一种半导体制冷型顶空测试用采样装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种半导体制冷型顶空测试用采样装置，包括抽气泵、采样管线、温度探头、顶空瓶、散热板、半导体冷堆、散热组件及风扇，抽气泵、采样管线及顶空瓶构成采样通路，散热板、半导体冷堆、散热组件及风扇构成制冷通路，半导体冷堆提供冷源。与现有技术相比，本发明专利技术具有尺寸小、重量轻、无机械传动部分，通过调节工作电流的大小可方便调节制冷速率，使用寿命长，且易于控制，环境性能优良、经济性好等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种采样装置，尤其是涉及一种半导体制冷型顶空测试用采样装置。
技术介绍
凡具有爆炸、易燃、毒害、腐蚀、放射性等危险性质，在运输、装卸、生产、使用、储存、保管过程中，于一定条件下能引起燃烧、爆炸，导致人身伤亡和财产损失等事故的化学物品，统称为化学危险物品。随着科学技术水平发展，人们对生产环境，生活环境的安全意识越来越深入。对环境保护越来越来关注，环保与安全得到政府各级部门、企事业单位的重视，有关的政策、法规、标准日趋完善，对有毒有害、易挥发(易燃易爆)的危险品生产、运输提出了严格要求。易挥发(易燃易爆)危险品检测已是必不可少，已经被国家列入强制鉴定目录。这样，各种采样检测设备应运而生。针对易挥发(易燃易爆)气体的采集现大多采用吸附剂吸附之后，利用气相色谱或气质联用仪解析之后进行分析测定。现利用的吸附采样需要大气采样器、吸附管，且在使用过程中需要采集较长的时间，通常需要2小时以上，同时若吸附剂达到吸附饱和时吸附效果将下降。同时在分析之前还需将吸附的样品进行加热解析才可进行分析，如解析的效果不理想将影响分析结果。
技术实现思路
本专利技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张小沁，刘刚，薛晓康，林建，王露，
申请(专利权)人：上海化工研究院，
类型：发明
国别省市：