本发明专利技术公开了一种可降低噪声的边界扫描测试方法和装置，首先根据测试内容生成原始测试向量，对原始测试向量进行处理得到新测试向量，将新测试向量施加到被测对象，同时获取响应向量，将新增测试向量对应的响应向量提取出来作为最终有效分析向量，进行边界扫描测试诊断。该装置包括原始测试向量生成模块、新测试向量生成模块、测试实施模块、有效响应向量获取模块和诊断分析模块。本发明专利技术可有效降低边界扫描测试引起的噪声，提高测试的准确性，实现方法简单，无需增加任何测试硬件且故障覆盖率高。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路测试
，尤其涉及一种可降低噪声的边界扫描测试方法和装置。
技术介绍
随着微电子技术进入超大规模集成电路时代，电路的高度复杂性及多层印制板、 表面贴装、圆片规模集成和多芯片模块技术在电路系统中的运用，使得电路节点的物理可 访问性正逐步削减以至于消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试费用在电路和系统 总费用中所占的比例在不断上升。针对电路的器件布局日益复杂、元器件复杂的封装、密集 的管脚；线路板小型化、线越来越细等这些问题就会给电路的线路检测、线路板故障的检查 以及排除带来很大的麻烦，用传统的线路检测设备已经很难实现，而IEEE1149. 1 一边界扫 描测试(Boundary Scan)技术是解决这些问题的最优方法。边界扫描测试是一种可测试结构技术，它采用集成电路的内部外围所谓的“电子 引脚”即边界来模拟传统在线测试的物理引脚，对器件内部进行扫描测试。它是在芯片 的I/O端上增加移位寄存器，把这些寄存器连接起来，加上时钟复位、测试方式选择以及扫 描输入和输出端口，而形成边界扫描通道。IEEE 1149. 1标准规定了一个四线串行接口， 第五条线是可选的，将该接口称作测试访问端口 TAP，用于访问复杂的集成电路，例如微处 理器、DSP (Digital signal processor，数字信号处理器)、ASIC (Application Specific Integrated Circuits，专用集成电 各)禾口 CPLD (Complex Programmable Logic Device, 杂的可编程逻辑元件)等。在测试数据输入引线TDI上输入到芯片中的数据存储在指令寄 存器中或一个数据寄存器中。串行数据从测试数据输出引线TDO上输出。边界扫描逻辑由 测试时钟TCK上的信号计时，而且测试模式选择信号TMS控制驱动TAP控制器的状态。但是对于测试引脚数特别多的ASIC器件来说，边界扫描测试可能会引起较大的 测试噪声。边界扫描需要对所测试的ASIC器件上的多个引脚的电平同时进行改变，所改变 的引脚数可能大大超过ASIC器件在正常运行时改变的引脚数。这种大量引脚电平的同时 改变引入了噪声，在集成电路内部的地向提供电源的电路板的地进行转移时发生。ASIC芯 片的引脚数越多，噪声越明显。这些噪声的存在可能会导致器件的误动作，无法检测电路故 障，或者检测结果不准确。现有的降低边界扫描测试信号噪声的方法主要有以下几种第一种是将电路板分 害ι]，每个部分分别测试，不能检测各部分之间的故障，故障覆盖率低，且增加测试的复杂度。 第二种是采用手工方法生成测试向量，保证测试向量的变化个数不超过器件的临界数，这 种方法费时又费力，对测试人员的专业技术能力要求很高，不适合常规测试应用。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是，提供一种可降低噪声的边界扫描测试方法和装置， 在不增加测试复杂度的情况下，降低边界扫描测试信号噪声，提高测试的准确性。本专利技术采用 的技术方案是，所述可降低噪声的边界扫描测试方法，包括步骤一，根据边界扫描测试内容生成原始测试向量；步骤二，在原始测试向量中，紧邻每列并行测试向量之后增加至少一个与其相同 的并行测试向量，得到新测试向量，每列并行测试向量与其后增加的相同并行测试向量组 成并行测试向量组；步骤三，对测试对象施加新测试向量，获取响应向量；步骤四，在响应向量中提取未受噪声干扰的向量得到有效响应向量；步骤五，基于有效响应向量进行诊断分析，获得边界扫描测试结果。进一步的，在进行互连测试时，所述步骤一包括根据互连测试的内容采用走步“1”算法生成原始测试向量。进一步的，在进行簇测试时，所述步骤一包括根据测试对象的逻辑功能设置原始测试向量和预期响应向量。进一步的，步骤二中，在原始测试向量中，紧邻每列并行测试向量之后增加至少一 个与其相同的并行测试向量，得到新测试向量，具体包括将原始测试向量与全“ 1”向量进行克罗内克积运算得到新测试向量。进一步的，所述全“1”向量的行数为1，所述全“1”向量的列数为2以上的整数。进一步的，步骤四中，在响应向量中提取未受噪声干扰的向量得到有效响应向量， 具体包括从响应向量中依次提取每一并行测试向量组对应的并行响应向量组中非首列的 任一列并行响应向量，组成有效响应向量。进一步的，所述全“1”向量的行数为1，所述全“1”向量的列数为2 ；所述步骤四中，在响应向量中提取未受噪声干扰的向量得到有效响应向量，具体 包括从响应向量中依次提取偶数列的并行响应向量组成有效响应向量。进一步的，在进行互连测试时，步骤五，基于有效响应向量进行诊断分析，获得边 界扫描测试结果，具体包括判断原始测试向量和有效响应向量是否一致，若一致，则测试对象的互连网络工 作正常，否则测试对象的互连网络存在故障。进一步的，在进行簇测试时，步骤五，基于有效响应向量进行诊断分析，获得边界 扫描测试结果，具体包括判断预期响应向量和有效响应向量是否一致，若一致，则测试对象工作正常，否则 测试对象存在故障。本专利技术还提供一种可降低噪声的边界扫描测试装置，包括原始测试向量生成模块，用于根据边界扫描测试内容生成原始测试向量；新测试向量生成模块，用于在原始测试向量中，紧邻每列并行测试向量之后增加 至少一个与其相同的并行测试向量，得到新测试向量，每列并行测试向量与其后增加的相 同并行测试向量组成并行测试向量组；测试实施模块，用于对测试对象施加新测试向量，获取响应向量；有效响应向量获取模块，用于在响应向量中提取未受噪声干扰的向量作为有效响应向量； 诊断分析模块，用于基于有效响应向量进行诊断分析，获得边界扫描测试结果。采用上述技术方案，本专利技术至少具有下列优点本专利技术所述可降低噪声的边界扫描测试方法和装置，首先根据测试内容生成原始 测试向量，对原始测试向量进行处理得到新测试向量，将新测试向量施加到被测对象，同时 获取响应向量，将新增测试向量对应的响应向量提取出来作为最终有效分析向量，进行边 界扫描测试诊断。该装置包括原始测试向量生成模块、新测试向量生成模块、测试实施模 块、有效响应向量获取模块和诊断分析模块。本专利技术可有效降低边界扫描测试引起的噪声， 提高测试的准确性，实现方法简单，无需增加任何测试硬件且故障覆盖率高。附图说明图1为一个完整的边界扫描测试系统组成示意图；图2为本专利技术第一实施例互连测试中被测板正常工作时连接方式示意图；图3为本专利技术第一实施例所述可降低噪声的边界扫描测试方法流程图；图4为本专利技术第二实施例簇测试中被测板正常工作时连接方式示意图；图5为本专利技术第二实施例所述可降低噪声的边界扫描测试方法流程图；图6为本专利技术第三实施例所述可降低噪声的边界扫描测试方法流程图；图7为本专利技术第四实施例所述可降低噪声的边界扫描测试装置组成示意图。具体实施例方式为更进一步阐述本专利技术为达成预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图 及较佳实施例，对本专利技术进行详细说明如后。对于一个完整的边界扫描测试系统，主要包括计算机、边界扫描控制器、被测板， 如图1所示，计算机中运行着与边界扫描控制器配套的边界扫描测试软件。边界扫描控制 器可以选用北京航天测控技术开发公司的USB接口的AMC7103，也可以选用美国Corelis公 司的产品本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种可降低噪声的边界扫描测试方法，其特征在于，包括：步骤一，根据边界扫描测试内容生成原始测试向量；步骤二，在原始测试向量中，紧邻每列并行测试向量之后增加至少一个与其相同的并行测试向量，得到新测试向量，每列并行测试向量与其后增加的相同并行测试向量组成并行测试向量组；步骤三，对测试对象施加新测试向量，获取响应向量；步骤四，在响应向量中提取未受噪声干扰的向量得到有效响应向量；步骤五，基于有效响应向量进行诊断分析，获得边界扫描测试结果。
【技术特征摘要】
一种可降低噪声的边界扫描测试方法，其特征在于，包括步骤一，根据边界扫描测试内容生成原始测试向量；步骤二，在原始测试向量中，紧邻每列并行测试向量之后增加至少一个与其相同的并行测试向量，得到新测试向量，每列并行测试向量与其后增加的相同并行测试向量组成并行测试向量组；步骤三，对测试对象施加新测试向量，获取响应向量；步骤四，在响应向量中提取未受噪声干扰的向量得到有效响应向量；步骤五，基于有效响应向量进行诊断分析，获得边界扫描测试结果。2.根据权利要求1所述的边界扫描测试方法，其特征在于，在进行互连测试时，所述步 骤一包括根据互连测试的内容采用走步“ 1 ”算法生成原始测试向量。3.根据权利要求1所述的边界扫描测试方法，其特征在于，在进行簇测试时，所述步骤 一包括根据测试对象的逻辑功能设置原始测试向量和预期响应向量。4.根据权利要求1所述的边界扫描测试方法，其特征在于，步骤二中，在原始测试向量 中，紧邻每列并行测试向量之后增加至少一个与其相同的并行测试向量，得到新测试向量， 具体包括将原始测试向量与全“ 1”向量进行克罗内克积运算得到新测试向量。5.根据权利要求4所述的边界扫描测试方法，其特征在于，所述全“1”向量的行数为 1，所述全“1”向量的列数为2以上的整数。6.根据权利要求1所述的边界扫描测试方法，其特征在于，步骤四中，在响应向量中提 取未受噪声干扰的向量得到有效响应向量，具体包括从响应向量中依次提取每一并行测试向量组对应的并行响应向量组中非首列的任一 列并...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐鹏程，杜影，王石记，安佰岳，
申请(专利权)人：北京航天测控技术开发公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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