延迟故障的测试向量集的生成方法技术

本发明专利技术公开了一种延迟故障的测试向量集的生成方法，涉及集成电路可测性设计领域。所述方法包括步骤：根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合；根据所述后继集合，将所述触发器进行分组，按组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，根据所述前驱集合，将所述扫描段通过异或门网络连接到扫描输出端；分阶段对所述扫描输入端进行分组连接，通过ATPG工具生成测试向量集。所述方法，通过对触发器进行分组，以及分阶段生成测试向量集的方式，显著减小了最终的测试向量集，减少了测试数据量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路可测性设计领域，特别涉及一种。
技术介绍
由于芯片封装以后对芯片的内部电路无法直接访问，因此对芯片的测试采用的方法为在芯片的输入端置入测试向量，并在芯片输出端收集测试响应。将实际所得测试响应与无故障电路所应得测试响应进行比较，从而判断芯片电路有无故障。在芯片设计的过程中，需要采用一定的方法生成用于后续时序测试的测试向量集，这些测试向量集被称为延迟故障的测试向量集。现有的，比如基于多扫描链的测试生成方法，一般都存在测试向量集过于庞大，测试数据量过多的问题。
技术实现思路
(一 )要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是如何提供一种， 以克服测试向量集过大，测试数据量过多的问题。( 二 )技术方案为解决上述技术问题，本专利技术提供一种，其包括步骤B 根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合；C:根据所述后继集合，将所述触发器进行分组，按组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；D 所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，根据所述前驱集合，将所述扫描段通过异或门网络连接到扫描输出端；E 分阶段对所述扫描输入端进行分组连接，通过ATPG工具生成测试向量集。优选地，在所述步骤B之前还包括步骤A 输入实物电路的网表文件，构建两帧电路模型。优选地，所述步骤A具体包括步骤Al 输入实物电路的网表文件；A2:根据所述实物电路得到第一复制电路和第二复制电路，切断所述第一复制电路和第二复制电路的触发器；A3:将所述第一复制电路中触发器的输入连接所述第二复制电路中相应触发器的输出，以构建所述两帧电路模型；优选地，所述网表文件包括所述电路中所有门的连接关系。优选地，所述步骤B具体包括步骤Bl 对所述第一复制电路的输入PI，计算其可以到达的所述第二复制电路的输出 PO的集合R(PI)，计算所述第二复制电路中与所述输入PI对应的信号线ΡΓ可以到达的所述第二复制电路的输出PO的集合R(PI')；B2:所述集合R(PI)与集合R(PI')的并集构成所述输入PI对应的触发器的后继集合DR(PI)；B3 对所述第二复制电路的输出P0，计算可以到达所述输出PO的所述第一复制电路的输入PI的集合Ι(Ρ0)，所述第一复制电路中与所述输出PO对应的信号线记为PO'，计算可以到达所述PO'的所述第一复制电路的输入PI的集合I (PO')；B4 所述集合I (PO)与所述集合I (PO')的并集构成所述输出PO对应的触发器的前驱集合DI (PO)。优选地，所述步骤C具体包括步骤Cl 将所述触发器分为g个触发器组，每个触发器组中的任意两个触发器的后继集合没有交集；C2 按照所述触发器组构造以扫描输入端为根节点的扫描树。优选地，所述步骤C2具体包括步骤C21 判断触发器组的个数g是否大于扫描输入端的个数n，如果大于，执行步骤 C22，否则，执行步骤C26 ；C22 任意选择η个触发器组，按组分别连接到每个扫描输入端，构成所述扫描树的第一层；C23 判断g减去η的差值是否大于η，如果大于，执行步骤C24，否则，执行步骤 C25 ；C24 从剩余的触发器组中任意选择η个触发器组，按组分别连接到所述扫描树中上一层的触发器，修改g的值为g减去η的差值，执行所述步骤C23 ；C25:将剩余的触发器组，按组分别连接到所述扫描树中上一层的触发器，结束所述步骤C2 ；C26:任意选择g个扫描输入端，将g个触发器组按组分别连接到每个扫描输入端。优选地，所述步骤D具体包括步骤Dl 所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，两个扫描段中处于所述扫描树中同一层的两个触发器构成触发器对；D2 将满足条件的扫描段通过异或门连接；所述条件是指互相连接的扫描段中的任意两个扫描段的任一触发器对中的两个不同触发器的前驱集合没有交集；D3 将末端的异或门连接扫描输出端。优选地，所述步骤E具体包括步骤El 将每4个扫描输入端一组连接在一起，通过ATPG工具为可测延迟故障生成第一测试向量集，判断是否存在不可测延迟故障，如果存在，执行步骤E2，否则将所述第一测试向量集做为最终测试向量集，退出执行；E2 将每两个扫描输入端一组连接在一起，通过ATPG工具为可测延迟故障生成第二测试向量集，判断是否存在不可测延迟故障，如果存在，执行步骤E3，否则，将所述第一测试向量集与所述第二测试向量集的并集做为最终测试向量集，退出执行； E3 将每个扫描输入端做为一组，通过ATPG工具为可测延迟故障生成第三测试向量集，将所述述第一测试向量集、第二测试向量集和第三测试向量集的并集做为最终测试向量集，退出执行。 优选地，在所述步骤El中，如果分组时存在剩余扫描输入端不足4个的情况，将剩余扫描输入端做为一组连接在一起；在所述步骤E2中，如果分组时存在剩余1个扫描输入端的情况，将所述剩余的1 个扫描输入端做为一组。(三)有益效果本专利技术的，通过对触发器进行分组，以及分阶段生成测试向量集的方式，显著减小了最终的测试向量集，减少了测试数据量。附图说明图1是本专利技术实施例所述的流程图；图2是两帧电路模型说明示意图；图3是扫描树的连接结构示意图。具体实施例方式下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。图1是本专利技术实施例所述的流程图。如图1所示，所述方法包括步骤步骤A 输入实物电路的网表文件，构建两帧电路模型。所述步骤A具体包括Al 输入实物电路的网表文件，所述网表文件包括所述电路中所有门的连接关系。A2:根据所述实物电路得到第一复制电路和第二复制电路，切断所述第一复制电路和第二复制电路的触发器。A3:将所述第一复制电路中触发器的输入连接所述第二复制电路中相应触发器的输出，以构建所述两帧电路模型。图2是两帧电路模型的示意图。如图2所示，左侧第一复制电路中触发器的输入 PPOs构成第一复制电路的输出，右侧第二复制电路中相应触发器的输出PPIs构成第二复制电路的输入。因此，将左侧第一复制电路中触发器的输入PPOs连接右侧第二复制电路中相应触发器的输出PPIs，实际上就是将第一复制电路的输出连接第二复制电路的输入。构建两帧电路模型的方法属于公知技术，在此不再赘述。步骤B 根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合。所述步骤B具体包括步骤Bl 对所述第一复制电路的输入PI，计算其可以到达的所述第二复制电路的输出PO的集合R(PI)，计算所述第二复制电路中与所述输入PI对应的信号线ΡΓ可以到达的所述第二复制电路的输出PO的集合R(ΡΓ )。步骤B2:所述集合R (PI)与集合R(PI')的并集构成所述输入PI对应的触发器6的后继集合DR (PI)。步骤B3 对所述第二复制电路的输出P0，计算可以到达所述输出PO的所述第一复制电路的输入PI的集合I (PO)，所述第一复制电路中与所述输出PO对应的信号线记为 PO'，计算可以到达所述PO'的所述第一复制电路的输入PI的集合I (PO')；步骤B4 所述集合I (PO)与所述集合I (PO')的并集构成所述输出PO对应的触发器的前驱集合DI (Po)。需要说明的是，所述第一复制电路和第二复制电路都是由所述实物电路复制得到，每一个所述实物电路中的触发器对应所述第一复制本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种延迟故障的测试向量集的生成方法，其特征在于，包括步骤：Ｂ：根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合；Ｃ：根据所述后继集合，将所述触发器进行分组，按组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；Ｄ：所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，根据所述前驱集合，将所述扫描段通过异或门网络连接到扫描输出端；Ｅ：分阶段对所述扫描输入端进行分组连接，通过ＡＴＰＧ工具生成测试向量集。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：向东，陈振，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：11