一种快速测定电解质温度、初晶温度与过热度的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种快速测定电解质温度、初晶温度与过热度的装置，包括金属管，金属管由上金属管和下金属管组成，并由转接头进行连接，在上金属管上通过平头螺丝固定有温度信号采集卡，温度信号采集卡的输出端通过线路与显示仪表（或上位机）相连接，在下金属管的底部通过探头卡具固定连接有保护套管，保护套管的另一端焊接有取样器，在保护套管内设置有测温元件，测温元件的一端插入下金属管中并通过下金属管上设置的出线口与温度信号采集卡连接，测温元件的另一端设置在保护套管顶部2～10mm处，本实用新型专利技术不仅具有结构简单，使用方便的优点，而且设计巧妙、安全可靠、测温准确、智能化程度高、成本低廉、携带方便等优点。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种快速测定电解质温度、初晶温度与过热度的装置，属于应用热电元件为基础的温度检测

技术介绍
过热度为电解温度与电解质初晶温度的差值，铝电解质过热度的控制对于铝液中的磁场分布、电解槽内磁流体的运动、电解槽寿命以及电流效率都有着很大的影响，电解质过热度增加，炉帮减薄，伸腿缩短，电解质水平升高而铝水平降低，电解质过热度减小，炉帮增厚，伸腿变长，电解质水平下降而铝水平升高，槽膛内形的变化又影响铝电解槽的磁场分布，而电磁力会推动铝液运动，决定着铝液运动状态和铝液镜面隆起高度，铝液运动反过来又影响着槽膛内形，因此，快速、准确地检测出过热度值并对其进行有效地控制对于稳定生产，提高电流效率是至关重要的。目前，快速测定电解质温度、初晶温度与过热度的装置是一种以钼铑一钼热电偶为测温探头的过热度检测装置，但是这种装置的测温探头是易消耗的，每测定一次初晶温度就需要重新更换探头，成本很高，并且取样器容积较大，电解质降温速度慢，需较长测量时间，并且对于已凝固的电解质难于处理，数据采集系统中没有温度补偿模块，在采集温度信号时需要对冷端进行温度补偿，不便于现场操作，所以现有技术还是不够完善。专本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王紫千，
申请(专利权)人：贵阳铝镁设计研究院有限公司，
类型：实用新型
国别省市：