【技术实现步骤摘要】
本技术属于测试领域,是一种光电耦合器电流传输比测试装置。
技术介绍
光电耦合器(以下简称光耦)作为电路隔离器件已经得到了广泛的应用,但如何充分利用光耦隔离、传输的特点是本领域技术人员一直研究而尚未完善的课题。光耦的技术参数主要有发光二极管正向压降Vf、正向电流If、输出电流Ic、电流传输比CTR、输入级与输出级之间的绝缘电阻、集电极-发射极反向击穿电压V(BR)·和集电极-发射极饱和压降 Vce(sat)。电流传输比是光耦的重要参数,通常用直流电流传输比来表示,但光耦的电流传输比范围很大,通常在设计、检测和替换时尚不知道光耦电流传输比的具体值,很容易损坏器件,或实现不了应有的功能。那么,快速、准确、方便的测试出光耦的电流传输比是十分重要的。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是,提供一种能够方便快捷的测试出光耦的电流传输比CTR,直观的理解光耦电器特性的光电耦合器电流传输比测试装置。解决其技术问题所采取的技术方案是,一种光电耦合器电流传输比测试装置,它包括电源供电电路,其特征是还包括光耦测试电路,所述的光耦测试电路具有光耦IC1,光耦ICl的1脚、电流表Al、 可变电阻R1、开关Sl与电源供电电路的电源VCC连接,光耦ICl的4脚、电流表A2、可变电阻R2与电源VCC连接,光耦ICl的2、3脚并接发光二极管D7、D8与地连接。本技术的光电耦合器电流传输比测试装置,通过调节可变电阻Rl、R2的阻值,使光耦ICl工作在线性放大区,两个电流表Al和A2显示的值就是输入和输出电路,电流传输比CTR就等于电流表A2表的值比电流表Al表的值。能够方便、快捷的测试出 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1. 一种光电耦合器电流传输比测试装置,它包括电源供电电路,其特征是还包括光耦测试电路,所述的光耦测试电路具有光耦(IC1),光耦(ICl)的1脚、电流表(Al)、可变电阻(R1)、开...
【专利技术属性】
技术研发人员:武新旗,王乙童,朱有,阎劲光,魏卓,王晋宇,蒋彬,孙毅成,
申请(专利权)人:深圳市江机实业有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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