一种过零检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种过零检测电路，包括桥式整流电路，还包括：第一电容、第一电阻、二极管、三极管和光耦，所述三极管的基极与所述桥式整流电路的第二输出端连接，所述三极管的射极通过所述第一电容与所述桥式整流电路的第一输出端连接，所述二极管的阳极和阴极分别与所述三极管的射极和所述桥式整流电路的第二输出端连接，所述光耦的阳极通过所述第一电阻与所述桥式整流电路的第一输出端连接，所述光耦的阴极与所述三极管的集电极连接，所述光耦的集电极和射极分别与参考电压和地连接，过零检测输出端与所述光耦的集电极连接。本过零检测电路不仅可电路简单，而且可以得到准确的过零检测信号，从而作出过零判断。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
—种过零检测电路【
】本技术涉及一种过零检测电路。【
技术介绍
】目前，往往采用专用的IC进行过零检测，或者采用半波整流后进行过零检测。前者应用成本较高，后者检测的精度较差。【
技术实现思路
】为了克服现有技术的不足，本技术提供了一种过零检测电路，以较简单的电路实现较精确的过零检测。一种过零检测电路，包括桥式整流电路，还包括:第一电容、第一电阻、二极管、三极管和光耦，所述三极管的基极与所述桥式整流电路的第二输出端连接，所述三极管的射极通过所述第一电容与所述桥式整流电路的第一输出端连接，所述二极管的阳极和阴极分别与所述三极管的射极和所述桥式整流电路的第二输出端连接，所述光耦的阳极通过所述第一电阻与所述桥式整流电路的第一输出端连接，所述光耦的阴极与所述三极管的集电极连接，所述光耦的集电极和射极分别与参考电压和地连接，过零检测输出端与所述光耦的集电极连接。在一个实施例中，还包括第二电阻，所述第二电阻跨接在所述桥式整流电路的第一输出端和第二输出端之间。在一个实施例中，还包括第二电容，所述第二电容跨接在所述参考电压与地之间。在一个实施例中，还包括第三电阻，所述光耦的集电极通过所述第三电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种过零检测电路，包括桥式整流电路，其特征是，还包括：第一电容、第一电阻、二极管、三极管和光耦，所述三极管的基极与所述桥式整流电路的第二输出端连接，所述三极管的射极通过所述第一电容与所述桥式整流电路的第一输出端连接，所述二极管的阳极和阴极分别与所述三极管的射极和所述桥式整流电路的第二输出端连接，所述光耦的阳极通过所述第一电阻与所述桥式整流电路的第一输出端连接，所述光耦的阴极与所述三极管的集电极连接，所述光耦的集电极和射极分别与参考电压和地连接，过零检测输出端与所述光耦的集电极连接。

【技术特征摘要】
1.一种过零检测电路，包括桥式整流电路，其特征是，还包括:第一电容、第一电阻、二极管、三极管和光耦，所述三极管的基极与所述桥式整流电路的第二输出端连接，所述三极管的射极通过所述第一电容与所述桥式整流电路的第一输出端连接，所述二极管的阳极和阴极分别与所述三极管的射极和所述桥式整流电路的第二输出端连接，所述光耦的阳极通过所述第一电阻与所述桥式整流电路的第一输出端连接，所述光耦的阴极与所述三极管的集电极连接，所述光耦的集电极和射极分别与参考电压和地连接，过零检测输出端与所述光耦的集电极连接。2.如权利要求1所述的过零检测电路，其特征是:还包括第二电阻，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：许文龙，
申请(专利权)人：深圳市达科为医疗科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44