三极管的集电极连接,所述光耦的集电极和射极分别与参考电压和地连接,过零检测输出端与所述光耦的集电极连接。在一个实施例中,还包括第二电阻,所述第二电阻跨接在所述桥式整流电路的第一输出端和第二输出端之间。在一个实施例中,还包括第二电容,所述第二电容跨接在所述参考电压与地之间。在一个实施例中,还包括第三电阻,所述光耦的集电极通过所述第三电阻与所述参考电压连接。在一个实施例中,还包括第四电阻、第五电阻和第三电容,所述第三电容跨接在所述桥式整流电路的第一输入端和第二输入端之间,所述桥式整流电路的第一输入端通过所述第四电阻与交流电源的第一端连接,所述桥式整流电路的第二输入端通过所述第五电阻与交流电源的第二端连接。本过零检测电路不仅可电路简单,而且可以得到准确的过零检测信号,从而作出过零判断。【【附图说明】】图1是本技术一种实施例的过零检测电路的电路示意图;图2是本技术另一种实施例的过零检测电路的电路示意图。【【具体实施方式】】以下对技术的较佳实施例作进一步详细说明。如图1所示,一种实施例的过零检测电路,包括桥式整流电路、第一电容C26、第一电阻R56、二极管D16、三极管Q16和光耦U12,三极管的基极与桥式整流电路的第二输出端DC-连接,三极管Q16的射极通过第一电容C26与桥式整流电路的第一输出端DC+连接,二极管D16的阳极和阴极分别与所述三极管Q16的射极和所述桥式整流电路的第二输出端DC-连接,所述光耦U12的阳极通过所述第一电阻R56与所述桥式整流电路的第一输出端DC+连接,所述光耦U12的阴极与所述三极管Q16的集电极连接,所述光耦U12的集电极和射极分别与参考电压VCC和地GND连接,过零检测输出端GPIO与所述光耦U12的集电极连接。实施例2如图2所示,一种实施例的过零检测电路还包括第二电阻R55、第二电容C28、第三电阻R57、第四电阻R58、第五电阻R59和第三电容C27。所述第二电阻R55跨接在所述桥式整流电路的第一输出端DC+和第二输出端DC-之间,所述第二电容C28跨接在所述参考电压VCC与地GND之间,光耦U12的集电极通过所述第三电阻R57与所述参考电压VCC连接,第三电容C27跨接在所述桥式整流电路的第一输入端AN和第二输入端AL之间,所述桥式整流电路的第一输入端AN通过所述第四电阻R58与交流电源的第一端N连接,所述桥式整流电路的第二输入端Al通过所述第五电阻R59与交流电源的第一端N连接。第四电阻R58、第五电阻R59和第三电容C27组成交流输入滤波电路,对从交流电源的第一端N和第一端N输出的交流电进行滤波,第一电容C26为储能单元,二极管D16供第一电容C26形成充电回路,三极管Q16供第一电容C26形成放电回路。当桥式整流电路输出正半周,从第一输出端DC+输出的电流一部分从第一电容C26和二极管D16回到第二输出端DC-,另一部分通过第二电阻R55回到第二输出端DC-,第一电容C26进行充电,而三极管Q16截止,光耦U12不工作,过零检测输出端GPIO检测到高电平。当桥式整流电路即将进入负半周,第一电容C26开始放电,三极管Q16导通,光耦U12工作导通,光耦U12的集电极的电压被拉低,过零检测输出端GPIO检测到低电平。从而,过零检测输出端GPIO可以检测到脉冲形式的过零信号。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明,不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说,在不脱离本技术构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本技术由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种过零检测电路,包括桥式整流电路,其特征是,还包括:第一电容、第一电阻、二极管、三极管和光耦,所述三极管的基极与所述桥式整流电路的第二输出端连接,所述三极管的射极通过所述第一电容与所述桥式整流电路的第一输出端连接,所述二极管的阳极和阴极分别与所述三极管的射极和所述桥式整流电路的第二输出端连接,所述光耦的阳极通过所述第一电阻与所述桥式整流电路的第一输出端连接,所述光耦的阴极与所述三极管的集电极连接,所述光耦的集电极和射极分别与参考电压和地连接,过零检测输出端与所述光耦的集电极连接。

【技术特征摘要】
1.一种过零检测电路,包括桥式整流电路,其特征是,还包括:第一电容、第一电阻、二极管、三极管和光耦,所述三极管的基极与所述桥式整流电路的第二输出端连接,所述三极管的射极通过所述第一电容与所述桥式整流电路的第一输出端连接,所述二极管的阳极和阴极分别与所述三极管的射极和所述桥式整流电路的第二输出端连接,所述光耦的阳极通过所述第一电阻与所述桥式整流电路的第一输出端连接,所述光耦的阴极与所述三极管的集电极连接,所述光耦的集电极和射极分别与参考电压和地连接,过零检测输出端与所述光耦的集电极连接。2.如权利要求1所述的过零检测电路,其特征是:还包括第二电阻,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:许文龙
申请(专利权)人:深圳市达科为医疗科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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