玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻璃部件制造方法及图纸

玻璃部件的质量管理方法包括标记工序，在该标记工序中，对玻璃部件的规定位置施加基准标记，该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻璃部件。
技术介绍
近年来，液晶面板(LCD:Liquid Crystal Display)、有机 EL 面板(OLED =Organic Light-Emitting Diode)、等离子显示器面板、场发射(FED =Field Emission Display)等显示面板的大型化、薄型化不断发展，要求高质量的显示面板用的玻璃基板的大型化、薄型化不断发展。由此，制造没有缺陷的玻璃基板变得困难。另一方面，在专利文献1中记载了在玻璃基板的规定位置处施加表示质量信息 (缺陷信息)、识别信息的标记的技术。质量信息包括缺陷的个数、大小、深度、位置等。将玻璃基板与其质量信息一起提供给后续工序(包括客户)，由此被供应方能够高效地使用包含缺陷的玻璃基板。专利文献1 日本特开2006-039725号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，在上述专利文献1所记载的技术中，在基于质量信息使用玻璃基板时，要测量距玻璃基板的基准位置(例如前端侧的一角)的距离，因此距基准位置越远，测量误差越大。因此，由于玻璃基板的大型化而有时无法正确把握缺陷的位置。特别是，最近提出了以下内容将纵长的具有挠性(flexibility)的玻璃基板卷成辊状来提供给后续工序，在这种情况下，玻璃基板的纵长方向尺寸有时达到30m以上。当玻璃基板的纵长方向尺寸达到30m以上时，上述问题变得显著。在显示面板的制造成本中，玻璃基板的成本所占的比例低，因此，如果在制造显示面板后发现由于玻璃基板的缺陷导致的问题，则浪费多。本专利技术是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种能够高效地使用含有缺陷的玻璃部件的玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻璃部件。用于解决问题的方案为了解决上述问题，本专利技术的玻璃部件的质量管理方法包括标记工序，在该标记工序中，在玻璃部件的规定位置施加基准标记，该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。此外，玻璃部件既可以是辊状，也可以是板状，其形状不被限定。另外，玻璃部件也可以厚度小于等于0.3mm，优选具有挠性(flexibility)。其中，在将本专利技术应用于厚度小于等于0. 3mm的辊状的玻璃部件的情况下，可以发挥特别优异的效果。另外，本专利技术的玻璃部件的质量管理装置具有标记装置，该标记装置对玻璃部件的规定位置施加基准标记，该基准标记为对上述玻璃部件在从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点。另外，本专利技术的带标记的玻璃部件在玻璃部件的规定位置处被施加了基准标记， 该基准标记为对上述玻璃部件从该规定位置起规定范围内的缺陷的位置进行检测时的基准点 ο专利技术的效果根据本专利技术，能够提供一种能够高效地使用含有缺陷的玻璃部件的玻璃部件的质量管理方法和质量管理装置以及带标记的玻璃部件。附图说明图1是表示玻璃基板的制造方法的工序图。图2是表示作为本专利技术的第一实施方式的玻璃基板的质量管理方法的工序图。图3是表示作为本专利技术的第一实施方式的玻璃基板的质量管理装置的示意图。图4是表示作为本专利技术的第一实施方式的带标记的玻璃基板的一部分的俯视图。图5是表示在被供应方处带标记的玻璃基板10的使用区域和不使用区域的一例的俯视图。图6是表示由摄像装置16a拍摄到的图像的一例的示意图。图7是表示在图6的图像中设定的二维坐标系的一例的示意图。图8是表示作为本专利技术的第二实施方式的玻璃基板的质量管理方法的工序图。图9是表示作为本专利技术的第二实施方式的带标记的玻璃基板的一部分的俯视图。图10是表示图9的变形例的俯视图。图11是表示图9的另一个变形例的俯视图。图12是表示作为本专利技术的第三实施方式的玻璃基板的质量管理装置的示意图。图13是表示接着图2的玻璃基板10的质量管理方法的工序图。具体实施例方式下面，参照附图来说明用于实施本专利技术的方式。此外，在本实施方式中，说明将本专利技术应用于要求高质量的显示面板用玻璃基板的情况，但是也可以将本专利技术应用于太阳能电池用的玻璃基板、硬盘用的玻璃基板等电子设备用的玻璃基板，还可以应用于建筑用玻璃板、汽车用玻璃板等一般的玻璃板。图1是表示玻璃基板的制造方法的工序图。首先，将玻璃原料投入到玻璃熔化层来进行熔化(步骤Sll)。熔化得到的熔融玻璃移动到玻璃熔化层内的下游侧，向澄清槽流出。接着，对澄清槽内的熔融玻璃所包含的气泡进行消泡并进行澄清(步骤S12)。接着，使澄清后的熔融玻璃成形为板状(步骤S13)。作为成形方法，例如使用熔融法(fusion method)、浮法(float method)。在熔融法中，澄清后的熔融玻璃沿截面呈楔状的成形体的两侧面流下，在成形体的下边缘部正下方合流而形成为一体，向下方延伸而形成板状。另外，在浮法中，澄清后的熔融玻璃流到浮法槽内的熔融金属(例如熔融锡)上， 利用熔融金属的平滑表面而形成板状。最后，对已成形的板状玻璃进行缓冷(步骤S14)，来制造玻璃基板。在步骤S14 的缓冷之后，也可以根据需要对玻璃基板进行切割、研磨、清洗。此外，也可以在后述的步骤 S23之后对玻璃基板进行切割。接着，参照图2来简单地说明玻璃基板的质量管理方法。图2是表示作为本专利技术的第一实施方式的玻璃基板的质量管理方法的工序图。在标记工序(步骤S21)中，在玻璃基板的规定位置施加基准标记。基准标记是成为基准点的标记，该基准点是在玻璃基板的被供应方处检测从该规定位置起规定范围内的玻璃基板的缺陷的位置时的基准点。此外，关于上述规定范围内，与检测缺陷的位置的方法等相应地适当设定该规定范围，优选IOm以内，更优选: 以内。在检查工序(步骤S2》中，检查玻璃基板的质量。检查的项目例如有是否存在缺陷、缺陷的位置(包括大小)、种类。作为缺陷的种类，例如有异物、气泡、表面伤痕等。在本实施方式的检查工序(步骤S2》中，以通过标记工序施加的基准标记为基准点，检测从该基准点起规定范围内(例如IOm以内(优选: 以内))是否存在缺陷、缺陷的位置(包括大小)、种类。在记录工序(步骤S2!3)中，将通过标记工序施加的基准标记的识别信息与通过检查工序检测出的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。在本实施方式的记录工序(步骤S2!3)中，将在检查工序中用于检测的基准标记的识别信息与通过检查工序检测出的缺陷的位置信息相对应地记录在记录介质中。记录介质除了是纸、光记录介质、磁记录介质以外，也可以是玻璃基板。在记录到玻璃基板的情况下，在玻璃基板的规定位置施加表示玻璃基板的质量信息(包括缺陷的位置信息、基准标记的识别信息)的标记。由此，在玻璃基板的被供应方处能够读取玻璃基板 10的质量信息。玻璃基板的质量信息既可以通过纸等记录介质进行提供，也可以通过网络进行提供。在像这样与玻璃基板分开地提供玻璃基板的质量信息的情况下，将用于识别玻璃基板的识别信息(ID代码)标记在玻璃基板上，成组地提供质量信息和识别信息。将像这样施加了基准标记的玻璃基板与其质量信息一起提供给后续工序(包括客户)。由此，即使是如果在以往会由于一块玻璃基板的一部分含有缺陷而对该玻璃基板进行缺陷修正或废弃处理这样的玻璃基板，也能够将缺陷以外的部分作为可使用的玻璃基板而直接出厂。因此，生产效率的降低和资源本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：津田匡博，
申请(专利权)人：旭硝子株式会社，
类型：发明
国别省市：