用于监测晶体生长的装置制造方法及图纸

技术编号:7745888 阅读:190 留言:0更新日期:2012-09-10 08:59
本实用新型专利技术公开了一种自动监测晶体质量变化且在提升轴卡住的情况下不会损坏的用于监测晶体生长的装置,包括支架和设置在支架内的提升轴、支架内顶端设置有称重传感器,称重传感器的下端固定设置有基座,基座内转动设置有从动吊装装置,从动吊装装置的上端位于基座内,其下端伸出基座,提升轴的上端通过轴承转动设置在从动吊装装置下端内,提升轴上套设有传动套,且传动套的上端位于从动吊装装置下端外侧,且传动套的上端与从动吊装装置的下端固定连接,传动套的下端从支架中穿出并于位于支架外部的驱动传动套转动的驱动装置相连,提升轴位于从动吊装装置内的外表面部位设置有槽,槽内设置有圆球,从动吊装装置内埋设有弹簧,该弹簧将圆球抵在槽内。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及到一种用于监测晶体生长的装置。技术背景晶体在我们日常生活中的应用越来越广泛,而且大多数晶体都是人工合成的。现有晶体的制作方法大都采用提拉法,为了确保晶体的质量,需要控制晶体在生长过程中的各种条件,而调控晶体生长条件的前提就是通过检查晶体在生长过程中重量的变化来判断是否需要改变晶体生长条件。原有方法都是通过人工观察晶体的直径变化来判断晶体的生长情况,由于提拉法中的晶体是需要旋转并同时上下移动的,这就对检测人员的眼力要求很高,但是在晶体上下移动并旋转的情况下,检测人员还是很难判断晶体的直径变化,很容易是检测人员发生眩晕。这样生产出来的晶体就很难保证其质量。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种自动监测晶体质量变化且在提升轴卡住的情况下不会损坏的用于监测晶体生长的装置。为解决上述技术问题,本技术采用的技术方案为一种用于监测晶体生长的装置,包括支架和设置在支架内的提升轴、支架内顶端设置有称重传感器,所述称重传感器的下端固定设置有基座,基座内转动设置有从动吊装装置,从动吊装装置的上端位于基座内,其下端伸出基座,提升轴的上端通过轴承转动设置在从动吊装装置下端内,提升轴上套设有传动套,且传动套的上端位于从动吊装装置下端外侧,且传动套的上端与从动吊装装置的下端之间固定连接,传动套的下端从支架中穿出并于位干支架外部的驱动传动套转动的驱动装置相连,提升轴位于从动吊装装置内的外表面部位设置有槽,槽内设置有圆球,从动吊装装置内埋设有弹簧,该弹簧将圆球抵在槽内,提升轴的下端也从支架内穿出。所述槽为腰形槽。所述从动吊装装置包括转动设置基座内的短轴和与短轴相连的短套,短套位于基座下側。本技术的有益效果是上述结构的晶体生产控制装置可自动监测晶体生长时的质量变化,而且晶体的旋转和上下移动不会影响其监测效果,同时提升轴的转动通过圆球的推动来实现,当提升轴卡住吋,圆球被强行从提升轴的槽中挤出,使提升轴失去驱动力,避免提升轴強行转动而造成装置损坏。附图说明图I是本技术用于监测晶体生长的装置的结构示意图;图2是图I中A处放大图。图中1、支架,2、提升轴,3、称重传感器,4、基座,5、短轴,6、短套,7、传动套,8、腰形槽,9、圆球,10、弹簧。具体实施方式以下结合附图,详细描述本技术的具体实施方案。如图I所示,本技术所述的用于监测晶体生长的装置,包括支架I和设置在支架I内的提升轴2、支架I内顶端设置有称重传感器3,所述称重传感器3的下端固定设置有基座4,基座4内转动设置有从动吊装装置。从动吊装装置包括通过轴承转动设置基座4内的短轴5和与短轴相连的短套6,短套6位于基座4下側。在实际生产时,短轴5也可跟短套6 —体成型。提升轴2的上端设置在通过轴承设置短套6内。提升轴2上套设有传动套7,且传动套7的上端位于短套6外侧,且传动套7的上端与短套6之间固定连接。传动套7的下端从支架I中穿出并于位干支架I外部的可驱动传动套7转动的驱动装置(因现有技木,图中未示出)相连。如图2所示,所述提升轴2位于短套6的外表面部位沿提升轴2轴向设置有腰形槽8,腰形槽8内设置有圆球9,短套6内埋设有弹簧10,该弹簧10的一端将圆球9抵在腰形槽8内,提升轴2的下端也从支架I内穿出。本技术的工作过程是因为在提拉法和旋转法中,晶体在结晶的过程中需要旋转并上下移动,所以利用驱动装置驱动传动套7转动,传动套7带动短套6转动,短套6再带动短轴5在基座4内转动,称重传感器3在测量晶体重量时不受短轴5的转动影响。同时,短套6还通过被弹簧10抵住的圆球9带动提升轴2转动,随着提升轴2的转动,挂在提升轴2下端的晶体也开始转动。晶体的上下移动则通过上下移动用于监测晶体生长的装置和驱动装置来实现。上述工作过程中,称重传感器3不受影响,能很好的监测晶体的重量变化,从而给结晶条件提供一个很好的參考。如果在操作过程中,提升轴2的下端的晶体因碰到坩埚而转动受阻时,可強行将圆球11从腰形槽8中挤出,避免提升轴2被传动套7強行带动旋转而造成晶体破坏或整个装置受损。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于监测晶体生长的装置,包括支架和设置在支架内的提升轴、支架内顶端设置有称重传感器,其特征在于所述称重传感器的下端固定设置有基座,基座内转动设置有从动吊装装置,从动吊装装置的上端位于基座内,其下端伸出基座,提升轴的上端通过轴承转动设置在从动吊装装置下端内,提升轴上套设有传动套,且传动套的上端位于从动吊装装置下端外侧,且传动套的上端与从动吊装装置的下端之间固定连接,传动套的下端从支架中穿出...

【专利技术属性】
技术研发人员:伊戈尔库兹涅佐夫伊戈尔柯尔克马克菲列格勒刘春艳毕成胡春霞
申请(专利权)人:苏州优晶光电科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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