一种陶瓷器皿强度检测装置及方法制造方法及图纸

技术编号:15704056 阅读:353 留言:0更新日期:2017-06-26 05:22
本发明专利技术公开了一种陶瓷器皿强度检测装置及方法,属于陶瓷技术领域,包括第一光电耦合器、第二光电耦合器和计时器,所述第一光电耦合器包括第一光源和第一光敏元件,第二光电耦合器包括第二光源和第二光敏元件,第一光电耦合器和第二光电耦合器均连接至计时器,测试件穿过第一光电耦合器和第二光电耦合器产生的脉冲信号作为计数器的闸门,得到计数值N

Device and method for detecting strength of ceramic ware

The invention discloses a device and method for detecting strength of ceramic ware, which belongs to the technical field of ceramics, including the first photoelectric coupler, second photoelectric coupler and timer, the first photoelectric coupler includes a first light source and a first photosensitive element, second photoelectric coupler includes a second light source and second photosensitive element, the first photoelectric coupler and second photoelectric couplers are connected to timer test through the pulse signal to generate a first photoelectric coupler and second photoelectric coupler as a counter gate, get the count value N

【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷器皿强度检测装置及方法
本专利技术属于陶瓷
,具体涉及一种陶瓷器皿强度检测装置及方法。
技术介绍
陶瓷是陶器和瓷器的总称,以天然粘土以及各种天然矿物为主要原料经过粉碎混炼、成型和煅烧制得的材料的各种制品。中国是世界上最早应用陶瓷的国家之一,陶瓷因其质地坚硬、细密、严禁、耐高温、釉色丰富等特点,广泛应用于食器、装饰、科学等领域。日用陶瓷有以下优点:第一,易于洗涤和保持洁净;第二,热稳定性较好,传热慢,具有经受一定温差的急热骤冷变化时不易炸裂的性能,且用来盛装沸水或滚烫的食物,端拿时不太烫手;第三,化学性质稳定,经久耐用;第四,瓷器的气孔极少,吸水率很低,用日用瓷器储存食物,严密封口后,能防止食物中水分挥发、渗透及外界细菌的侵害;等等。因此日用瓷器长期以来为广大人民群众所喜爱和使用。但是传统的陶瓷器皿存在着力学性能差的缺点,不抗震耐摔、抗冲击性差,在外力冲击作用下容易破碎。随着市场的需求,例如洗碗机用陶瓷餐具、陶瓷刀具、陶瓷材质的研磨器皿等对材料的强度、抗冲击性能提出了更高的需求,陶瓷刀具有耐磨、高密度、高硬度、不会藏污纳垢、清洗容易等优点,具有许多金属制刀具无法取代的特性本文档来自技高网...
一种陶瓷器皿强度检测装置及方法

【技术保护点】
一种陶瓷器皿强度检测装置,其特征在于,包括第一光电耦合器、第二光电耦合器和计时器,所述第一光电耦合器包括第一光源和第一光敏元件,第二光电耦合器包括第二光源和第二光敏元件,第一光电耦合器和第二光电耦合器均连接至计时器,测试件穿过第一光电耦合器和第二光电耦合器产生的脉冲信号作为计数器的闸门,得到计数值N

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷器皿强度检测装置,其特征在于,包括第一光电耦合器、第二光电耦合器和计时器,所述第一光电耦合器包括第一光源和第一光敏元件,第二光电耦合器包括第二光源和第二光敏元件,第一光电耦合器和第二光电耦合器均连接至计时器,测试件穿过第一光电耦合器和第二光电耦合器产生的脉冲信号作为计数器的闸门,得到计数值Nx,第一光电耦合器的第二光电耦合器距离为定距L。2.根据权利要求1所述的陶瓷器皿强度检测装置,其特征在于,所述第一光源和第一光敏元件的连线、第二光源和第二光敏元件的连线、以及陶瓷器皿的测试面相互平行。3.根据权利要求1所述的陶瓷器皿强度检测装置,其特征在于,所述第一光电耦合器的第二光电耦合器距离为定距L=10cm。4.根据权利要求1-3任意一项所述的陶瓷器皿强度检测装置的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:将待测的陶瓷器皿受力面放置在与第一光电耦合器和第二光电耦合器均平行的位置;步骤二:将测试件以一定的速度撞击待测的陶瓷器皿,先经过第一光电耦合器,然后经过第二光电耦合器,与待测的陶瓷器皿撞击后,再依次经过第二光电耦合器和第一光电耦合器,求解两次经过第一光电耦合器和第二光电耦合器的延时和v10和v1,其中,v10为测试件撞击待测的陶瓷器皿前的速...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱铁军黄凯
申请(专利权)人:安徽工程大学
类型:发明
国别省市:安徽,34

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