溅射装置及溅射方法制造方法及图纸

技术编号:7136090 阅读:231 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种建设装置,该装置结构简单,成本低廉,在该溅射装置中,可以对具有大高径比的微孔上以良好的覆盖特性成膜。该溅射装置具有设置在真空室2内的一靶3和衬底W,该靶与该衬底相对设置;在所述靶的溅射面3a前方产生隧道状磁场的磁铁组件4、将溅射气体导入于所述真空室内的气体导入装置7,以及对所述靶施加负的电位的溅射电源5。还具备有用以产生一垂直磁场的磁场产生装置11u,11d,该磁场的磁力线M垂直的通过所述靶的溅射面及整个衬底的表面,且磁力线之间有规定的间距。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于在待处理的衬底的表面成膜的;本专利技术 特别涉及一种DC磁控方式的。
技术介绍
这种DC磁控方式的溅射装置,例如在半导体设备的制作中的成膜工序中使用。随 着近年来配线图案的细微化,对于这种用途的溅射装置强烈要求提高覆盖度,即要求针对 具有大纵横比(aspect ratio)的细微空穴(via holes),能够在待处理衬底的整个表面上 覆盖性良好地成膜。一般而言,对于上述溅射装置,在例如靶的后方(背向溅射面的一侧),配置有包 括以交替改变极性的方式而设置多个磁铁的磁铁组件;通过该磁铁组件在靶的前方(溅射 面侧)产生隧道状的磁场,在靶的前方捕捉电离的电子及因溅射而产生的二次电子,从而 提高靶前方的电子密度并提高等离子体密度。对于这样的溅射装置,在靶中的受到上述磁场影响的区域优先溅射。由此,如果从 放电稳定性、提高靶的使用效率等方面考虑,上述区域处于例如靶中央区域附近,那么溅射 时的靶的侵蚀量在该中央区域附近变大。在这种情况下,从靶溅射的靶材粒子(例如金属 粒子,以下称为“溅射粒子”)便以倾斜的角度入射并附着在衬底的外周部。其结果是,在用 上述靶成膜的情况下,已知本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种溅射装置,用于对设置于真空室内的衬底的表面成膜,该装置包括:与所述衬底相对设置的靶,在所述靶的溅射面前方产生磁场的磁铁组件,将溅射气体导入所述真空室内的气体导入装置,以及对所述靶施加负电位的溅射电源,其特征在于:还具有用以产生一垂直磁场的磁场产生装置,该磁场的磁力线垂直通过所述靶的溅射面及整个衬底的表面,且磁力线之间有规定的间距。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:森本直树
申请(专利权)人:株式会社爱发科
类型:发明
国别省市:JP

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