一种触摸屏品质测试中的样品切割设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种触摸屏品质测试中的样品切割设备，用于解决现有触摸屏品质测试阶段，触摸屏样品切割精度低，测试效率低下的技术问题。本实用新型专利技术提供的样品切割设备，通过自带的显微镜系统有效准确的锁定预切割位置，利用设备上的固定在水平支杆上的切割刀具实现切割，改善了触摸屏品质测试阶段切割触摸屏样品的方式，提高了切割精度，节省了测试取样时间，降低了时间和人力成本，提高了测试效率。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及触摸屏
，尤其涉及一种触摸屏品质测试中的样品切割设备。
技术介绍
目前，触摸屏(TouchPanel, TP)作为一种输入设备，允许用户直接在加有触摸屏的显示装置表面通过点触或手写的方式输入信息，比鼠标、键盘等输入设备更友好、方便，因此越来越广泛地被应用在如手机、平板电脑等各种便携式设备上。随着终端应用的普及，触控面板产能急剧扩充，良品率高低将直接决定 企业的成败，而品质测试阶段是衡量产品良品率的关键。在品质测试阶段需要观察触摸屏各层及接合(Bonding)处各向异性导电胶ACF胶的形成情况，尤其是对金属桥(Metal Bridge)搭桥及过孔部位的观察,是整个品质测试阶段必不可少的部分，由于触摸屏样品绝缘胶厚度相对较厚，无法使用离子轰击方法进行切害lJ,只能靠肉眼和手动切割取样。同时由于触摸屏产品Metal Bridge (O. 3mm*0. 012mm)和过孔(O. 04mm*0. 015mm)排布稀疏且尺寸较小，现有的切割方式无法有效快捷的实现取样，例如，获取一片可测量的测试触摸屏样品，平均至少需要8片面板Panel，取样时间占整个测试时间的70%。因此，以现有切割方式来取样，不仅切割精度低，样品耗费量大，而且测试效率低下，时间和人力成本都很高。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的主要目的在于提供一种触摸屏品质测试中的样品切割设备，用于解决现有触摸屏品质测试阶段，触摸屏样品切割精度低，测试效率低下的技术问题。为达到上述目的，本技术的技术方案是这样实现的—种触摸屏品质测试中的样品切割设备，该设备包括带有侧台的机台；位于机台侧边的用于固定待切IllJ样品的样品固定夹具；安装于侧台上的水平支杆，与机台上表面平行，具有中空的滑轨；安装于水平支杆的滑轨内，用于固定切割刀具的刀具固定组件；安装于水平支杆端部，用于对待切割样品进行定位的显微镜。进一步地，所述样品切割设备还包括用于调节显微镜的目镜与物镜的显微镜位置调节装置。进一步地，所述样品切割设备还包括用于横向调节水平支杆位置的横向调节装置。进一步地，所述样品切割设备的所述侧台上还设置有支杆对位标尺。进一步地，所述样品切割设备还包括用于纵向调节水平支杆位置的纵向调节装置。进一步地，所述样品切割设备的所述侧台上还设置有伸缩标尺。本技术提供的样品切割设备，通过自带的显微镜系统有效准确的锁定预切割位置，利用设备上的固定在水平支杆上的切割刀具实现切割，改善了触摸屏品质测试阶段切割触摸屏样品的方式，提高了切割精度，节省了测试取样时间，降低了时间和人力成本，提高了测试效率。附图说明图I为本技术提供的触摸屏品质测试中的样品切割设备的俯视图；图2为本技术提供的触摸屏品质测试中的样品切割设备的侧视图；以下为上述附图中的附图标记10机台11水平支杆20显微镜30显微镜位置调节装置31刀具固定组件32横向调节装置33纵向调节装置34样品固定旋钮40支杆对位标尺41伸缩标尺50切割刀具60样品固定夹具70 侧台。具体实施方式为使技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下举实施例并参照附图，对技术进一步详细说明。图I为本技术实施例提供的触摸屏品质测试中的样品切割设备的俯视图，图2为该切割设备的侧面视图，该切割设备包括带有侧台70的机台10，机台10表面平整，用于承载待切割样品，位于机台10—侧的侧台70用于固定样品固定夹具60和水平支杆11等；样品固定夹具60,位于机台10的两侧,用于将待切割样品固定在机台10上,样品固定夹具60的上下两个夹片通过样品固定旋钮34连接，为防止损伤待切割样品，在样品固定夹具60的上下两个夹片上设置有保护胶垫；当然，也可使用夹子式的夹具来实现样品固定夹具60。水平支杆11，安装于机台10的侧台70上，与机台10上表面水平，具有中空的滑轨；刀具固定组件31，安装于水平支杆11的滑轨内，用于固定切割刀具50，在将切割刀具50固定好后，可控制切割刀具50沿滑轨滑动，从而对待切割样品进行切割；显微镜20，安装于水平支杆11的端部，用于对待切割样品进行观察，对待切割位置进行定位；进一步地，所述切割设备还包括显微镜位置调节装置30，用于调节显微镜20的目镜与物镜，以控制对待切割样品的放大缩小倍数；进一步地，所述切割设备还包括横向调节装置32，以图I为例，该旋钮可使水平支杆11在两个样品固定夹具60之间滑动，从而控制切割刀具能够沿侧台方向横向左右移动，锁定切割位置；为进一步提高调节精度，所述侧台70上还设置有支杆对位标尺40，用于准确把握支杆左右调节水平支杆11的尺度；进一步地，所述切割设备还包括纵向调节装置33，该旋钮可使水平支杆11在侧台70的垂直方向上进行前后伸缩，从而在垂直方向上锁定切割位置；为进一步提高调节精度，所述侧台70上还设置有 伸缩标尺41，用于准确把握调节水平支杆11的伸缩尺度；使用本技术实现样品切割的过程主要包括(I)将测试样品放置在机台10上，使用左右两侧的样品固定夹具60将触摸屏样品面板水平固定在机台10上，通过显微镜位置调节装置30来调整显微镜20距样品的垂直距离，在能够清晰看清样品上的线路布局时，通过显微镜20上的微调旋钮、纵向调节装置33、横向调节装置32实现对切割位置的锁定，刀具固定组件31固定于水平支杆11上，切割刀具50被固定于刀具固定组件31中，且切割刀具的刀头和显微镜物镜中心在同一直线上，保证切割位置和观察位置也在同一直线上。切割位置确定后，轻按刀具固定组件31沿水平支杆11中的滑轨滑下，即可完成切割过程，然后取下样品玻璃，沿划痕两侧轻掰样品，即可获得触摸屏品质测试中所需要的测试样品。以上所述，仅为技术的较佳实施例而已，并非用于限定技术的保护范围。权利要求1.一种触摸屏品质测试中的样品切割设备，其特征在于，该设备包括带有侧台的机台；位于机台侧边的用于固定待切割样品的样品固定夹具；安装于侧台上的水平支杆，与机台上表面平行，具有中空的滑轨；安装于水平支杆的滑轨内，用于固定切割刀具的刀具固定组件；安装于水平支杆端部，用于对待切割样品进行定位的显微镜。2.根据权利要求I所述的样品切割设备，其特征在于，还包括用于调节显微镜的目镜与物镜的显微镜位置调节装置。3.根据权利要求I所述的样品切割设备，其特征在于，还包括用于横向调节水平支杆位置的横向调节装置。4.根据权利要求3所述的样品切割设备，其特征在于，所述侧台上还设置有支杆对位标尺。5.根据权利要求I至4任一所述的样品切割设备，其特征在于，还包括用于纵向调节水平支杆位置的纵向调节装置。6.根据权利要求5所述的样品切割设备，其特征在于，所述侧台上还设置有伸缩标尺。专利摘要本技术公开了一种触摸屏品质测试中的样品切割设备，用于解决现有触摸屏品质测试阶段，触摸屏样品切割精度低，测试效率低下的技术问题。本技术提供的样品切割设备，通过自带的显微镜系统有效准确的锁定预切割位置，利用设备上的固定在水平支杆上的切割刀具实现切割，改善了触摸屏品质测试阶段切割触摸屏样品的方式，提高了切割精度，节省了测试取样时间，降低了时间和人力成本，提高了测试效率。文档编号C03B33/037GK202357295SQ20112047643本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨盛际，胡明，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：