【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种半导体芯片组体,特别是涉及一种由半导体元件、导线、黏着层及散热座组成的半导体芯片组体及其制造方法。本申请案为2009年11月11日提出申请的第12/616,773号美国专利申请案的部分延续案,也为2009年11月11日提出申请的第12/616,775号美国专利申请案的部分延续案,以上两案的内容均以引用的方式并入本文。本申请案另主张2010年11月7日提出申请的第61/410,932号美国临时专利申请案及2010年6月3日提出申请的第61/350,923号美国临时专利申请案的优先权,以上两案的内容也以引用的方式并入本文。上述于2009年11月11日提出申请的第12/616,773号美国专利申请案及上述于2009年11月11日提出申请的第12/616,775号美国专利申请案均为2009年9月11日提出申请的第12/557,540美国专利申请案的部分延续案,且也均为2009年9月11日提出申请的第12/557,541号美国专利申请案的部分延续案。上述于2009年9月11日提出申请的第12/557,540号美国专利申请案及上述于2009年9月11日提出申请的第12/557,541号美国专利申请案均为2009年3月18日提出申请的第12/406,510号美国专利申请案的部分延续案。该第12/406,510号美国专利申请案主张2008年5月7日提出申请的第61/071,589号美国临时专利申请案、2008年5月7日提出申请的第61/071,588号美国临时专利申请案、2008年4月11日提出申请的第61/071,072号美国临时专利申请案及20 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
2011.02.18 US 13/030,1361.一种半导体芯片组体,包含一半导体元件、一散热座及一导线;其特征在于该半导体芯片组体还包含一具有一第一开口的第一黏着层,及一具有一第二开口的第二黏着层;该散热座包含一第一凸柱、一第二凸柱及一基座,其中(i)该第一凸柱邻接该基座,并自该基座沿一第一垂直方向垂直伸出,该第一凸柱位于该第二凸柱的一周缘内,且该第一凸柱的一表面区域小于该第二凸柱的一表面区域的一半;(ii)该第二凸柱邻接该基座,并自该基座沿一与该第一垂直方向相反的第二垂直方向垂直伸出;且(iii)该基座位于该第一凸柱与该第二凸柱之间,并自该第一凸柱与该第二凸柱沿垂直于该第一垂直方向与该第二垂直方向的侧面方向侧伸而出;该导线包含一焊垫、一端子及一电性互连结构,其中该焊垫与该端子间的一导电路径包含该电性互连结构;其中该半导体元件设置于该第一凸柱上,垂直延伸于该基座沿该第一垂直方向的外侧,且侧向延伸于该第一凸柱与该第二凸柱的周缘内;该半导体元件电连结至该焊垫,从而电连结至该端子;该半导体元件热连结至该第一凸柱,从而热连结至该第二凸柱;其中该第一黏着层垂直延伸于该基座沿该第一垂直方向的外侧,并自该第一凸柱侧向延伸至该端子或越过该端子,同时位于该基座与该焊垫之间;其中该第二黏着层垂直延伸于该基座沿该第二垂直方向的外侧,并自该第二凸柱侧向延伸至该端子或越过该端子,同时位于该基座与该端子之间;其中该焊垫垂直延伸于该基座沿该第一垂直方向的外侧,该端子垂直延伸于该基座沿该第二垂直方向的外侧,该 电性互连结构延伸穿过该第一黏着层、该第二黏着层及该基座,但与该基座保持距离且电性隔离;并且其中该第一凸柱延伸进入该第一开口,该第二凸柱延伸进入该第二开口,该基座位于该第一黏着层与该第二黏着层之间,并于该第二垂直方向覆盖该半导体元件。2.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该半导体元件为一LED芯片。3.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该半导体元件利用一打线电连结至该焊垫,并利用一固晶材料热连结至该第一凸柱。4.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该半导体元件利用一第一焊锡电连结至该焊垫,并利用一第二焊锡热连结至该第一凸柱。5.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一黏着层接触该第一凸柱与该基座,并与该第二凸柱保持距离,该第二黏着层接触该第二凸柱与该基座,并与该第一凸柱保持距离。6.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一黏着层沿所述侧面方向覆盖且环绕该第一凸柱,该第二黏着层沿所述侧面方向覆盖且环绕该第二凸柱。7.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一黏着层延伸至该半导体芯片组体的外围边缘,该第二黏着层也延伸至该半导体芯片组体的外围边缘。8.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一黏着层与该第二黏着层彼此保持距离。9.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一凸柱与该基座一体成形,该第二凸柱也与该基座一体成形。10.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一凸柱的直径随着该第一凸柱自该基座沿该第一垂直方向垂直延伸而递减,该第二凸柱的直径随着该第二凸柱自该基座沿该第二垂直方向垂直延伸而递减。11.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该基座延伸至该半导体芯片组体的外围边缘。12.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该焊垫延伸于该第一黏着层沿该第一垂直方向的外侧,该端子则延伸于该第二黏着层沿该第二垂直方向的外侧。13.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该焊垫接触该第一黏着层,该端子接触该第二黏着层。14.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该焊垫与该第一黏着层保持距离,该端子则与该第二黏着层保持距离;一第一介电层接触且位于该焊垫与该第一黏着层之间,但与该第一凸柱及该基座保持距离,一第二介电层接触且位于该端子与该第二黏着层之间,但与该第二凸柱及该基座保持距离;该电性互连结构延伸穿过该第一介电层与该第二介电层。15.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该焊垫位于该第二凸柱的该周缘内,该端子位于该第二凸柱的该周缘外,且该电性互连结构为一被覆穿孔。16.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该焊垫与该端子为相同的金属。17.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该焊垫与该端子包含一金、银或镍质表面层及一内部铜核心,且主要为铜,该基座为铜。18.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该导线包含一由该焊垫、该端子与该电性互连结构共用的铜核心。19.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该散热座包含一由该第一凸柱、该第二凸柱与该基座共用的铜核心。20.根据权利要求I所述的半导体芯片组体,其特征在于该导线包含一由该焊垫、该端子与该电性互连结构共用的铜核心,而该散热座则包含一由该第一凸柱、该第二凸柱与该基座共用的铜核心。21.一种半导体芯片组体,包含一半导体元件、一散热座及一导线;其特征在于该半导体芯片组体还包含一具有一第一开口的第一黏着层,及一具有一第二开口的第二黏着层;该散热座包含一第一凸柱、一第二凸柱、一第一盖体、一第二盖体及一基座,其中(i)该第一凸柱邻接该基座并与该基座形成一体,同时自该基座沿一第一垂直方向垂直伸出,且位于该基座与该第一盖体之间,该第一凸柱位于该第二凸柱的一周缘内,且该第一凸柱的一表面区域小于该第二凸柱的一表面区域的一半;(ii)该第二凸柱邻接该基座并与该基座形成一体,同时自该基座沿一与该第一垂直方向相反的第二垂直方向垂直伸出,且位于该基座与该第二盖体之间;(iii)该基座位于该第一凸柱与该第二凸柱之间,并自该第一凸柱与该第二凸柱沿垂直于该第一垂直方向与该第二垂直方向的侧面方向侧伸而出;Qv)该第一盖体邻接该第一凸柱,并于该第一垂直方向覆盖该第一凸柱,同时自该第一凸柱侧伸而出;且(V)该第二盖体邻接该第二凸柱,并于该第二垂直方向覆盖该第二凸柱,同时自该第二凸柱侧伸而出;该导线包含一焊垫、一端子及一电性互连结构,其中该焊垫与该端子间的一导电路径包含该电性互连结构;其中该半导体元件设置于该第一盖体上,垂直延伸于该第一盖体沿该第一垂直方向的外侧,侧向延伸于该第一凸柱、该第二凸柱、该第一盖体与该第二盖体的周缘内,且位于该第二凸柱与该第二盖体的周缘内;该半导体元件电连结至该焊垫,从而电连结至该端子;该半导体元件热连结至该第一盖体,从而热连结至该第二盖体;其中该第一黏着层接触该第一凸柱与该基座,但与该第二凸柱保持距离,该第一黏着层垂直延伸于该基座沿该第一垂直方向的外侧,并自该第一凸柱侧向延伸至该端子或越过该端子,同时位于该基座与该焊垫之间;其中该第二黏着层接触该第二凸柱与该基座,但与该第一凸柱保持距离,该第二黏着层垂直延伸于该基座沿该第二垂直方向的外侧,并自该第二凸柱侧向延伸至该端子或越过该端子,同时位于该基座与该端子之间;其中该焊垫垂直延伸于该第一黏着层沿该第一垂直方向的外侧,该端子垂直延伸于该第二黏着层沿该第二垂直方向的外侧,该电性互连结构延伸穿过该第一黏着层、该第二黏着层及该基座,但与该基座保持距离且电性隔离;并且其中该第一凸柱延伸进入该第一开口,该第二凸柱延伸进入该第二开口 ;该第一盖体垂直延伸于该第一黏着层沿该第一垂直方向的外侧,该第二盖体垂直延伸于该第二黏着层沿该第二垂直方向的外侧;该基座位于该第一黏着层与该第二黏着层之间,并于该第二垂直方向覆盖该半导体元件。22.根据权利要求21所述的半导体芯片组体,其特征在于该半导体元件为一LED芯片,且位于该第一凸柱、该第二凸柱、该第一盖体与该第二盖体的周缘内;该半导体元件利用一固晶材料设置于该第一盖体上,并利用一打线电连结至该焊垫,同时利用该固晶材料热连结至该第一盖体。23.根据权利要求21所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一黏着层接触该第一盖体,该第二黏着层则接触该第二盖体。24.根据权利要求21所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一黏着层沿所述侧面方向覆盖且环绕该第一凸柱,该第二黏着层沿所述侧面方向覆盖且环绕该第二凸柱。25.根据权利要求21所述的半导体芯片组体,其特征在于该第一黏着层延伸至该半导体芯片组体的外围边缘,该第二黏着层也延伸至该半导体芯片组体...
【专利技术属性】
技术研发人员:林文强,王家忠,
申请(专利权)人:钰桥半导体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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