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一种结晶温度可调的SiO2/Sb80Te20纳米复合多层相变薄膜材料及其制备方法技术

技术编号:4074569 阅读:368 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术属于微电子材料领域,涉及一种结晶温度可调的SiO2/Sb80Te20纳米复合多层相变薄膜材料及其制备方法。所述薄膜材料中单层SiO2薄膜和单层Sb80Te20薄膜交替排列成多层薄膜结构,所述单层SiO2薄膜的厚度为5~15nm,单层Sb80Te20薄膜的厚度为2~5nm。所述纳米复合多层相变薄膜材料具有如下特点:首先,薄膜材料的结晶温度随着Sb80Te20薄膜厚度的减小或SiO2薄膜厚度的增加而升高;其次,薄膜材料同时具有良好的热稳定性和较快的结晶速度;再次,薄膜材料的晶态电阻随着周期中Sb80Te20薄膜厚度的减小或SiO2薄膜厚度的增加而增大,有助于降低存储器件的操作功耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于微电子材料领域,具体涉及一种用于相变存储器的结晶温度可调的 Si02/Sb80Te20纳米复合多层相变薄膜材料及其制备方法。
技术介绍
相变存储器(PCM)是当今全球半导体产业中炙手可热的研究领域之一,作为新一 代非易失性存储器技术,它可以提供高的编程和读取速度,支持多的重写周期,具有低的生 产成本,也非常兼容于COMS工艺,这一产品有望取代目前普遍使用的闪存。相变存储器是 利用电流产生的焦耳热量可逆改变薄膜电阻进行编程,薄膜在高阻值时为非晶态,在低阻 值是为晶态,高低电阻值分别对应着逻辑数据的“ 1,,和“0”。在相变存储器研发中,相变材料的性能对于器件的整体性能起着决定性的作 用。Sb-Te合金材料已广泛应用在相变存储器和相变光盘中(R.E. Simpsom等人,Applied Physics Letters,92,141921,2008),这种相变材料被证明非常适合于高速存储。由于生长 占主导的结晶过程,Sb-Te比传统的Ge2Sb2Te5相变材料的结晶速度快。随着存储单元和接 触面积的减小,Sb-Te的结晶速度将会变得更快;同时结晶速度随着成分中Sb/Te含量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:翟继卫汪昌州沈波
申请(专利权)人:同济大学
类型:发明
国别省市:31

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