【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术总地涉及半导体激光器驱动器件以及具有该半导体激光器驱动器件的成像装置。
技术介绍
半导体激光器(即,激光二极管,LD) —般具有相比于其它半导体组件相对短的寿命,并且LD等的发射控制器一般配置为检测LD随着时间的劣化,以便在劣化的LD实际坏掉之前,用新的LD替换劣化的LD。在可替换的用于检测LD劣化的技术中,LD配置为使得随时间持续监控流入LD的电流以检测LD劣化。例如,如果在半导体激光器驱动器件装配线(assembly line)中的每个处理中监控流入LD的电流,可以立即弄清楚哪一个处理已经出现了 LD劣化。于是,可以立即检测到LD劣化并且可以在更早的阶段以新的LD替换劣化的LD。作为现有技术的用于检测LD劣化的一个示例,日本特开专利申请公开第 2000480522号(也称为“专利文献1”)公开了一种能够通过监控经电流-电压转换的电压来检测LD劣化的成像装置,其中激光二极管LD和电阻器R以串联方式连接使得对经电流-电压转换的电压进行监控。同样地,作为另一实施例,日本特开专利申请公开第 09489493号(也称为“专利文献2”)公开了能够通过使用流入光 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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