【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
１．用于监测电子束强度的方法，其特征在于，探测和评估由电子束直接或间接产生的电子辐射或者电磁辐射，以便探测所述电子束强度的变化。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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