【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及超大规模集成电路(Very Large Scale Integrated circuits, VLSI)，设计领域，主要是关于模拟验证中的覆盖评估技术，特别是涉及验证向 量的优化方法及装置。
技术介绍
随着集成电路的广泛应用，对功能正确性及速度、功耗、可靠性等都有严 格要求。其中，功能正确性是最基本的要求。2003年度的国际半导体技术发 展报告指出，验证已经成为集成电路设计流程中开销最大的工作。验证不仅是 研究领域中的热点，它与企业的经济效益也是直接相关的。因此，必须要有高 效的验证的设计方法来将集成电路的设计错误发生的可能性降低到最小，同时 又要縮短产品面市时间，从而实现经济目标。一般来讲，验证的设计方法包括两大类模拟验证和形式验证。由于状态 爆炸等一系列问题的存在，形式验证难以应用到大型集成电路的设计验证当中去，因此模拟验证成为当前VLSI设计验证中的主要技术；而由于模拟验证无法证明设计的正确性，只能说明到某个阶段没有发现错误，在实际应用中又常 常需要结合覆盖评估技术。在模拟验证中，覆盖评估通过定义各种各样的覆盖 率信息可以在一定程度上衡量验证...
【技术保护点】
一种验证向量的优化方法，其特征在于，包括下列步骤： 步骤１００，根据仿真后的初始验证向量，获得所述初始验证向量对所定义的功能点的覆盖率的信息，初始化已覆盖功能点列表，构建分类模型； 步骤２００，将新生成的验证向量送入所述分类模型 ，预测新生成的验证向量对所述功能点的覆盖率，并将使得对所述功能点的覆盖率提高的新生成的验证向量进行仿真，根据仿真结果更新功能点列表，得到覆盖率较高的验证向量。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郭崎，沈海华，王朋宇，
申请(专利权)人：中国科学院计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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