监测光强度涨落的设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种监测光强度涨落的设备，光电二极管用于将输入光信号转化为与输入光功率成正比的光电流；程控I/V转换模块用于将光电流转变成一定的电压信号；A/D转换模块用于对电压信号进行采样后送入MCU；MCU用于将采样数据量化结果再转化成光功率值，然后将光功率值送LCD显示，MCU将采集的采样数据所对应的点缓存下来，并通过LCD将点数值绘制到坐标图上，再将所有的点连成一条线，以实现根据线的变化和高低起伏，直观的获得光强度的变化。本实用新型专利技术具有高智能化、高精度、高灵敏度，可进行宽动态范围、高精度光功率测量和高分辨率的损耗测量，可用于光通信设备、光纤、光无源器件的测试，测试精度高等特点。

【技术实现步骤摘要】
201520805407

【技术保护点】
一种监测光强度涨落的设备，其特征在于包括：PIN光电二极管、程控I/V转换模块、AD采样模块、MCU、LCD、通讯接口和按键；所述PIN光电二极管与程控I/V转换模块电连接，程控I/V转换模块与AD采样模块电连接，AD采样模块与MCU电连接，MCU电连接分别与LCD和通讯接口电连接；所述MCU还分别与程控I/V转换模块和AD采样模块电连接；所述光电二极管用于将输入光信号转化为与输入光功率成正比的光电流；所述程控I/V转换模块用于将光电流转变成一定的电压信号；所述AD采样模块用于对电压信号进行A/D采样，然后将采样数据送入MCU；经过量化后所述MCU用于将采样数据量化结果再转化成光功率值，然后将光功率值送LCD显示。

【技术特征摘要】
2015.04.06 CN 20152020089721.一种监测光强度涨落的设备，其特征在于包括：PIN光电二极管、程控I/V转换模块、AD采样模块、MCU、LCD、通讯接口和按键；所述PIN光电二极管与程控I/V转换模块电连接，程控I/V转换模块与AD采样模块电连接，AD采样模块与MCU电连接，MCU电连接分别与LCD和通讯接口电连接；
所述MCU还分别与程控I/V转换模块和AD采样模块电连接；所述光电二极管用于将输入光信号转化为与输入光功率成正比的光电流；所述程控I/V转换模块用于将光电流转变成一定的电压信号；所述AD采样模块用于对电压信号进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：苗春华，吕利影，刘云，赵义博，
申请(专利权)人：安徽问天量子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34